Chip123 科技應用創新平台
標題:
12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班
[打印本頁]
作者:
itricollege
時間:
2011-12-2 01:52 PM
標題:
12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班
●主辦單位：工研院新竹學習中心
) q9 [* {1 T- M7 A! g
●舉辦日期：100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00，共2天
& o% t: L$ Q/ M5 G/ ~. e" M' V
●舉辦地點：新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
3 r# ?, f& S; P$ Q7 A
●課程費用：5,000(含稅)
$ x- r+ g# p3 G) W, d
●報名截止日期：100/12/01(四)
% k5 ?/ N8 u3 H- |; z) _) _7 J3 i5 @* N
●開班人數：10人以上 (最低開班人數)
q; \2 L. V7 H7 b
●退費標準：如未達開班人數，則學員自費金額無息退還；課程開始當天不得以任何因素要求退費。
/ Y; X+ _: p% u8 z8 q2 [
●報名方式： 線上報名：請上產業學院學習服務網
8 i+ s* `; t3 p( ~) X; Z
0 v" Z c; B' A
■課程目標
2 d8 N3 I) ]: a
8 L% B; p8 A, l% L& t Y
本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字，一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間，分析上千筆的專利，歸納出主要競爭者的佈局重點，找出本身專利的價值點，讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受，並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
# s+ V* G9 q( e
# k, @: a1 R' ~7 _1 f
■課程大綱
7 ~0 J) T# Q* a: n3 C7 s
第一天：12/08(四)9:00~16:00
9 c: B P. p' g, G' E
專利檢索入門與檢索規畫
0 v! N, |; q7 |: d6 A; h
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
7 h% Q& p' M- f+ O, @% W8 b
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則
# I$ u" n8 {9 r0 z
V0 o2 V$ T- S8 J1 B
第二天：12/09(五) 9:00~16:00
% L3 y' ^, Y: T, |+ u e
專利分析可提供之情報
( k$ S/ t- `+ P& O+ e! S4 E! d
專利地圖試做範例
9 k; n# V6 N6 }4 b/ O0 e! E
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
" O0 D3 e5 D: A. h6 }5 [/ Z
＊主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
作者:
itricollege
時間:
2011-12-2 01:52 PM
■講師介紹
6 _" W4 M. ^8 I& D/ ~
吳俊逸 博士
" R4 Y: D; y$ Y. M, F: `
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面，提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢，協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
! j4 H# N& d6 Q/ z8 I) h$ _
現任：繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
' m& r& H. {: c1 E! N
學歷：國立清華大學工業工程與工程管理 博士
, n9 u3 K+ w5 [' k
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
# y- `- o3 P: T9 U+ [% u
+ t* m. S9 X+ e
專長與經驗：
' F- @1 S8 z+ M- q
專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
8 T2 i% u' a6 B" J( O! Q
專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
+ G/ U+ p5 s8 h1 e$ T7 p+ q: x
專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
0 ]3 y$ ?1 s2 e1 N/ W6 |
專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
' Q! g. J* m# Y: I2 F
7 G5 M$ M" c a$ T
經歷：
. { z3 f+ F' B+ C" F! @/ U$ m
- G" h% C' E% P7 _, `7 N
工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人
' Q: U% O2 X- e* l' E5 H* B
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
9 N0 Y3 B. y6 R9 e U( @1 M& J0 ~
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎，輔導志聖工業股份有限公司
作者:
globe0968
時間:
2012-6-20 09:28 AM
標題:
資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」
(20120619 17:48:37)在知識經濟時代，以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢，同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器！專利地圖分析的目的，不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢，更重要的是能激發創新發想，試圖發掘可以改進的技術方向，作為公司的技術策略規劃的依據；此外，更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
! a$ i9 E- h( E: K, O
. c# X3 q! j4 U: T" W# V% o+ t! F
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才，資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」，邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務，並結合業界案例研究，為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
7 @8 j* m5 y v* i2 |, s
4 p8 b4 O/ l, n& Q* B
本課程詳細訊息及報名網址為
http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm
，或電(02)6631-6533林小姐，6/29前報名即享特惠價。
/ i& Z; X+ i; s& V2 e1 x2 g% j, v
6 [1 v% X! _( R; y- t3 Z
訊息來源：財團法人資訊工業策進會
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://www.chip123.com.tw/)
Powered by Discuz! X3.2