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面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快
7 B2 ?( c: J$ |$ D9 v0 }& L# eLabview還要寫寫修修, 等不及了.6 K' I2 t! I; X/ c6 T7 ~, E0 \: c
C3 F" \6 ?" g* I$ }2 B3 k通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用* J( y) h$ M) W0 ^% s
控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率) f& x9 y+ d4 A" u! X8 h$ e, u
以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput
8 Y/ n. u$ ~8 p& N最大化, 以降低test time overhead.
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+ e5 _( h8 ]# D4 ?9 Z2 H6 mLabview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
! j# f, ~$ _. m+ b/ o8 I1 J! T儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host: z, l0 |7 B* i& q
上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.9 L% R$ c% O! @
r* ?$ m$ A- r: c而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了.6 G5 d# T0 [2 q5 O* V7 T2 n; c
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) `, J% j! k, @# f- b0 D" G至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
B+ P3 `0 _( |) L; ?因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了5 {2 A+ Y" v& d* i
solution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,
" u: a! V$ F$ w" W! b' G0 J; X9 q向老闆提預算買solution的事要做了.
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0 i) O1 u8 G% Y" g& G4 q% x6 s6 H7 I而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system
8 ~& k7 |4 Y: k( e) j5 b測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的
! r$ F! \. V# W; E& [. @; ?0 u# s真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
7 @# Z$ i& _3 c: b解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了. |
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