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標題: 惠瑞捷推出V93000的混合信號測試方案 [打印本頁]

作者: heavy91 時間: 2007-7-5 10:38 PM
標題: 惠瑞捷推出V93000的混合信號測試方案
惠瑞捷V93000測試系統推出消費性電子產品的混合信號測試解決方案
可降低最新消費性電子產品用的系統單晶片的測試成本及提高量測準確度

首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）的V93000測試系統推出消費性電子產品的混合信號測試解決方案，可針對各種高整合度的消費性電子產品元件，執行晶圓測試（Wafer Sort）及終程測試（Final Test）。半導體設計公司及大量生產製造商經常得在性能要求的廣度和有效又經濟的測試需求之間，努力尋求平衡，尤其是在設計和生產對價格很敏感、常見於ODD（光碟機）、DVD、DTV（數位電視）及STB（機上盒）等應用中的消費性電子產品內的混合信號元件時。這些元件的整合度愈來愈高，甚至內建了ePMIC（嵌入式電源管理IC）和嵌入式快閃記憶體元件。消費性電子產品的混合信號測試解決方案可透過最先進的測試方法，確保最高的準確度和測試品質，在進行高整合度元件的晶圓測試和終程測試時，可提供高速的單一元件（Single-site）和多元件（Multi-site）測試能力。

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「消費者對具有移動性，且全面整合音訊、視訊、數據及電話服務的多用途元件的需求正橫掃整個消費性電子產品市場，影響力更擴及半導體市場。在此同時，匯整這些功能的系統單晶片（SoC）的價格卻逐年滑落30-40%。在這類型元件的銷售量激增，價格卻直直落的雙重影響下，製造商別無選擇，只能以更多元件的測試能力和比過去更低的測試成本來因應。我們身處這個產業的客戶對這方面的測試需求愈來愈高，驅使惠瑞捷開發出消費性電子產品的混合信號測試解決方案。」

測試系統需具備更高的準確度和直流量測能力，才能滿足數位信號的測試需求，以及同時測試高性能的類比和電源管理IP核心。新的系統級封裝（SiP）及多晶片封裝（MCP）技術需要使用確定良好的晶粒（Known Good Die），因此必須在進行晶圓篩檢測試時，執行高性能測試。奈米製程產生了新型態的故障模式（Failure Mechanism），必須加以排除才能提升良率，這對於回收晶圓廠動輒數十億美元的投資極為重要。經濟有效的晶圓層級測試日趨重要，可以儘早在生產階段的初期，找出故障模式，進而提高良率。

先進的硬體具有最佳的擴充性

可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模組卡每平方公分包含的功能居業界之冠，有助於縮小測試系統的體積和降低成本。消費性電子產品的混合信號測試解決方案包含下列模組卡：

•  MB AV8（Multi-Band Audio-Video，新一代的類比式多頻段影音標準）模組卡－不論核心數或性能等級皆可擴充，相當經濟、彈性，在
  各種不同應用中的適用性非常高，包括專業音響；基頻IQ；寬頻通訊；高畫質及標準畫質的電視、機上盒、數位電視和DVD（BluRay及H
  D-DVD）等。
•  Pin Scale 400 －測試接腳可擴充，以滿足大部分消費性IC和晶圓測試的需求，以及適用於更多種消費性IC的介面。入門版的速度為100 M
  bps，可升級至每支腳533+ Mbps和每支腳224 M個向量。
•  DC Scale VI32 －只需單一片模組卡，即可彈性地因應多種應用（嵌入式快閃記憶體元件、嵌入式電源管理IC、提供精確的參考電壓）的
  需求。量測通道數可由16個擴充到32個，而且每個通道都具有碼型（Pattern）觸發能力，可提供最快的測試速度。
• DC Scale DPS32 －每片模組卡內建32個量測通道，具有更多元件的測試能力，涵蓋更多個功耗域（Power Domain），且能進行快速的同
步觸發，以提高穩定一致性和提供最快的量測速度。

Verigy V93000簡介

Verigy V93000是一套可擴充的機台架構，能用以測試系統單晶片、系統級封裝、以及高速記憶體元件。V93000在全球安裝的系統數已超過1,500套，不論是進行原速（At-speed）的工程特性量測或是大量的生產製造，都能解決業者在性能及成本上面臨的嚴苛挑戰。這套測試系統可提供大規模的多元件測試能力，能支援高達12.8 Gbps的資料速率，以及各種數位、混合信號及射頻（RF）的應用。V93000可降低蜂巢式、WLAN、WiMAX及UWB等無線通訊應用的測試成本。

惠瑞捷股份有限公司簡介

惠瑞捷股份有限公司專精於設計、開發、生產及銷售半導體產業的記憶體和系統單晶片市場所需的先進測試系統與解決方案，以及提供相關的服務。全球許多知名的半導體公司皆採用惠瑞捷的可擴充機台系統，進行設計驗證、特性量測、以及大量生產測試。惠瑞捷先前為安捷倫科技旗下的事業群，2006年6月1日起開始以惠瑞捷股份有限公司之名獨立營運，並於2006年6月13日在美國完成股票上市。詳細資訊可查詢www.verigy.com/go/ConsumerMXS網站。

[ 本帖最後由 jiming 於 2007-10-24 03:23 PM 編輯 ]

作者: heavy91 時間: 2007-7-5 10:48 PM
標題: 惠瑞捷的奈米電子數位信號測試解決方案
惠瑞捷奈米電子數位信號測試解決方案可找出65奈米及更小製程的故障模式以提高生產良率
V93000解決方案可針對製程要求嚴格及複雜的設計提供準確、大量的試產及量產診斷資料

首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）針對65奈米和更小製程所生產之先進數位IC的晶圓測試（Wafer Sort）及終程測試（Final Test），推出可執行結構及功能測試的V93000奈米電子數位信號測試解決方案（Nanoelectronics Digital Solution）。奈米電子數位信號測試解決方案可提供準確的診斷及參數資料，協助製造商找出新的故障模式（Failure Mechanism），以提高65奈米和更小製程的生產良率，這是轉進更小節點的新式製程時，會面臨的主要挑戰。新設計將能大大受惠於這套解決方案提供的深入資訊，且測試的效率極高，能以最低的測試成本（CoT），加快產品的上市時間。

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「奈米電子的時代挑戰了我們對測試在生產流程中扮演之角色的傳統認知。自動化測試設備不再只是一個判定合格/不合格的工具，而是逐漸成為提升大量生產良率的關鍵工具。我們新推出的解決方案可以讓V93000的使用者蒐集到測試奈米電子所需的準確診斷及參數資料，其多元件（Multi-site）的測試效率更樹立了生產力的新標準。」

隨著製程節點轉進65奈米或更小的等級，製造商也面臨新型態故障模式帶來的測試挑戰，例如轉變引起的故障（Transition Fault）和橋接引起的故障（Bridging Fault）、設計流程互動特性、以及晶粒內（Inter-die）和晶粒間（Intra-die）的變異（Variation）等。掃描向量的數量愈來愈多，加上晶片內壓縮及內建自我測試能力（BIST）等結構的使用更為普遍，更加重了測試的挑戰。除了整合高性能的類比和直流電路的複雜度之外，尺寸變小、電壓更低和速度更高的要求通常也會一併出現，使得量測的準確度變得更加重要。奈米電子一開始的良率較難掌握，因此量測準確度的重要性更甚以往，唯有準確的量測結果，才能拉近測試和設計間的落差，加快良率學習和改善的過程。

