Chip123 科技應用創新平台
標題:
有人會去參加 [2016 R&S多域測試應用研討ㄏㄨ测试应用研讨....
[打印本頁]
作者:
SophieWeng@G
時間:
2016-8-23 02:37 PM
標題:
有人會去參加 [2016 R&S多域測試應用研討ㄏㄨ测试应用研讨....
據說 R&S 和電子發燒友一起舉辦[2016 R&S多域測試應用研討會],我看活動頁上有寫本次活動會論述有關智能终端中PA和VCO过渡过程测试
# |7 e5 V! w( k7 R% n
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://www.chip123.com.tw/)
Powered by Discuz! X3.2