Chip123 科技應用創新平台

標題: 有人會去參加 [2016 R&S多域測試應用研討ㄏㄨ测试应用研讨.... [打印本頁]

作者: SophieWeng@G    時間: 2016-8-23 02:37 PM
標題: 有人會去參加 [2016 R&S多域測試應用研討ㄏㄨ测试应用研讨....
據說 R&S 和電子發燒友一起舉辦[2016 R&S多域測試應用研討會],我看活動頁上有寫本次活動會論述有關智能终端中PA和VCO过渡过程测试 # |7 e5 V! w( k7 R% n





歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://www.chip123.com.tw/) Powered by Discuz! X3.2