Chip123 科技應用創新平台

標題: 9/21~22 全方位泛歐數位無線電話(DECT)整合測試研討會 [打印本頁]

作者: globe0968    時間: 2011-9-11 04:54 PM
標題: 9/21~22 全方位泛歐數位無線電話(DECT)整合測試研討會
無線射頻通訊技術不斷的演進,使得原本具有彈性與方面性的無線電話的使用更為普及,在工作與生活中儼然成為一項不可或缺的工具。而DECT技術的演進也從語音的傳遞延伸至低耗(DECT ULE)的各種應用,例如用於資料傳輸的Home Gateway設備等。面對此市場的成長需求、生產成本考量、低耗綠能環保及相關技術應用推陳出新的挑戰,成為目前各個數位無線電話生產廠商重要的因應課題。
4 _4 h, p* P6 }$ ^- O" e& ], e! n: R; ]2 z; S% {  i) j2 Y
歐洲著名儀器設備研發製造廠商RTX公司,除了積極參與DECT Forum制定相關規範外,也不斷的研發生產出能整合DECT/DECT6.0/CAT-iq無線電話產線生產的測試平台--RTX2011。此測試平台具備有可支援DECT、DECT6.0以及CAT-iq的技術相關產品。筑波科技(ACE)與RTX公司共同攜手舉辦目前業界最先進的無線電話整合系統測試研討會,當天的議程內容精彩豐富,從市場面、晶片供應商,以及生產製造整合方案都有專家分享與介紹。竭誠歡迎從事無線電話研發、生產製造等相關無線電話測試應用有興趣的RD/PL/PE/PM業界先進報名參加。) F9 R0 E1 U8 @( p4 w. ~& ]

3 a" o: b* ]( N& e& i" N" `! K+ X9 r. `主要議程:$ E$ R5 C. t# Q; }
Excellence of Wireless Production Test with ATE System( B# w" p% m/ \6 Q7 E" k7 \
DECT Technology & Market Trend
! w* C( Q# a* IDECT Chips & Application Overview; ]" z3 _5 E. K+ n+ W0 i6 b8 Q; Z
DECT Test Solution & Live Demo
# u0 u1 v6 t; k+ {Smart ATE – RTX2300 Overview" r0 P5 k: o+ n* K" X

( X9 u  K7 n2 W* ]日期地點:   [& r) r8 Y" {# v
9/21 (三) 新竹-竹北台元科技園區 筑波科技會議廳
% g: O" Z! J: c, o/ v9/22 (四) 台北-台大集思會議中心 柏拉圖廳
9 N4 i* H2 [( f$ c/ @! Y! Y9 {活動時間:PM13:00~PM17:00
* `8 w6 m' Y, z- R0 m線上報名:http://www.acesolution.com.tw




歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://www.chip123.com.tw/) Powered by Discuz! X3.2