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標題: 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班 [打印本頁]

作者: itricollege    時間: 2011-12-2 01:52 PM
標題: 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班
●主辦單位:工研院新竹學習中心 3 I- V, }* K; a8 c# V6 y2 t; Z
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
8 A) U. \$ g. p+ X6 J( \0 v3 |●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
2 ?  Z- r& s! e& C9 M% p●課程費用:5,000(含稅) 5 k  t3 P' H4 J! Y: E2 @0 L' `
●報名截止日期:100/12/01(四)
' u+ b6 v+ |1 r7 {: A7 K  i●開班人數:10人以上 (最低開班人數) 8 F) I" ~8 K# f) [7 v3 H9 J
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 , o5 k/ p0 n+ Z  r
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
. F9 w1 K% V& r/ B* s1 o  m8 p$ S: o
" ?" @& s" P% ~# t) P1 a* l3 u■課程目標6 Q7 A: ?3 q, I* T8 `

6 q/ n1 W. i& E: a本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
! a' n$ j& h& E$ _& X6 _5 c( _& k9 O! j
■課程大綱
: D6 ]* C9 q" E6 x  E4 G第一天:12/08(四)9:00~16:00
9 p5 ?+ r6 U- G" d* w  M專利檢索入門與檢索規畫
1 m  v5 l. F/ C  r' {) ^免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
$ G$ m; k% V- F3 T! O; X( o& I* u專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 $ T0 x7 c& h6 d, C9 _

) o( }% U( I, C) i( [第二天:12/09(五) 9:00~16:00
* v0 b$ ?0 C& D專利分析可提供之情報
$ q: L* |! G- q專利地圖試做範例
) ]9 ~8 A5 F* d; f進階專利地圖解讀、分析與策略擬定( P7 }$ T" s9 y+ n- Y& ]. ~
*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
作者: itricollege    時間: 2011-12-2 01:52 PM
■講師介紹
6 T9 B) a$ e' p$ a' W4 S吳俊逸 博士$ P0 K) \6 H9 v, \! y
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
1 W. w% M# j: E6 i+ Q+ y9 e現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
' U5 k  [5 @1 k9 \5 I" k學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 ) L9 F# A* Y7 \1 C6 u
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
, s/ H# A) E* z3 X* w) P4 ?( k* X  W) R; Z8 G. M2 _5 `
專長與經驗: 3 P! U* C4 H1 Y! J3 ~( G
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
/ i& D, O% b/ v( X! N' H: m! E9 ? 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). 4 B( _/ X. x5 ?: z6 l# _# B3 p
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
0 P& u% i, W' B2 N) d3 [' H 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). 5 I3 u$ ]' N- \( l5 ?# g& z

$ b, F5 n& r$ W  t* u經歷: ( L$ F$ G. w5 E+ o
. E- y* Q( n+ A' S$ c
工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 ( m+ F3 u- f" g; [- O. s& [" X
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理 . v3 H7 F. @9 a5 t3 e
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
作者: globe0968    時間: 2012-6-20 09:28 AM
標題: 資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」
(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
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為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
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本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
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$ @- g  @9 H& I' C/ O9 P訊息來源:財團法人資訊工業策進會




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