惠瑞捷瞭解擁有合適解決方案的必要性：一方面可提供最充足、深入的資訊，同時又能達到最高的生產效率，包括能快速地將資料從測試系統轉出，以進行量產良率的分析診斷。這樣的解決方案可以讓製造商充分利用最新測試方法的優點，例如更多元件的測試能力、減少所需的測試接腳數、以及迴圈（Loop-back）測試方法，在此同時，也能減少資料蒐集量到僅限於最相關的資訊。

整合式硬體可提供最快的速度

可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模組卡每平方公分包含的功能居業界之冠，有助於縮小測試系統的體積和降低成本。V93000奈米電子數位信號測試解決方案包含下列以超小型測試頭為基礎的配置：

o  Pin Scale 400數位信號量測模組卡，可將DC IO提高到533 Mbps；
o  整合式大量故障資料擷取能力和超快速的資料傳輸速度；
o  DC Scale DPS32 －每片模組卡內建32個量測通道，可同時測試多個元件的多個功耗域（Power Domain）、以及進行快速的同步觸發，
以提高穩定一致性和提供最快的量測速度；
o  STIL連結軟體套件；
o  每支接腳都整合了TIA。

詳細資訊可查詢www.verigy.com/go/NanoDigital網站。

[ 本帖最後由 jiming 於 2007-10-24 03:23 PM 編輯 ]

作者: heavy91 時間: 2007-7-5 10:52 PM
惠瑞捷V93000測試系統推出Port Scale 射頻測試解決方案
多達48個射頻測試埠、真正四組元件同測、以及高效率的多元件並行測試能力可提供最高的量測效率及最低的測試成本

首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）的V93000 SoC測試機台推出Port Scale射頻（RF）測試解決方案。這套新的解決方案可提供經濟、有效又可靠的射頻量測能力，是測試新式的高整合度元件（內含射頻、混合信號、數位、電源管理、以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路），以及低整合度射頻收發器所不可或缺的工具。惠瑞捷針對V93000 SoC測試系統開發Port Scale射頻測試解決方案是為了解決無晶圓廠半導體設計公司、整合元件製造商、以及半導體委外封裝及測試公司目前和未來的需求。

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「為了生產今日新一代行動通訊用消費性電子產品中使用到的新式高整合度元件，我們的客戶面臨了極大的挑戰。V93000機台的架構不僅可以讓我們加入這項射頻測試能力，而且還能達到非凡的速度，同時依然維持最低的測試成本。」

今天，射頻的應用已十分普遍，從行動電話到衛星導航設備、調諧器（Tuner）和機上盒（Set-top Box）等各式各樣的無線裝置和通訊應用都會用到射頻元件。另外，支援WiMAX、WLAN、Bluetooth及UWB等標準的桌上型及筆記型電腦也會用到含有射頻電路的元件。過去，射頻元件都是一個個單獨的零件，現在，將多個射頻零件整合在單一顆IC中已愈來愈常見。同樣地，諸如行動電話等裝置的設計需符合多個地區採用的標準，如GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE和EV-DO，因此，過去只要包含一組接收器的設計現在經常得包含多達四組或更多組射頻收發器。當這些不同的射頻通訊標準全部整合在單一個射頻電路中時，會大幅提高測試的挑戰性。惠瑞捷預先看到了這種新的測試需求，瞭解客戶不論面對的是高整合度或低整合度的射頻元件，都希望儘可能維持最低的測試成本（COT），因而著手開發出Port Scale射頻測試解決方案。

可提供最快速度的架構

Port Scale射頻測試解決方案的設計採用固態半導體元件，因此所有的射頻資源都位在V93000的測試頭中。不同於其它採用速度慢的外接設備的解決方案，Port Scale是以高速的固態半導體元件為基礎所設計的射頻測試解決方案，完全不會減損速度、性能或量測準確度。

這套解決方案可以配置12、24或48個射頻測試埠，只要配備了24個射頻測試埠，即可提供真正四組元件同測（Quad-site）的能力，而其高效率的多元件（Multi-site）並行測試能力也解決了高整合度元件需要更多測試埠的測試問題，具有最高的測試效率，可將測試成本降到最低。Port Scale射頻測試解決方案具備的高性能、準確又穩定的量測能力、以及業界最低的雜訊底線（低至-161 dBm/Hz）可滿足愈來愈嚴苛的性能、良率及成本要求。

加快上市時間

Port Scale射頻測試解決方案可提供完全整合的類比和射頻測試能力與測試流程，以及可逐步進行的除錯工具，能縮短測試開發時間。惠瑞捷新增了快速又準確的“單鍵” 執行功能，可進行智慧型校準，並且採用功能強大的Eclipse™軟體環境，可以檢視動作中的硬體運作情形，讓使用者透過簡單明瞭的圖形，查看射頻量測區塊圖，並可將射頻測試設定輸出為測試方法的樣版。採用固態半導體元件的射頻設計加上V93000獨特的水冷式架構在大部分開發階段的測試計畫中，都不需要進行校準。

先進的硬體讓性能更上一層樓

可插入惠瑞捷V93000測試頭使用的單槽模組卡每平方公分包含的功能居業界之冠，有助於縮小測試系統的體積和降低成本。Port Scale射頻測試解決方案包含下列模組卡及套件：
•       射頻信號源模組卡－ 10 MHz-6 GHz的儀器等級（Instrument-quality）信號產生器；
•       射頻前端模組卡－每一片可提供12個射頻測試埠；
•       射頻介面－可提供高密度、穩定可靠的射頻介面，以介接到客戶的測試載板（Load Board）和探針卡（Probe Card）；
•       MB AV8模組卡－提供四組任意波形產生器（AWG）核心以及四組數位轉換器（Digitizer）核心；
•       48埠的射頻校準套件－一組套件最多可支援十套射頻系統）。

詳細資訊可查詢www.verigy.com/go/PortScaleRF網站。
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[ 本帖最後由 jiming 於 2007-10-24 03:25 PM 編輯 ]

作者: DennyT 時間: 2007-7-12 10:17 AM
標題: V93000其實還有一個沒講的Feature
原本使用HP-UX OS 的 RISC工作站(台幣50~100萬)當tester host controller, 改成使用Linux的Intel PC工作站, 除了有降低成本的優勢外, Verigy的系統向來不內建硬體加速DSP, 也就是說RF or Mixed-Signal測試中常見的FFT, Digital Filter運算是由tester host controller的CPU負責, 這時這台電腦CPU的快慢就會影響測試時間(即測試成本), 改用Intel相容PC的好處就是可隨CPU快速演進更換PC host (而且花費不大, Intel PC太便宜了), 隨即將測試成本降低, 擴大利潤, 可視為一個可隨時間改善的優勢.

