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Tektronix 推出最完整的自動化 PCI Express 3.0 Tx、Rx測試套件) t& A" f& y. {
全方位接收器和發射器解決方案,為矽晶、主機及儲存卡設計人員提供一次到位的 PCIe 3.0 測試和除錯功能8 _, z5 X, O- W; [ w
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【2012 年 11 月 7 日 台 北 訊】–全球示波器的領導製造商 Tektronix 日前宣佈,推出業界最靈活和最完整的自動化發射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 相容性測試和除錯測試解決方案,以因應 PCI Express3.0 標準。有了全新BERTScope 系列誤碼率分析儀的增強功能,以及 PCI Express 測試軟體,現在積體電路、主機板和卡端設計人員便能夠專注於 PCI Express3.0 測試工作。) M- {2 x+ l9 N) T
! J$ h- l9 G" z' V1 G" |" u每一代的 PCI Express 變得更快也更複雜,PCI Express 3.0 以 8 Gb/s 速度測試時涉及複雜的 Rx 壓力條件、BER 相容性測試,以及眾多的 TX 相容性測試,而完整的測試支援則還需要在設計失敗時能進行除錯。據最新消息指出,Tektronix 現在提供業界最完整的支援水準,如 PCI Express 3.0 的 PHY 層的自動化測試和除錯。( ]( W5 E+ Y( \/ t. u6 b3 n! K
! w8 E" P8 o! y$ R$ w, S" I0 {3 bTektronix 高效能示波器部門總經理 Brian Reich 表示:「PCIe3 的許多方面測試,如鏈結訓練和 Tx 等化特性是非常複雜的,也不容易被設計界理解。透過這一個強大的自動化套件,我們可以輕鬆進行複雜的 PCIe3 測試,並確保獲得更一致的結果。也就是說,像壓力眼狀圖校驗和發射器相容性測試這類時間長又複雜的測試,並非只有資深工程師才能執行。」, }7 e& G/ o! l: U/ b! s. Q
U5 G9 [: k) U自動化 PCIE3 Rx 測試,可根據 PCI-SIG 測試規格產生所需的壓力圖,現在包括時脈倍頻和眼狀圖張開度測試的完整支援。此外,DUT 迴路控制自動化,簡化了測試過程,並縮短獲得測試結果的時間。除可將預加強新增到壓力圖的全新 DPP125C 這些增強功能外,還有結合可變的 ISI 的全新 BSAITS125 整合干擾,以及新的 BSAPCI3 自動校驗、迴路和鏈結訓練軟體。其他組成完整 Rx 解決方案的元件,包括 Tektronix AFG3000 任意波形/函數產生器的共模干擾測試,以及世界級的 CR286A 系列時脈還原裝置的 PLL 迴路頻寬解決方案。換言之,BERTScope 這些補充功能並不需要協力廠商的附加元件就能進行。
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對於 PCIe3 Tx 測試,Tektronix 透過下列方式來增強其解決方案,將 PCI-SIG 的 SigTest 公用軟體 (適用於相容性測試),直接整合到 Tektronix DSA70000 系列數位示波器的 TekExpress 自動化平台系統上。透過這些整合,更新的 PCE3 軟體能自動測試儀器,並利用 SigTest 進行 DUT 控制、碼型驗證、資料擷取和分析,以及允許自訂多個 SigTest 測試結果報告,而且在相容性測試失敗時隨即提供除錯。 |
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