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9/29 工研院資通所「3D IC技術及標準研討會」

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發表於 2010-9-12 07:53:16 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
指導單位:經濟部工業局 4 a4 y& C4 c- T4 t: Q5 ^
主辦單位:工業技術研究院資訊與通訊研究所 3 [7 q8 ?  ]  d9 B( c
協辦單位:先進堆疊系統與應用研發聯盟(Ad-STAC),國際半導體設備材料產業協會(SEMI),台灣半導體產業協會 (TSIA) ' t6 K& p" m) K
舉辦地點: (新竹) 工業技術研究院 新竹縣竹東鎮中興路四段195號9館010會議室 3 b2 D. M  C& C  C  E& L
7 }; d3 R: a& ?% Z3 o6 N4 \( @! |
近年來消費性產品應用功能的複雜度急速增加,如照像功能、網路、多媒體應用的興起,手機輕薄短小的需求,均帶動晶片封裝技術快速的由平面轉進立體堆疊技術。而近年來引起產學研各界關注的3D IC技術,則挾帶薄型、低系統成本、高效能,且容許高度異質晶片整合等優勢,可望成為下一世代封裝技術趨勢。然我國廠商卻因在國外標準組織著墨不多,除無法取得技術發展重要資訊外,也喪失規格訂定的主導權;大部分關鍵IP均掌握在國際廠商手中,經常面臨國外廠商智財掣肘,在新產品開發上需支付高額權利金,影響我國廠商的營運成本、市場開發以及國際競爭力。有鑑於此,工業技術研究院資通所邀請多位講師,針對我國在3D IC技術前進國際組織,參與制定標準的規劃及展望,並對3D IC技術進行實際探討分享與互動交流。 $ T( f1 l( @; V$ u5 r* g
, A6 v/ u; c. l" J! j& v# A( P
課程表:
8 V8 g" e7 ~& D, {2 B+ D4 U13:00~13:30 報到
$ D1 e6 T+ U; ?8 }- b7 L3 u" H13:30~13:35 開場致詞 工研院資通所 吳文慶組長 * C, O, h7 @8 P; C! l' b
13:35~14:05 SEMI 國際產業技術標準介紹. 國際半體體設備材料產業協會 黃敏良經理
9 v+ j  E/ h  u) N0 Y( w14:05~14:45 從JEDEC 標準看3D IC可靠度 南台科技大學 唐經洲教授 + r! v- C  B6 s& m. Z: t1 e' ]: T
14:45~15:05 Break 1 j/ Q( K" a" s) \7 G- X* r* |
15:05~15:45 Extensions of Current Test Standards for 3D ICs 中央大學 李進福教授 7 s4 J* B1 s3 o( `0 `
15:45~16:25 Design Challenges of 3D ICs 美國賓州州立大學 謝源教授 6 S" a) F7 y% t
16:25~16:40 Q & A ; F3 E# g/ r6 `6 R

, D( j/ {# a5 T名額:100位
% D* M4 R3 [/ _- H3 `1 I# K& r, O費用: 免費
& m9 n2 k) ^) P# x; T報名方式: 線上報名
- h8 I# H8 s5 O; ~報名截止: 額滿為止
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