作者: heavy91 時間: 2007-10-4 03:31 PM
世芯電子選購Verigy V93000 Series Pin Scale為其新一代晶片測試機台

惠瑞捷測試解決方案協助無晶圓廠IC設計供應商在複雜的SoC設計上持續獲利

首屈一指的半導體測試公司－惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣佈，專為高複雜度、高產量SoC設計提供矽設計及量產服務的系統單晶片領導廠商－世芯電子 (Alchip Technologies) 已選購Verigy V93000 Pin Scale系統為其新一代晶片測試機台。除了V93000 Pin Scale系統備受認可的穩定性，以及被委外組裝測試 (OSATs) 夥伴廣泛地採用外，世芯電子看重的是該系統的可擴充性，並可依客戶需求增添額外的先進測試功能。

世芯電子主要針對整合元件製造商 (IDMs) 、設計公司與系統廠提供全方位的SoC設計服務，從前端設計到後端晶圓的設計定案 (tape-out)、晶片組裝與測試服務，世芯電子已達成讓客戶在tape-out階段即一次成功試產 (first-cut)的優良紀錄，並有效縮短客戶產品上市時間。V93000 Pin Scale針對每隻接腳單獨授權 (Per-Pin License)，可讓世芯電子依其單一接腳的元件需求立即安裝系統，進而將測試成本降至最低。為因應測試的多變性，該系統可與新等級的元件或特殊應用需求相容。此外，V93000同時具備多元件 (Multi-site) 並行的測試功能，將可協助世芯電子符合客戶高接腳數的系統單晶片 (SoC) 與單封裝系統 (SIP) 的測試需求。

世芯電子執行長暨總裁關建英表示：「正如同客戶因世芯電子在先進製程設計的優良紀錄而與我們合作，我們也是因為惠瑞捷V93000具備SoC測試領導產品的傑出名聲而選用該系統。惠瑞捷致力於協助台灣客戶的需求，輔以其V93000的靈活性與可擴充性，將確保我們持續提供客戶可靠且高階的SoC設計晶片與測試服務。」

惠瑞捷股份有限公司業務支援與服務副總裁Pascal Ronde指出：「對於世芯電子這樣的IC設計服務供應商而言，正面臨著因應客戶每個測試階段極度嚴格測試標準的挑戰。而V93000具備準確度、穩定性與可重複性等特性，將可協助這些供應商以最高品質標準測試客戶的產品，讓世芯電子確保在tape-out階段的百分之百成功率。此外，此系統的可擴充性與靈活性也將協助世芯電子更全面的支援客戶不同晶片設計的測試需求。」

關於世芯電子

世芯電子有限公司，總部位於台灣台北，專為高複雜度，高產量SoC設計提供矽設計及量產服務。世芯電子成立於2002年，由一群來自美國矽谷和日本的優秀工程師創辦。隨著IC設計技術複雜度的提高和產品快速上市的需求，世芯致力於為客戶提供最高效益/成本比的解決方案，確保客戶一次投片成功並快速將產品導入市場。世芯的目標客戶主要為針對成長迅速且追求量大市場的IC供應商/系統廠。這些應用市場包含娛樂裝置、手機、高畫質電視、通訊設備、電腦及其他消費類電子產品。世芯成立以來，已完成眾多高端製程(130nm, 90nm, 65nm)及高複雜度SoC設計的成功案例。世芯分別在美國 (矽谷)、日本 (新橫濱)、中國 (上海)和臺灣 (新竹) 設有分部。更多關於世芯電子的介紹請參考公司網站： http://www.alchip.com。

作者: jiming 時間: 2007-10-24 03:22 PM
標題: VLSI Research針對半導體設備供應商的市場調查惠瑞捷可運作時間備受台灣客戶肯定
首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）在VLSI Research市場研究公司2007年的客戶滿意度調查中，名列最受台灣客戶歡迎的二十大設備供應商之林。VLSI Research公司每年都會進行全球性的客戶滿意度調查，且根據台灣半導體製造設備使用者就13個設備性能和客戶服務類別，對供應商評比所得的結果予以排名。依據台灣使用者所回覆的意見，惠瑞捷榮膺測試設備公司的第二名，僅次於Advantest，排名領先Teradyne和Credence。台灣客戶在極為重要的「可運作時間」（Uptime）這一項給予惠瑞捷最高的評價，其次是「組裝品質」（Build Quality）和「實際可達的產出速度」（Usable Throughput）兩大項。

惠瑞捷在台灣規模龐大的半導體產業的機台安裝數相當高，是所有知名半導體封裝及測試代工廠（OSAT）、晶圓代工龍頭、知名的IC設計業者的重要供應商。對整個半導體產業來說，台灣半導體封測代工廠所扮演的角色已日趨重要，今天許多數一數二的半導體公司都無自有的晶圓廠，這種精簡資產（Asset Lite）的做法在整合設計製造廠（IDM）中已蔚為營運策略的風潮。

惠瑞捷股份有限公司總裁暨執行長龐恩凱表示：「台灣在整個半導體產業中是一個極為重要且活絡的市場，已成為半導體封測試代工的重鎮，因此，能否成功搶佔這個市場對我們的業務絕對至關重大。惠瑞捷的系統單晶片（SOC）和記憶體測試系統在台灣安裝的數量已遠超過1,000套，能夠在台灣半導體產業的永續發展上扮演不可或缺的角色讓我們與有榮焉。台灣客戶對我們的肯定再次強化了我們的價值，也讓我們感到十分驕傲。」

VLSI Research公司的執行長G. Dan Hutcheson指出：「惠瑞捷的系統向來訴求的是可靠、一致、準確且穩定的設計，今年的市場調查結果完全吻合這樣的訴求，客戶顯然十分肯定該公司在「可運作時間」上的表現，恭喜惠瑞捷！」

VLSI Research公司針對半導體製造設備商的客戶，進行年度滿意度調查，是半導體製造商可以公開對供應商表達意見的唯一機會。2007年的評比結果依據的是2007年初所做的問卷調查，該調查是一年一度的全球性調查，透過郵寄、電子郵件和傳真等方式，共發出大約6,700份問卷給位在台灣的350多家公司。根據VLSI Research公司的資料，全球所有回覆客戶滿意度調查的公司佔了2005年全球半導體生產量的95%。

VLSI Research公司簡介

VLSI Research是針對高科技半導體製造產業的技術面、商業面和經濟面，從事市場研究和經濟分析最負盛名的公司，素以準確度無人能及、市場研究方法創新、以及能夠精準掌握半導體製造產業詭譎多變的脈動著稱。VLSI Research公司有關半導體製造的資料庫廣為產業界、投資界、以及政府部門採用，從事決定性的策略規劃。VLSI Research創立於1976年，之後於1981年在加州成立公司，該公司的網址是：https://www.vlsiresearch.com/。

作者: heavy91 時間: 2007-11-28 12:06 PM
惠瑞捷V93000 Port Scale射頻測試解決方案提供高性能、低測試成本、可快速達到量產規模等優勢* N4 d- B' i+ G
獲沖電氣工業株式會社採用

業界正相繼採用首創全面整合的多埠測試解決方案測試高整合度射頻元件

首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司（Verigy Ltd.）宣佈，日本沖電氣工業株式會社（Oki Electric Industry Co., Ltd.）已採購Verigy Port Scale射頻（RF）解決方案，測試高整合度無線通訊元件。沖電氣工業株式會社（以下簡稱沖電氣）的元件廣泛使用在各種消費性電子產品中，包括機上盒（Set-top Box）、行動電話、PDA、以及其它無線通訊產品。沖電氣也充分運用本身擁有的優異封裝技術，為其它製造商提供封測服務，現加入Port Scale射頻測試解決方案，將對測試服務事業有莫大的幫助。Port Scale射頻測試解決方案在性能及測試成本上的獨特優勢，再加上V93000機台所具備的可靠度和擴充性，以及惠瑞捷在測試應用與量產上全球支援的品質，是Port Scale射頻解決方案獲沖電氣青睞的原因。

沖電氣是率先採用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案的公司之一，Port Scale射頻測試解決方案符合快速成長的需求，至今全球十大射頻半導體供應商中，已有八家正在使用Port Scale射頻測試解決方案，開發超過25種元件，準備在接下來幾個月投入量產。這些元件包含了當今挑戰性最高的一些新式3G和4G技術，例如UWB和WiMAX，以及包括Bluetooth、GPS導航和ZigBee等現有的技術。

