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[問題求助] 90nm製程的Threshold Voltage (Vth)數值的疑問??

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1#
發表於 2008-12-24 23:51:49 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
由於學術的研究需要,所以要模擬90nm製程。* Z3 S1 j" B+ z1 z& r6 \. Y: u

. v! @. V) E  ?( b1 g& h7 [! M在過程中發現Vth(Threshold Voltage)並沒有比較小。
3 H5 }5 r. G# y' R. H% E/ r  l9 A- V' f' r
範圍大概是在0.5v∼0.7v
多吧∼!!(在Linear與Saturation region)$ H+ c7 F# x, r. z4 T4 F9 t2 a% ^

3 Y# K: y- q7 Q" S! S6 a) u然後我查一下聯X電子的SPICE MODE的pdf檔,在Saturation region% u2 R! }* S9 F! Z/ f+ D
file:///C:/DOCUME%7E1/Riley/LOCALS%7E1/Temp/moz-screenshot-2.jpg) t) s) ?; I% b* h* A
發現它的Vth可以到0.3v∼0.4v多,我照著它的W/L的size去模擬。
8 M" B7 A1 }9 ^2 F# y' o, |7 d/ u/ @5 ~( s
去lis檔看Vth值,似乎沒有上面寫得那麼小,這到底是怎麼樣呢?
3 I( _7 |% r( }
2 V/ |+ ^% \! ]0 L  W$ I) |它也沒有給VGS的大小,就只有上面所出現的VDS=1.2v。7 K# h9 n% R+ U3 R
+ v$ [! o% l% R' r- t( x* f5 c
另外,我想問一下如何用hspice模擬出Vth vs L(length)的圖形啊??8 {) C2 {( E* u0 J% U3 L$ Z
2 q3 F8 P9 q# M) X/ M

- F5 K) l) U- S* ^$ b) e
4 o0 y4 e! H: K2 l+ G1 }0 [! a- V
1 _: T6 ]5 {/ Y$ A: B$ w1 t  Y
7 V8 c) X8 t* G, T4 `  I
[ 本帖最後由 異星人 於 2008-12-24 11:58 PM 編輯 ]

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2#
發表於 2008-12-25 13:22:37 | 只看該作者
跟你用的model level有没有关系呢?! N4 q6 v) I# n% Q$ i
文档中提供的应该是某个W,L下的实测值,model level不同考虑的实际效应也不同。
3#
發表於 2008-12-25 13:34:13 | 只看該作者
楼主,建议你仔细学习一下什么是阈值电压,再学习一下二阶效应对阈值电压的影响,然后再来分析这问题。
# |. }/ y# _) |3 o' d; H可参考gray的书,或《数字大规模集成电路设计透视》开头都会讲这些。
4#
 樓主| 發表於 2008-12-25 18:20:57 | 只看該作者
Threshold Voltage(Vth)這個我當然知道, J, C1 g' F4 t/ A1 ~. Q5 M
0 b9 A: J7 j1 H  \' M9 [
跑過0.35um與0.18um的製程,* D1 U# \! Z6 L- h& B
4 k, B8 E& b8 H0 ]0 Q4 B
它們的Vth都不會太大,可是90nm製程的Vth卻沒有明顯減少,
0 x! t8 X, O. v: U% v' u* z
' z( N. S# e5 d/ R* ?  m9 f讓我懷疑是我的LIB跑錯了呢??
4 M0 m: y3 J. \. N' g. O8 @+ ^( Q& o6 y. H6 K9 a" b* L" }- |" @
還是90nm真的是這樣子啊??
6 p9 a. g$ x. ^& J% X3 I2 I( e  p1 w1 H1 _1 y1 \1 b/ c, ^
因為NMOS在cut off 時Vth=800mV多∼!!$ y8 E" ]: ~! c3 k! a% F% t0 {7 M# p
" X( f7 Z* R1 m+ g8 I
所以才另外問一下如何用hspice模擬出Vth vs L(length)的圖形啊??
5#
發表於 2008-12-25 23:56:20 | 只看該作者
我印象中,製程的微縮並不會影響到Vth,也就是說到了45nm,Vth也差不多那個值。
6#
發表於 2008-12-26 00:18:22 | 只看該作者

回復 4# 的帖子

那看来是我有理解不深入的地方了。9 I* F2 D( q( S2 c7 [
原文中说:然後我查一下聯X電子的SPICE MODE的pdf檔,在Saturation region
5 c: p  p( ~5 A/ T0 n' A0 h發現它的Vth可以到0.3v∼0.4v多,Vth还分saturation region的和cut-off region的??头一次听说。
: B2 z% }  m0 G" |+ y原文中说:我照著它的W/L的size去模擬。去lis檔看Vth值,似乎沒有上面寫得那麼小,這到底是怎麼樣呢,它也沒有給VGS的大小,就只有上面所出現的VDS=1.2v。Vth不就是VGS么??* ^' T8 J! {. Y$ F6 M, |# D' Z% C& {

6 A* Q+ Y0 i5 \, j, _" F另外,楼主的问题究竟是什么?是说你仿真结果和fab提供的文档不一致么?# C# @" }1 z7 ?6 \! Z6 j$ M
还有楼主的图片是你的仿真结果还是fab文档?
  e& c) M" N4 l$ d2 L' PI'm really confused...
1 k. s- f6 i. x等待高手解答吧
7#
發表於 2008-12-26 00:23:31 | 只看該作者

