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[問題求助] 加入T18 ESD IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好8 Y5 P  h5 G/ I6 i
$ s  d1 {- s; c4 u) a& ?  c
在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護% m: E. T0 _( ?$ q% E$ W1 J. G5 \

  X1 E5 [. S  N7 k但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
8 b9 h6 a* ]- B& C) F" Q
1 b- w) K" ?& ~, k- F- k造成LVS驗證顯示短路
# r  P" o; n7 d4 K- q5 o' t) q; @3 w
因為用的是TSRI給的library
  \8 j& W9 u) k8 M( ^& |8 J, k4 d% h4 N6 J% h, r
發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的4 P  ~# h  k( F! v6 D2 ?; J

; K7 R, X4 O4 ^* E7 u* @而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ5 [& c, [8 H+ W# d6 s% _

* N# j$ ^9 c  g3 E是stream in 的時候就有問題了嗎?  n3 P3 x! f. ]
8 v7 b. H' M+ z# Y4 p
請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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