沖電氣工業株式會社ATP生產事業部部長Katsumi Onaru表示：「爲了在現今複雜且高速的無線通訊產品運用中持續提供最佳品質的元件給客戶，我們需要可靠度高、測試成本更低、能快速量產的測試解決方案。Port Scale射頻測試解決方案在性能、成本和支援服務上皆符合我們嚴苛的要求，而V93000機台本身具備的彈性亦可滿足我們的客戶未來開發新一代元件的需求。」

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde說：「Port Scale射頻測試解決方案的推出讓惠瑞捷領先競爭對手一步，提供市場上第一套與測試頭整合的多埠解決方案，能以最經濟有效的方式測試整合度高的射頻元件。我們很高興沖電氣也如同其餘射頻半導體供應商選購Port Scale射頻測試解決方案，讓Port Scale射頻測試解決方案迅速成為測試各種複雜的射頻SoC系統單晶片及射頻SiP系統級封裝（包括最新3G和4G技術）的新標準。」
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沖電氣工業株式會社簡介

沖電氣工業株式會社創立於 1881 年，是日本第一家電信産品製造廠，總部設在東京。沖電氣旗下的資訊電信系統事業、半導體事業、以及印表機事業可為客戶提供最高品質的產品、技術與解決方案，此三大事業協力發展出各項嶄新的產品和技術，有效地滿足各類客戶在各種市場上的不同需求。詳細資訊請造訪該公司的全球網站：http://www.oki.com/。

作者: heavy91 時間: 2008-1-17 12:27 PM
普誠科技選中Verigy V93000
做為下一代消費性混合信號SOC測試機台

首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣佈，台灣消費性IC市場的知名IC設計公司普誠科技 (Princeton Technology Corp.) 選中Verigy V93000 Pin Scale 測試解決方案，做為下一代系統單晶片 (SOC) 測試機台。V93000 Pin Scale測試解決方案獲普誠科技青睞的原因包括：它是可擴充的單機平台、獲晶圓封測試代工廠 (OSAT) 大量安裝、且惠瑞捷在半導體測試領域向來擁有極佳的口碑。

普誠科技將運用含MB AV8 (8通道多頻段影音卡) 的V93000 Pin Scale系統，測試各種消費性電子產品用的全系列先進混合信號系統單晶片。普誠科技的系統單晶片廣泛應用在DVD、可攜式影音播放機、數位電視、家庭及辦公室設備中。普誠科技已經運用Verigy V93000解決方案測試多種元件，包括一些先進的DVP (數位影像處理器)、DVD和DVD-T等元件。晶圓封測試代工廠大量安裝惠瑞捷的測試系統對普誠科技移轉測試程式給代工服務廠極為方便。

普誠科技董事長兼執行長姜長安表示：「V93000 Pin Scale測試解決方案素以業界的技術領導者著稱，與我們致力於提供客戶第一次就成功的訴求不謀而合。我們一開始便中意惠瑞捷的測試機台，完全沒有考慮其它的解決方案，因為V93000不僅能提供我們測試全系列不同系統單晶片元件所需的擴充性，而且這套系統具備的超高可靠度與穩定度加上惠瑞捷提供的絕佳支援服務，亦有助於減輕生產製造上可能出現的延遲問題。」

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde指出：「對普誠科技等消費性電子市場的IC設計公司而言，擁有一套可靠的工程及生產測試系統是極為必要的。除此之外，隨著新應用領域的市場需求不斷成長，普誠科技在擴大提供產品線之際，將需要V93000測試機台所具備的彈性，以充分因應各種不同的需求。」

普誠科技 (PTC) 公司簡介

普誠科技為一專業IC設計公司，於2001年在台灣正式掛牌上櫃，總公司位於台灣台北，營運據點包括分設於美國Torrance、台灣新竹、香港、中國深圳、以及日本東京的辦事處。普誠科技成立於1986年，成立後便深耕於消費性IC領域，為台灣消費性IC設計的領導廠商。近來，普誠科技在類比、數位及混合模式的IC設計能力大幅躍升，加以世界級晶圓代工廠的全力奧援，使得普誠科技所提供之產品的品質深獲肯定。有關普誠科技更詳細的資訊，可查詢www.princeton.com.tw網站。

作者: jiming 時間: 2008-3-6 11:32 AM
標題: 惠瑞捷公佈2008會計年度第一季財報
首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 日前公佈2008會計年度第一季 (結算日2008年1月31日) 財報。

第一季的營收金額為2億美元，相較於去年同期的營收金額1億6千5百萬美元成長了21%，較上一季的營收金額2億9百萬美元則減少了4%。第一季的訂單金額為1億7千9百萬美元，較去年同期的訂單金額1億3千3百萬美元增加了35%，但比上一季的訂單金額1億8千3百萬美元減少2%。

第一季的淨利為3千2百萬美元，或完全稀釋 (Fully Diluted) 後每股獲利0.52美元，與上一季相同，而去年同期的淨利則為1千3百萬美元，或完全稀釋後每股獲利0.22美元。

惠瑞捷股份有限公司總裁暨執行長龐恩凱表示：「惠瑞捷全體員工齊心貫徹執行力的成果，讓我們再次交出一季漂亮的成績單。我們的記憶體和SOC測試系統爭取到一些新的客戶，在射頻 (RF) 市場的氣勢更加暢旺，而且有好幾家客戶已經展開或完成採用93000和V5000機台的評估作業。我們對目前的營運模式和長期的發展策略依舊充滿信心。在這個產業中，沒有任何一家公司可以不受當前景氣衰退的影響，但我們會密切觀察半導體產業的變化，並持續關心總體經濟環境的發展。」

惠瑞捷的財務長Bob Nikl補充說道：「儘管產業的景氣逐漸走下坡，我們第一季的營收及每股盈餘依舊達成既定的目標。我們投資了新的商機，包括購併Inovys，以提供客戶更好的測試與良率提升解決方案。2008會計年度我們計畫推出新的產品，以進一步區隔市場。在我們持續貫徹各項策略計畫的同時，不斷提高獲利率依然是惠瑞捷努力的首要目標。」

2008年第二季的展望

展望2008會計年度第二季 (結算日2008年4月30日) 的前景，惠瑞捷股份有限公司預估：

� 營收金額預計介於1億5千5百萬美元至1億7千萬美元之間。
� 淨利預估在1千萬美元至1千4百萬美元，或完全稀釋後每股獲利在0.16至0.23美元之間，當中將包含420萬美元至450萬美元以股票給付的薪酬支出。

作者: jiming 時間: 2008-3-12 11:22 AM
標題: 福雷電子選中惠瑞捷射頻測試系統
2008/3/11-惠瑞捷(Verigy)宣布福雷電子(ASE Test)已採購Verigy Port Scale射頻(RF)測試解決方案，測試客戶的高整合度無線通訊元件。福雷電子專精於為全球的整合元件製造廠(IDM)及IC設計公司，提供各種測試服務。Port Scale射頻測試解決方案的性能出眾，再加上V93000機台所具備的擴充性，以及分散各地的半導體測試與製造產業界廣泛採用惠瑞捷的機台，是Port Scale射頻測試解決方案獲福雷電子青睞採用的原因。

