|
C+ D4 N2 ]9 ?9 Z% C" O03.積體電路晶片在微光顯微鏡分析下的影像, E9 S. s7 C0 T
( R: y+ x$ s# A% {, l/ |: U「南台科大材料與故障分析中心」投資 3,800 萬元添購高效能聚焦離子束顯微鏡,硬體設備投資超過一億元以上。並整合該校現有的貴重儀器設備,例如:微光顯微鏡、穿透式電子顯微鏡、掃瞄試電子顯。微鏡、傅立葉遠紅外線分析儀等先進科技設備。& B% E% Z% h, [, X9 p+ }; X
! N7 I& Y& x0 {; |" d2 i$ }0 q; _( `邱裕中教授指出,該中心異於一般業界單純的元件故障分析用途,除可協助業界找出元件故障原因外,並可提出改進方案,及從檢測到問題排除的完整方案。透過產學計畫的模式,該中心將提供南部 IC 及光電產業,優質的材料與元件故障率分析之技術服務。1 e: l+ F0 T J2 _7 {. q) X& ]
1 i1 |+ v* G; i d/ A, s
資料來源:Southern Taiwan University http://www.stut.edu.tw/
1 r# J" R: p8 d: R9 E
* b9 K- q: \; X& F4 n" h: W訊息來源:南台科技大學 |
本帖子中包含更多資源
您需要 登錄 才可以下載或查看,沒有帳號?申請會員
x
|