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寬廣動態範圍能因應更廣泛的應用
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% p( i3 _' a7 Q3 ^% J, C+ y& b透過TSP-Link並連兩台2651A,可將系統的電流範圍從50A提昇到100A。這比競爭者的最佳方案高出兩倍半到五倍。兩台串聯時,電壓範圍從40V提高到80V。包含於全系列2600A系列儀器中的嵌入式測試腳本處理器(TSP®)讓使用者將多個單元整合作為單台儀器使用,進而簡化測試運作。2651A的內建觸發控制器能夠讓所有連接的通道在500奈秒內同步運作;2651A的這些能力提供業界所需最寬廣的的動態範圍,適合於各種大電流、大功率的測試應用,包括:
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{0 p6 Q" P" K( X- S功率半導體、高亮度LED(HBLED)與光元件特性分析和測試 0 Q( A, ~) _: D. _' y
GaN、SiC及其它複合材料和元件的特性分析
; Q4 h% C e C, _/ x半導體介面溫度特性分析 + I7 l3 K X% _5 u9 v. |7 c% `
可靠度測試
" l+ b* L, G. C高速、高精度數位化 / i8 x& y0 g/ K/ k
電致遷移現象(Electromigration)研究 |
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