日月光，該公司的客戶已採用V93000 Port Scale射頻測試解決方案，測試最新、最先進的手機晶片組。是該公司利用Port Scale射頻測試解決方案從事生產測試的第一個元件，該公司對Port Scale的性能表現與結果的品質感到相當滿意。

惠瑞捷表示，很高興能拓展與福雷電子的合作關係，福雷電子最近的採購行動充分顯現業界肯定Port Scale RF是先進的射頻測試解決方案。福雷電子今後將可為客戶測試各種複雜的射頻系統單晶片(RF-SoC)及射頻系統級封裝(RF-SiP) IC，包括最新的3G和4G技術。

Verigy V93000為可擴充的機台架構，能用以測試系統單晶片、系統級封裝、以及高速記憶體元件。V93000內建射頻測試能力的系統在全球安裝的數量已超過一千五百萬套，不論是進行原速(At-speed)的工程特性量測或是大量的生產製造，都能解決業者在性能及成本上面臨的嚴峻挑戰。這套測試系統可提供大規模的多接點(Multi-site)測試能力，能支援高達12.8 Gbit/s的資料速率，以及各種數位、混合訊號、射頻及無線通訊的應用，如蜂巢式通訊、無線區域網路(WLAN)、全球微波存取互通介面(WiMAX)及UWB等，對降低測試成本助益極大。

作者: jiming 時間: 2008-7-8 12:17 PM
標題: 新科金朋向惠瑞捷採購多套Port Scale射頻測試解決方案
半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy)宣布，新加坡半導體封測業者新科金朋 (STATS ChipPAC) 採購多套Port Scale射頻 (RF) 測試解決方案，以測試高整合度的無線射頻元件。在技術不斷更新、無線通訊標準更加普及、及上市時間愈來愈短等因素催化，市場對功能的需求更高，高整合度的元件也就應運而生。惠瑞捷在品質、交貨準時、技術、服務、彈性和價格競爭力方面表現優異，為新科金朋及其客戶提供較為良好的服務與系統性能，因而榮獲新科金朋頒發「總體傑出服務獎」。

新科金朋為半導體封測服務供應商，可提供全套的解決方案與測試機台，以解決和支援客戶生產新一代行動通訊用消費性電子產品內含的高整合度元件的需求。Port Scale射頻測試解決方案可為整合元件 (內含射頻、混合信號、數位、電源管理、以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路)，提供高效率的多元件 (Multi-site) 測試能力以及所需的測試埠數。

新科金朋執行副總裁暨營運長Wan Choong Hoe表示，惠瑞捷提供的Port Scale射頻測試解決方案可以協助新科金朋滿足客戶目前及未來快速試產及量產先進射頻元件的需求。惠瑞捷業務與服務支援副總裁Pascal Ronde也指出，安裝Port Scale射頻測試系統後，新科金朋將可在此不斷成長的市場中，掌握領先的地位。

作者: heavy91 時間: 2008-7-21 12:07 PM
展訊通信採用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案測試無線通訊元件

中國領先的無線通訊晶片組開發商成功地大幅降低測試成本

首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣佈，中國領先的無線基頻晶片組供應商展訊通信有限公司 (Spreadtrum Communications, Inc.，NASDAQ: SPRD) 選用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案，做為中國蘇州元件廠的量產測試系統。展訊通信評比過多家競爭廠商的解決方案後，決定採用Port Scale射頻測試系統，因為這套系統的測試產出速度快，又具有多元件 (Multi-site) 測試能力，可降低測試成本 (COT)，並且提供更高的性能表現和更優異的測試穩定度。相較於現有的解決方案，展訊通信自從採用Port Scale射頻測試系統以後，已經成功降低射頻元件量產測試成本達50% 左右。

展訊通信專精於開發各種具有完善多媒體功能以及電源管理能力的高整合度基頻處理器，適用於各種行動無線通訊產品。從射頻收發器等低整合度的晶片到下一代無線通訊標準所採用的最新高整合度單晶片，都能有效地運用Port Scale射頻測試系統加以測試。這使得展訊通信在發展射頻元件的藍圖時，擁有極大的彈性，能充分因應新一代技術以及不同整合度的需求，再加上更快速的測試時間與更高的並行測試能力，可協助展訊通信大幅降低測試成本。

展訊通信資深營運長陳慶安表示：「惠瑞捷的Port Scale射頻測試解決方案在今日的市場中獨樹一幟，可以提供穩定一致的測試結果，對提高生產良率助益極大，能協助我們持續滿足客戶對無線通訊元件愈來愈高的需求。我們自2001年起，即致力於耕耘中國的無線通訊市場，預計在射頻應用市場的成長指日可待。我們相信與創新技術的領導者惠瑞捷攜手合作，對於實現我們的目標將是極為關鍵的因素。」

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde指出：「展訊通信在無線通訊技術上已發展出高度的專業性，且無疑是中國行動電話晶片最重要的供應商之一，由該公司最近榮獲的諸多獎項 (1)可見一斑。我們很高興Port Scale射頻測試解決方案可以同時提供高性能與高品質的技術，以及應用的彈性與獨有的並行測試能力，協助展訊通信持續以低測試成本，生產各種元件。」

% o: w9 M3 K! R# T; y展訊通信有限公司簡介

展訊通信是一家IC設計公司，專精於開發無線通訊市場所需的基頻和射頻處理器解決方案。展訊通信結合IC設計專業與軟體開發能力，推出具有多媒體功能及電源管理能力的高整合度基頻處理器，可爲無線通訊終端裝置製造商提供全方位的高整合度基頻處理器系列解決方案，以及多媒體晶片、射頻晶片、通訊協定軟體和軟體應用平台。展訊通信採用開放的開發平台，發展各式解決方案，可以協助客戶開發出客製化的無線通訊產品，不僅功能豐富，且能滿足成本及上市時間的要求。詳細資訊可查詢www.spreadtrum.com網站。

作者: jiming 時間: 2008-7-23 10:51 AM
標題: 展訊通信採用惠瑞捷Port Scale射頻測試方案
惠瑞捷(Verigy) 宣布，中國無線基頻晶片組供應商展訊通信選用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案，做為中國蘇州元件廠的量產測試系統。採用該套系統主因在於其測試產出速度快，又具有多元件 (Multi-site) 測試能力，可降低測試成本 (COT)，並且提供更高的性能表現和更優異的測試穩定度。相較於現有的解決方案，展訊通信自從採用Port Scale射頻測試系統以後，已經成功降低射頻元件量產測試成本達50%左右。

展訊通信資深營運長陳慶安表示，「惠瑞捷的Port Scale射頻測試解決方案可提供穩定一致的測試結果，對提高生產良率助益極大，協助持續滿足客戶對無線通訊元件愈來愈高的需求。

展訊通信從射頻收發器等低整合度的晶片到下一代無線通訊標準所採用的最新高整合度單晶片，都能有效地運用Port Scale射頻測試系統加以測試。使得展訊通信在發展射頻元件的藍圖時，擁有極大的彈性，可充分因應新一代技術以及不同整合度的需求，再加上更快速的測試時間與更高的並行測試能力，協助展訊通信大幅降低測試成本。

作者: chip123 時間: 2008-7-24 10:15 AM
標題: 惠瑞捷測試獲2008年十大最佳測試設備獎
惠瑞捷(Verigy)在VLSI Research市場研究公司2008年的客戶滿意度調查中，榮獲十大最佳測試設備獎。惠瑞捷在「產品性能」及「測試結果的品質」兩大類獲得最高評價，惠瑞捷旗下的Inovys則在13個評比類別中，有7個獲得最高分數，名列第一。VLSI Research公司每年都會進行客戶滿意度調查，並根據半導體製造設備使用者就13個設備性能和客戶服務類別，對供應商評比，予以排名。

惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示，再次獲得VLSI的十大最佳測試設備獎感到十分驕傲，尤其Inovys更是名列榜首。VLSI Research公司的執行長G. Dan Hutcheson也指出，惠瑞捷 (現在包含Inovys) 自獨立營運以來，在十大最佳測試設備獎項中，年年榜上有名。此外，惠瑞捷在系統單晶片 (SoC) 測試的技術也有目共睹。

VLSI Research公司針對半導體製造設備商的客戶，進行年度滿意度調查，是半導體製造商可以公開對供應商表達意見的唯一機會。十大最佳測試設備排名特別獎勵最受客戶好評的供應商，2008年的評比結果依據的是2008年初所做的問卷調查，該調查透過郵寄、電子郵件和傳真等方式，以六種語言：英文、日文、韓文、繁體和簡體中文、德文、以及法文，在全球總共發出66,717份問卷。根據VLSI Research公司的資料，所有回覆客戶滿意度調查的公司佔了全球半導體生產量的95%。

作者: heavy91 時間: 2008-11-27 10:34 AM

惠瑞捷推出V6000快閃記憶體及DRAM測試系統

樹立半導體記憶體測試市場新基準

V6000的測試成本、並行測試能力及良率傲視業界獲Numonyx率先採用

   首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣佈推出V6000測試系統，可在同一套自動化測試設備 (ATE) 機台上，測試快閃和DRAM記憶體，測試成本低於現有的解決方案。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等。以供應各種記憶體解決方案領先業界的知名記憶體製造商Numonyx經過多方的評估比較後，證實已經選中V6000，從事NAND元件和良品裸晶 (KGD) 的大量晶圓測試。V6000機台具備的並行測試能力、性能、以及低測試成本是這套系統脫穎而出的主要原因。

V6000系列測試系統包括：
-
V6000e：可讓使用者在辦公室或實驗室的環境中，開發記憶體測試程式以及量測和分析元件的特性。相較於以離線的方式使用生產測試系統，花費的成本更低，不僅能提高投入資本的回收率 (ROIC)，且能經濟有效地快速達到量產規模。
-
V6000 WS：晶圓測試解決方案，單次觸壓 (one-touchdown) 即可同時測試12吋的快閃或DRAM記憶體晶圓，量測速度領先業界，可精簡資本及營運開支。
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V6000 FT：可在單一機台上，執行快閃記憶體、DRAM或多晶片封裝(MCP) 元件的終程測試。即使在測試含有快閃和DRAM記憶體的多晶片封裝元件時，一樣可透過單次插測 (single-insertion) 的方式進行測試。

   所有的V6000系統皆採用惠瑞捷專利申請中的Active Matrix™技術，以及第六代的Tester-Per-Site®架構，兩者搭配可提供業界最低的測試成本。Active Matrix技術能進行大規模的並行測試，支援的I/O Pin超過18,000個，可程控電源供應Pin亦超過4,000個，且因大幅縮短通往腳端介面電路 (Pin Electronics) 的信號路徑，而能提供業界最佳的信號完整性 (Signal Integrity)。相較於傳統的記憶體自動化測試設備架構，V6000可提供四倍的並行測試能力，每支腳位的測試成本卻只要原本的一半。V6000具備可擴充的交流測試效能，速度涵蓋140、280、560、到最高880 Mbps。

   惠瑞捷股份有限公司記憶體測試解決方案事業部副總裁Gayn Erickson表示：「在此之前，記憶體製造商在測試快閃記憶體和DRAM時，只有兩種選擇：使用性能表現不佳的單一測試系統，或分別以專用的測試系統進行測試。現在，V6000問世了，可以在同一機台上，切換測試這兩種記憶體類型，且性能絲毫不打折。客戶的心聲我們聽到了，並藉由努力創新，生產出高性能且多功能的測試機台，不論是並行測試能力或信號完整性皆傲視業界。我們相信V6000能讓惠瑞捷搶佔最有利的位置，成功迎接記憶體市場景氣回暖的下一個春天。」

V6000 – 多功能的可擴充機台

      只要更換測試程式和探針卡 (Probe Card)，V6000即可測試快閃或DRAM記憶體，如此的彈性讓製造商得以因應市場的狀況，迅速又容易地切換這兩種記憶體類型的量產作業，以創造最大的利潤。

      藉由增加Test Site模組或Active Matrix模組的方式，就可以輕易地提高系統的性能和接腳數，完全不需要採購新的測試系統。這樣的擴充性很容易因應技術發展的需求，充分延長測試系統的使用年限。

V6000 WS使用低成本的無接頭式探針卡，可支援不同尺寸的探針卡(450 mm或560 mm)，且能與所有主要的針測機 (Prober) 界接。

      此外，所有的V6000測試系統皆採用相同的作業系統軟體、硬體和介面，因此，隨著元件由工程和特性量測階段推進到晶圓及終程測試，使用者亦可開發和共用測試程式、以及將測試程式移轉到不同的測試系統上使用。只要稍做修改，惠瑞捷備受歡迎之V5000系列測試系統上的測試程式也可以用在V6000機台上。V6000採水冷式的設計，相較於氣冷式的系統，所需的體積較小，消耗的能量也較少。

詳細資訊，請造訪www.verigy.com/go/memory。

作者: heavy91 時間: 2008-12-15 01:44 PM

華邦電子選中惠瑞捷V5400測試快閃記憶體晶圓

惠瑞捷支援團隊協助台灣知名快閃記憶體供應商加快量產速度

   首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 宣佈，知名快閃記憶體供應商華邦電子 (Winbond Electronics Corp. ) 已採購多套Verigy V5400快閃記憶體測試系統，供台中廠使用，以測試SpiFlash®序列式快閃記憶體的晶圓。這些記憶體採用序列週邊介面 (SPI)，廣泛使用於PC、行動電話和其它行動裝置中。華邦電子捨市面上其它快閃記憶體測試系統而選擇V5400的原因在於，V5400的測試成本低於其它系統，且V5400測試系統在台灣安裝的數量相當龐大，更容易提供客戶需要的服務。華邦電子原本即已採用惠瑞捷V5000系列旗下的V5000e工程開發工作站，現在，只要將既有的測試程式移轉到V5400系統上，即可執行量產測試，效率超高。

    V5400針對快閃記憶體的晶圓測試，提供多達4608個I/O通道，且每套系統可以做彈性的配置，最多可測試144個元件。因此，相較於傳統的快閃記憶體測試系統，可以大幅降低測試成本。V5400採用彈性的第五代Tester-Per-Site®架構，可以讓製造商測試各式各樣的記憶體元件。

   華邦電子執行副總溫萬壽表示：「我們先進12吋晶圓廠的順利量產與成本結構的競爭力，對我們成功立足快閃記憶體市場極為重要。除了提供可靠且經濟有效的晶圓測試設備之外，惠瑞捷的應用與可運作時間 (Uptime) 支援團隊也協助我們快速導入量產，達成上市時間的目標。」

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde指出：「全球第一線的供應商都已採用V5000記憶體測試機台，其中，台灣半導體封測代工廠 (OSAT) 客戶安裝V5400的機台數即已超過200套。現在，華邦電子更領先業界，成為第一家在12吋晶圓製程中採用V5400測試系統的台灣快閃記憶體IDM*公司。」

