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Micro LED對於微米級缺陷的承受能力相當低,因為轉移和修復技術非常昂貴。為了減輕對成本和工廠產量的不利影響,Micro LED檢測要求要高得多。可能需要亞微米級別的靈敏度,以確保沒有缺陷漏網。與mini LED相比,檢測步驟也可能更多,以確保所有系統缺陷都被識別並根除。因此,晶圓經過其他技術步驟,例如光刻、蝕刻和清潔,這可能增加系統和隨機缺陷。諸如形成不良的發射區域、表面顆粒等缺陷對於LED效率都有直接影響,導致暗淡或失效畫素。需要捕獲這些缺陷並對其進行分類,以便通過相關性統計和缺陷源分析來確定它們與良率之間的相關性,並且降低它們的密度。
[議程安排]
時間 | 內容 | 主講人 | 09:40~10:00 | 報到 | | 10:00~11:00 | 一、Micro LED顯示器產業現況與應用潛力
1.Micro LED市場趨勢與量產技術現況
2.未來Micro LED應用潛力與產業機會 | 晶元光電
鄧 處長 | 11:10~12:10 | 二、面對Micro LED製程所需的轉移與良率檢測技術分析
1.Micro LED轉移技術與定位技術現況
2.高良率化課題與檢技術分析 | 台北科技大學
光電工程系
陳 教授12 | 12:10~13:10 | 午餐 | | 13:10~14:40 | 三、針對Micro LED色度、均一性檢測的技術現況與動向
1.Micro LED的色域、色度可再現性範圍分析
2.針對Micro LED色度、均一度檢測的技術課題 | TOPCON Technohouse光計測部
營業事業群經理
西川先生
*日語演說中文口譯* | 14:40~15:00 | 休息時間 | | 15:00~16:30 | 3. 針對Micro LED的最新光學檢測方法
4.Micro LED的未來展望 | TOPCON Technohouse光計測部
營業事業群經理
西川先生
*日語演說中文口譯* |
[報名資訊]- 主辦單位:社團法人台灣電子設備協會
- 協辦單位:互光產業
- 上課地點:工業技術研究院產業學院台北學習中心4樓(台北市和平東路二段 106號)*實際地點依上課通知為準
- 上課時間:2019/03/08(五),09:30~16:30,共計5小時。
- 報名日期:2019/02/12~2019/03/07 截止
- 報名費用:原價:4,500元/人(費用請勿另扣除郵資及匯兌手續費)
- 課程優惠:
- 1 同公司2人以上同行享每人NT$3,500元
- 2.TEEIA會員享每人NT$3,000元。
- 3.2/28前報名且完成繳費者,享早鳥優惠價$3,800元。
- ※請於開課前完成繳費,課程現場繳費 ,恕不享以上優惠資格。※
- 聯絡人:鄭小姐 / 02-2729-3933#22 / anne@teeia.org.tw
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