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知識饗宴 空中相會 歡迎參加 4月1日 10:00 - 11:30AM 安捷倫科技中文網路研討會" h* \7 X+ _7 P/ K- A0 a$ z" i
' ]2 ^1 [5 F6 N/ w9 ?8 D, d安捷倫科技誠摯邀請您參加將於2010年4月1日上午10:00-11:30舉行的中文網路研討會,主題為“新技術助您更快速和簡化FPGA測試和除錯”。$ ~. A- E9 m0 _% y. {: v( t
1 {1 Z4 t/ a; K: o: D4 d) Z$ u6 r) bFPGA晶片已成為數位設計中的核心元件。而Infiniium和InfiniiVision系列示波器正好是為除錯和量測FPGA而設計的,這些合適的工具對於類比、數位和新協議的分析都擁有優越的能力。這個研討會將介紹一些採用Xilinx FPGA的設計的量測例子。 : M9 a0 `+ v k" q, ~5 }9 o
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以下介紹是研討會有關FPGA設計和除錯方面的內容:
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! C2 P9 o% h: c y) Z7 b1. 關於安捷倫測試和量測設備如何應用FPGA和ASIC技術的例子。2 k: d5 J. s; A4 D
2. 利用混合信號示波器和核心除錯技術的基礎,以便快速量測(以秒計的) 內部信號新組合,但卻沒有停止FPGA的運作或改變裝置的時間。
( G1 c+ C. S! {3. 在30秒內設定示波器,以便觸發和解碼在FPGA和周邊晶片之間的串行通信匯流排。將會介紹的例子包括I²C、RS-232、SPI、USB和PCIe™。
$ H5 I0 C1 v: }. _. U7 Q( [4. 對高速串列訊號傳輸的特性。
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, V Z8 q5 {9 C6 |% S t% T歡迎上網報名,免費參加研討會。如果與會學員希望在網路研討會舉行前提問,請在填寫登記表時把問題事先發送給安捷倫。在參加研討會後填交回函表的與會者將可參加幸運抽獎,贏取iPod nano一部。
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, r! H- i f: A% x不要錯過與安捷倫科技專家即時交流的機會!: w8 D; C$ ~0 G- t' p: x) k
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