作者: heavy91 時間: 2009-2-5 09:51 AM

惠瑞捷榮獲福雷電子2008年度最佳供應商大獎

      首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司
(Verigy Ltd.) 宣佈，全球半導體測試服務最大獨立供應商之一福雷電子 (ASE Test Inc.) 將2008年度最佳供應商 (Vendor of the Year) 大獎頒給了惠瑞捷。福雷電子每個月都會根據品質、工程技術與服務、交貨及成本等四項衡量標準，評比供應商的排名，惠瑞捷自始至終都獲得極高的分數，整體而言，在所有衡量項目中，表現都優於其它供應商，因此，最終獲得此一殊榮。

      福雷電子專精於為全球的整合元件製造廠 (IDM) 及IC設計公司，提供各種測試服務。日月光集團 (ASE Group) 在全球各個廠所安裝的惠瑞捷測試系統已超過180套，使得該公司可以充分運用惠瑞捷V93000機台的彈性與擴充性，且這些測試系統在福雷電子的客戶和合作夥伴間安裝的數量也相當多，彼此之間更可以善用這項優勢。

      福雷電子總經理羅瑞榮指出：「我們內部針對供應商所做的評估顯示，惠瑞捷在去年前八個月中，有六個月排名第一，表現遠勝過所有其它的競爭者。我們的管理團隊也非常滿意惠瑞捷位於高雄的客戶服務團隊所提供的各項服務。」

      惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「從福雷電子獲得這項殊榮對我們是極大的肯定，我們會持續致力於提供業界性能最佳的測試系統與最優質的客戶支援服務。我們期待與福雷電子繼續維持良好且長久的合作關係。」

日月光集團與福雷電子簡介
日月光集團享譽國際，專精於為半導體產業客戶提供完整的後段解決方案，包括整合測試、封裝、系統組裝及產品服務的全方位服務。

福雷電子隸屬於總部位於高雄的日月光集團，以提供各種半導體測試服務聞名於業界，包括前段的工程測試、晶圓針測、封裝IC的終程生產測試、以及與測試相關的其它服務。詳細資訊可查詢www.aseglobal.com網站。

作者: chip123 時間: 2009-5-24 11:02 AM
惠瑞捷V6000快閃記憶體及DRAM測試平台榮獲 Frost & Sullivan 2009年度產品創新獎

【2009年5月 21日 •台北訊】全球首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣布其V6000測試系統榮獲Frost & Sullivan 2009年度產品創新獎。V6000系統於2008年底推出，可在同一平台測試快閃記憶體與DRAM記憶體，大幅降低測試成本。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等。

惠瑞捷記憶體事業部副總裁Gayn Erickson表示：「Frost & Sullivan的獲獎肯定了我們前瞻性的創新能力，而這項能力同時也是半導體製造商長久以來追求的目標。V6000系統只需一半的腳位測試成本便可提供四倍的並行測試能力，單次觸壓 (one-touchdown) 即可進行針測。它具備的多功能與可擴充性可讓客戶僅需更換新的測試程式與探針卡 (probe card) 或是測試載板 (load board)，即能在單一測試系統上切換測試NAND或NOR快閃記憶體、DRAM以及多晶片記憶體。V6000測試系統的高度彈性可大幅減少客戶的資本設備支出，進而使客戶能因應市場變化而迅速調整不同記憶體的產量。」

Frost & Sullivan 產業經理 Sujan Sami指出：「在經濟景氣低迷時，具備提供客戶創新的半導體測試設備能力是至關重要的。V6000測試系統不僅能偵測缺陷，更能協助測試元件的修復與改善，而這樣的應用彈性也已引起記憶體製造商的共鳴。惠瑞捷發展V6000這套革命性的系統將可持續擴充，大幅延長了客戶投資設備的使用期限。V6000證明了惠瑞捷在技術與財務創新方面的能力，我們很樂於授予惠瑞捷此一殊榮。」

每年榮獲Frost & Sullivan年度產品創新獎的公司都是不斷地在產品與技術上推陳出新，展現其領先業界的新產品與技術。這項獎項的評選是由Frost & Sullivan分析團隊透過訪談、廣泛參考二手資料與技術研究結果，追蹤研究新上市產品、研發支出、開發中產品以及新產品特色與改良，選出Frost & Sullivan年度產品創新獎的得獎者。Frost & Sullivan分析團隊先以產品技術的創新程度與客戶滿意度為基礎，評比各家公司推出的新產品與開發中產品，再以新上市產品以及開發中產品數量做出公司排名，評比重點包括產品在業界的整體重要性、競爭優勢、市場接受度、應用技術的獨特性與革命性等。

作者: jiming 時間: 2009-5-27 02:06 PM
標題: 惠瑞捷榮登VLSI Research客戶滿意度榜首
【2009年 5 月 27 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣布，在廣大客戶的支持與肯定下，惠瑞捷榮獲VLSI Research 2009年客戶滿意度調查中，自動化測試設備 (ATE) 供應商第一名。

惠瑞捷不僅榮登「全球十大最佳測試設備供應商」榜首，更是「半導體製造設備大型供應商」中的第一名。這是惠瑞捷連續四年蟬連「十大最佳測試設備供應商」，也是該公司成立以來，擠下多元市場中各大知名ATE廠商，獲得最高評比分數的一年。

惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示：「我們非常榮幸能夠在產品及服務上獲得客戶高度的評價。這次榮獲最佳設備供應商第一名，足以顯見我們所堅持的承諾已在技術領域上穩居領導地位，且深受客戶肯定。」

VLSI Research執行長G. Dan Hutcheson指出：「VLSI Research每年所評選的十大最佳測試設備供應商獎，旨在表揚半導體產業中獲得最高整體客戶滿意度評價的供應商。從惠瑞捷對於客戶滿意度所作的努力看來，他們今年能在全球最佳測試設備供應商排名中脫穎而出絕非意外。惠瑞捷的努力令我們印象深刻，在此恭喜他們獲得客戶的肯定成為最佳測試設備供應商的第一名。」

這項由VLSI Research主導、針對半導體製造設備商的年度客戶滿意調查是半導體製造商可以公開對設備供應商表達意見的唯一機會。十大最佳測試設備排名是用來獎勵備受客戶好評的供應商；2009年的評比結果是依據2009年初所做的問卷調查，該調查透過電子郵件和傳真等方式，以六種語言：英文、日文、韓文、繁體和簡體中文、德文、以及法文，在全球共發出35,726份問卷。根據VLSI Research公司的資料顯示，所有回覆客戶滿意度調查的公司佔了全球半導體生產量的95%。

作者: heavy91 時間: 2009-6-24 04:23 PM

惠瑞捷良率學習解決方案協助半導體製造業者

加速上市時程大幅提高良率標竿指數

【2009年 6 月 24 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣布推出全方位良率學習解決方案 (Yield Learning Solution)，該解決方案可在複雜系統單晶片晶粒 (SoC die) 上整合未切割晶片測試 (on-tester)、即時擷取以及電性缺陷統計分析等功能。

惠瑞捷這套獨一無二的良率學習解決方案，結合了旗下V93000 SoC測試機台的預先分析模組與一套設計導向的分析及視覺化工具組，協助製造業者在面對大量電性缺陷時，也能迅速將其分類成各種邏輯缺陷。此外，藉由電性測試與實體布線 (layout) 資料無縫隙的結合，這套解決方案可快速找出實體缺陷的根本成因，同時縮短可見與不可見良率損失機制所需的辨別時間，進而使量產時間縮短4週，良率標竿指數提高6%。