回復 4# 的帖子

请问楼主,你是由何种逻辑得出90nm的工艺Vth一定会小?影响阈值电压的因素有很多,工艺尺寸缩小仍然可以把阈值电压做的与大尺寸工艺差不多,为何一定会变小呢?
8#
發表於 2008-12-26 08:51:36 | 只看該作者
LZ以为90nm的Vth是多少呢?
9#
發表於 2008-12-26 16:41:26 | 只看該作者
90nm的Vtn0  一般就是350mV∼45mV左右吧
10#
 樓主| 發表於 2008-12-26 22:44:08 | 只看該作者
若是我改變Vbs的值的話
: q) w! i* a+ a- [" G% t5 a! P. L# d+ @; }
就可以改變Vth值了
1 T* t" m: h( v' {$ j7 K& I
0 h8 n! @) G1 _$ }; RNMOS增加Vb的確可以減少Vth,但我想知道原因。
( n* `0 I) y) M4 K1 r; q( K% B- d7 ]
由於跑過兩個0.35um與0.18um製程,
1 [4 _2 |1 T5 {+ F8 ]+ Y6 n. h- d5 y9 x7 X9 |
直覺上,會認為Vth應該會減少。
' K3 |1 R7 `7 ]$ h
- k" H8 q) P) t4 \9 Q由於我使用與其他兩個相同製程W/L的比值" b& G% Q& X1 x  H: Z# O

9 T, w% t9 W* G7 D發現90nm製程的Vth竟然比較大,4 |3 p* P2 p, @! F' n' J/ S
' O9 V+ j7 z( ?
所以覺得很奇怪,在相同的W/L的比值之下% }. ^' z% r" n; {! I; k
, S& o* c8 W$ W+ u# ?3 \% r
Vth或許應該會接近,更小的製程應不會比大製程的Vth大' p0 l8 ]+ t3 C0 K- Y% M$ [! c

$ V- L: v% ^7 _, {) a所以才會提出這個問題∼!!
! `6 {3 ]7 u! {, J: c
) l* q* D7 `3 h, E若是Vth沒有逐漸的變小的話,那VDD何必減少呢??
# W) V9 n, Z) d4 C% h/ M  }6 T" |6 M8 l. Z$ d) D9 J( Y8 T
0.35um→Vth=0.5V~0.7V→VDD=3.3V
5 x# ?2 ]8 P3 o  j: a! r& k
9 {6 @. b* T+ b3 S0.18um→Vth=0.5V~0.7V→VDD=1.8V2 q/ q; A% Q( ]$ e; Z
6 U5 M8 D  C9 H1 F- G1 z0 J) a
0.09um→Vth=0.5V~0.7V→VDD=1.2V" m" Z* Y$ k/ S0 f* ]
# I( u3 d6 ~* ]* |4 N( W' a
在製程縮小,而Vth沒有跟著逐漸下降的話,
+ e2 v5 y( ~( x/ W' X5 t
4 U& c0 r' C* o; u9 Q% l% ]; J若是考量到功率大小的問題的話,* g. {+ U7 v) J. n1 R4 k- _

1 E  Z8 X  d' c" w$ `我想現在用成本最便宜0.35um製程就可以了,VDD給1.2v
6 ~# o: N* m$ D0 v$ i
1 V% l5 @& p3 r若是考量到 電晶體數量 / 面積 的問題,就另當別論了。
11#
發表於 2008-12-27 20:44:16 | 只看該作者
Vth可以做的较小,但是漏电很大,所以Vth<300mV不会出现!特别是数字部分,Vth较大,为的就是漏电小!模拟部分Vth可以很小!
12#
發表於 2009-10-5 19:55:46 | 只看該作者
請問 在模擬之中 下VTH= PAR('lv9(MN1)') 求得的意義 跟真實的VTH有關聯或是有意義嗎
13#
發表於 2009-10-6 10:23:23 | 只看該作者
先進製程,Vth不會變低,這是考慮到漏電流...等非常多因素所決定的。
, {) N1 v, h1 W/ u# i$ }+ |0 wVth跟VDD大或小無關,所以才會有VDD越低,類比電路越難做的情況呀。
& u% D+ O+ U3 \( E6 A) {' j5 J- Y1 e# n/ P$ D2 E2 C6 \
NMOS vb電壓提高,Vth會降低,這現象剛好跟body effect相反,這是由控制PN介面的bias來改變Vth的一個技巧3 b2 n, D" Y# X5 I/ U4 k7 P9 m
想要使用low Vt 元件但又不想多花光罩就會使用控制body電位的方式來得到low Vt。2 f4 \2 I2 F% x8 A' P3 l' l  s
PMOS也可這樣做,不過body電壓的控制相反就是了。
14#
發表於 2010-5-21 19:41:11 | 只看該作者
90nm 标准的应该是200—300mv  但是如果你是lp的要大一倍以上,如果是lv的那就要更小一些
15#
發表於 2010-5-28 00:00:26 | 只看該作者
Vth不隨MOS scale而變小 您可參考 Razavi pp 579~583
8 B$ r# ?+ t1 }7 H4 |page 583中間有寫到目前MOS scale不完全是constant field
% ]" M( K# X9 |" g7 S0 Y, k, H4 e$ H1 p# F& ?9 C
而Vth隨Vb而變 您亦可參考Razavi pp 24 eq2.22 Vsb為負值就可略知一二
16#
發表於 2010-6-4 15:26:08 | 只看該作者
T90 release出來的多半是low power製程3 @) ]6 j! u2 }/ ], E- [) p; K) a6 Y
U90 則可以用到normal的製程
9 v' c, L& I. T4 q7 n8 {2 z% V看看你拿到的model是甚麼
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