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[教育訓練] 高级硬件测试、电源、信号完整性分析技术讲座

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發表於 2012-2-6 14:22:37 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
我司提供专业硬件技术方面培训服务,授课方式分企业内训和公开课两种,以下是课培训大纲信息供您参考,期待您的参与!
【咨询方式】 QQ:2608949760 (注明chip123培训咨询)       Email:2608949760@qq.com
【联 系 人】 刘小姐


● 硬件测试技术及信号完整性分析大纲

一、硬件测试概述

1.硬件测试的目的

2.硬件测试的意义

3.目前业界硬件测试的开展情况

4.在企业生产价值链中的地位

5.硬件测试对公司形象和发展的重要性

二、测试准备

1.检视

2.FMEA(故障模式影响分析)

3.故障处理

4.测试计划和测试用例

三、硬件测试种类与操作

1.指标测试

2.功能测试

3.容限测试

4.容错测试—FIT

5.长时间验证测试

6.可靠性数据预计

7.一致性测试

8.评审

四、硬件测试的级别

1.黑盒测试与白盒测试

2.单元测试

3.系统测试

五、可靠性测试

1.EMC

2.环境

3.安规

4.老化

六、测试问题

1.测试问题的确认

2.测试问题的定位

3.测试问题反馈方式和流程

4.测试问题跟踪和解决流程

七、测试效果评估

1.测试报告

2.评审归档

3.案例

4.测试方法总结

5.遗留问题处理

6.市场规模应用跟踪

7.产品故障率统计

八、测试规范制定

1.建立规范的重要性

2.需要哪些规范

3.规范的制定准则

九、测试人员的培养

1. 产品质量的主题负责人

2. 测试人员的目标和职责

3. 测试人员需要的技能

4. 测试人员的心态

5. 测试人员的等级认证

十、SI简介

1. SI的重要性

2. 学习SI的目的

3. SI的内容

4. 理想逻辑电压波形

5. 实际逻辑波形

6. 数据采样及时序的例子

十一、信号质量测试方法

1. 衡量信号质量的参数及其定义

2. 振幅参数的测量

3. 时间参数的测量

4. 共模信号的测量

5. 眼图的测量

十二、信号时序测试方法

1. 衡量时序的基本参数及其定义

2. 建立时间的测试方法

3. 保持时间的测试方法

4. 传输延迟的测试方法

5. SKEW的测试方法

十三、常见的SI问题

1. 信号质量与时序的关系

2. 最常见的三种信号问题

3. 反射

4. 串扰

5. 电源/地噪音

6. EMC/EMI跟SI关系

7. SI问题的影响

8. 产生SI问题的地方

9. 工艺与频率的关系

10. 工艺与SI的关系

十四、SI分析

1. 在设计流程中的SI分析

2. 前期分析

3. 后期分析

4. SI工程师的重要性

5. SI分析原则

6. 集中式电路和分布式电路模型

7. 如何选择模拟电路模型

8. 例子

十五、电子设计中的SI问题

1. 上升时间和信号完整性

2. 传输线的种类

3. 反射产生原因

4. 如何消除反射

5. 串扰产生原因

6. 如何消除串扰

7. 电源/地噪音的种类

8. 电源/地噪音的副作用

9. 如何消除电源/地噪音

10. 电源/地模型

十六、建模与仿真

1. 几种常见的电磁建模技术

2. 好的SI仿真工具应具备那些因素

3. 常见的SI 工具

十七、信号完整性的仿真实例

1. 举例模型

2. SI分析

3. 仿真结果

4. 噪音来源及解决办法

十八、硬件测试实例(黑合测试+白盒测试)

1. 电脑行业的硬件测试方法及流程

2. 通信行业的硬件测试方法及流程

3. 家电行业的硬件测试方法及流程



● 教师简介:
李睿 (Olica  LEE) 资深信号分析专家
教育背景:中山大学  微电子技术及应用专业 &  计算机软件 工学硕士
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