Chip123 科技應用創新平台
標題:
NI 2017 年自動化測試展望 完整報告
[打印本頁]
作者:
SophieWeng@G
時間:
2017-2-23 02:16 PM
標題:
NI 2017 年自動化測試展望 完整報告
NI 創辦人 Dr. James Truchard 反思過去 40 年來的測試與量測經驗、指出影響現在測試團隊的市場與技術趨勢，並發表對未來的展望。分享給大家
* z3 ~; m7 l5 b2 s# c
9 `3 B& ~0 l9 H, _+ h5 `# {6 d
完整報告：
https://drive.google.com/file/d/0B7yZMZoIrxFXWUlZTV9zeVFIUkE/view?usp=sharing
. x% c, G0 D4 M! j/ c4 L
7 U- N& n! b9 \2 O
& Z' \! w2 D* x1 I1 z: q
歡迎光臨 Chip123 科技應用創新平台 (http://www.chip123.com.tw/)
Powered by Discuz! X3.2