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根據經濟部統計，2011年半導體產值已超過 1.5 兆台幣，加上新製程及 IC 技術不斷推進，半導體廠商每年需投入高達10% 的總體營收在設備上，伴隨著 2012 年近期景氣愈趨明朗，產線滿載的情形下，「產品測試」端的測試速度及測試品質亦相對被要求，這些無疑都是即將要面臨的挑戰。
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' _8 `& \! g& ]若將產品的測試流程放大來看， R&D進行 EVT、DVT，進而再交由產線進行PVT，若 R&D 和產線使用的測試設備不同，除了增加實質的測試成本，也增加了雙方溝通的時間成本；一般統計若 R&D 與測試端採用相同的測試設備，將可縮減一半的資金成本，且整體時間支出也將縮短2.5倍以上。8 a3 u$ i/ a" L+ O1 |4 C! W2 b. T
+ y& g, O8 R, a: ~6 f* h% x( G為了幫助半導體廠商降低測試成本與時間，美商國家儀器 (National Instruments, NI)將於本研討會介紹如何將PXI平台應用在R&D的研發驗證與產線的大量生產測試系統，讓 R&D 端與產線端可以使用相同的測試系統，以大幅減少測試成本，並藉由PXI平台同步測試的優勢來提昇測試速度，同時分享如何用 PXI 平台進行多種無線通訊協定的混合測試。- g) F: P8 W. `; s" P
5 i$ t* x% r" C$ v6 i此次研討會，將於2012年4月10日於新竹科技生活館舉辦，歡迎各界相關專業人士一同與會，和NI一起體驗 PXI 所帶來的超速測試和一機到底的量測新風潮。
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- V& i0 d% P' `6 B; c$ a活動相關報名方法如下，歡迎大家踴躍報名！) y/ H5 G- o/ `/ z0 D1 m. d
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【活動報名方法】' z. Q5 W( ]/ K" i
活動地點：新竹科技生活館2F愛因斯坦廳 (新竹市科學園區工業東二路 1號)4 _/ h' |: m, t* N9 V. p8 {0 I
活動日期：2012.4.10 (二) 09:00 ~ 16:50, b2 l/ q& f) e/ o% R0 _( Z/ B
電話報名 : 02-2377- 2222 # 5555
: F2 U; j- ?7 I4 O0 M4 {3 T網路報名：http://ni.ehosting.com.tw/events ... digitimes/edm02.asp |
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狗仔卡
發表於 2012-3-20 17:45:17
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