無論在設計或製造方面，奈米設備問題診斷所面臨的挑戰已日益加劇，因此IC設計業者、晶圓廠以及測試廠彼此間的緊密合作將更形重要。惠瑞捷良率學習解決方案可讓測試工作有效導入IC設計與晶圓廠，為掃描鏈(scan chain)以及邏輯程序中固定型 (stuck-at) 與難以偵測的時序缺陷提供邏輯圖 (logic map),不僅為實驗室提供高準確性，更使得生產達到高產能，符合新產品上市與常態製造程序監控的關鍵因素。

惠瑞捷DfX解決方案總經理Larry Dibattista表示：「隨著產業大規模挹注於45奈米
(nm) 以下的製程技術，我們的客戶需要一套能夠協助他們與企業內部或是委外晶圓代工廠進行協同合作的解決方案，在IP資訊獲得保護下快速診斷缺陷問題。惠瑞捷良率學習解決方案不但能夠提高協同合作效率，更對設計問題進行特性化分析，此一獨特優勢讓半導體廠商得以即時回應並修正異常良率，進而加速產品上市時程。」

領先業界的整合式解決方案
惠瑞捷的良率學習解決方案整合領先業界的測試機台架構V93000、缺陷分類定位軟體 (Triage Fault Locator)、以及YieldVision軟體工具組，後者是業界最先進的未切割晶片測試 (on-tester) 與軟體工具，可進行缺陷資料擷取與良率分析。V93000獨步業界的高延展性架構使得良率學習解決方案得以完全整合其中；分類軟體 (Triage) 的專利運算技術創造出前所未有的資料處理效率；YieldVision分析與視覺化工具則可快速找出實體缺陷的根本成因，大幅縮短問題診斷時間。因此，這套解決方案將能大大提升診斷問題以及解決問題的效率。

上市時間
惠瑞捷目前正積極協助早期導入客戶採用良率學習解決方案。預計該解決方案可在今年年底全面上市。詳細產品資訊，請上網瀏覽www.verigy.com/go/yield。

良率學習解決方案將於2009年7月14至16日加州舊金山的SEMICON WEST展覽中展示。惠瑞捷攤位設於展覽館南棟編號921。

作者: chip123 時間: 2009-7-14 05:26 PM
標題: 惠瑞捷V6000 WS記憶體測試系統新增SmartRA冗餘分析功能
【2009年 7 月 14日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試廠商惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA (Scalable Memory Redundancy Technology)。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求。SmartRA正於今年7月14至16日的SEMICON WEST展覽中展出。

惠瑞捷於2008年11月推出的V6000 WS系統，是業界第一套可同時應用於快閃記憶體與DRAM的晶圓測試系統，不僅具備可擴充性，更能滿足大量測試需求。隨著SmartRA的推出，V6000 WS使用者將可輕鬆地透過冗餘分析功能提升產出量及良率。

隨著DRAM密度日漸成長，晶圓測試也面臨更高的挑戰，需要更強的並行測試能力，測試頻率和元件冗餘電路的複雜程度也逐漸提升。這也為冗餘分析帶來了前所未有的大量資料。因此，在擷取失敗資料並有效完成冗餘分析的過程中，加強儲存空間和效能的需求因應而生。

為滿足業界的眾多需求，惠瑞捷開發了SmartRA，藉由此解決方案具備的高效能刀鋒伺服器，企業可依據本身需求提高冗餘分析的處理效能，無須擴充測試機台容量。另外，SmartRA採用開放性軟體架構，客戶可選擇採用惠瑞捷提供的演算法或另外自行開發，可縮短上市時程並降低測試成本。

惠瑞捷記憶體測試解決方案事業部副總裁Gayn Erickson表示：「不同於其他可執行冗餘分析的測試系統，新增了SmartRA技術的V6000系統無須另外添購替代硬體，即能維持產出量與良率。SmartRA的獨特架構與領先業界的產出能力，能讓DRAM製造商以最低成本持續擴充升級，達到足夠效能以實現最佳良率。」

SmartRA的隱藏式冗餘分析
SmartRA可解決複雜冗餘分析處理所帶來的挑戰，包括暴露冗餘分析時間導致的產出量下降，或是冗餘分析逾時造成的良率損失。新增了SmartRA的V6000測試系統隱藏冗餘分析時間，即使改變測試需求、切換測試模式也不會造成中斷，進而達到提升產出量與良率的效能。

作者: heavy91 時間: 2009-7-23 05:03 PM

惠瑞捷推出V101測試系統進軍消費性IC與低價MCU市場

文/Chip123 編輯部 姚嘉洋

【2009年 7 月23 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司 (Verigy Ltd.) 今日推出V101測試系統。這套全新的100 MHz tester-on-boardTM系統擁有低成本與零佔用空間等優勢，適用於最講求成本效益的積體電路 (ICs) 與微控制器 (MCUs) 製程，執行晶圓測試 (Wafer Sort) 及終程測試 (Final Test)。V101不僅能滿足極低的測試成本要求，並可因應緊湊的產品上市時程。 V101測試系統已於今年的SEMICON WEST展覽中首度對外展示。

惠瑞捷台灣區總經理陳瑞銘表示：「惠瑞捷之前所推出的V93000，在高階測試市場上普遍受到客戶的青睞，此次推出V101，剛好可以滿足客戶在中階到低階產品的測試需求。」

而惠瑞捷副總裁暨ASTS總經理魏津博士則指出：「V101成功地將惠瑞捷備受業界肯定的測試技術首度導入此領域。為因應極為注重成本效益的市場，V101的簡易構造、低故障設計及自我診斷的功能，方便客戶自行安裝與自我維護，足以創造最高的整體價值。」

V101測試系統最高可運作達100 MHz測試工作頻率與1024個I/O通道，為廣泛應用於低階行動通訊與消費性產品的IC與MCU，執行高效率且具經濟效益的測試工作。

V101擁有獨特的Tester-on-BoardTM架構，可藉由內建的數位與直流裝置簡化測試系統硬體及其結構，並能以高產出量及較低成本進行高效率的多元件並行測試。另外，採用標準規格的零組件也讓V101更易於架設與維護。

魏津進一步補充：「V101測試系統的簡易特性能帶給客戶具成本效益且易於操作等前所未有的價值。有鑑於此，許多未曾採納惠瑞捷解決方案的廠商均已表達採用此系統的意願，其中包括有多種元件測試需求的廠商或測試實驗室，以及極為講求成本效益的MCU製造商。」他更指出：「台灣IC設計廠商，在消費性電子的領域上，具有舉足輕重的地位，加上產品生命週期短、平均利潤不高等因素，台灣廠商必須要有低價但卻又是高技術集成的平台來滿足測試需求，V101的推出，剛好與台灣的廠商之需求不謀而合。」

Tester-on-Board架構
V101的數位測試儀器架構內建數位與直流裝置，突破性地兼顧了測試效能與低成本兩項優勢。這套架構也讓V101的產出量可隨用戶需求彈性地擴充。

低成本MCU測試的最佳解決方案
V101是特地設計來有效率地測試4、8與16位元的MCU與其他低接腳數 (pin count) 的低階IC元件。這套數位儀器最高能以8個裝置電源供應器 (DPS，device power supplies) 達到100 MHz的測試工作頻率；同時提供60M的深度向量記憶體 (Vector Memory) 以及8M的數位擷取儲存記憶體 (Capture Memory)，因應快速的元件生命週期並進行修正，可降低雜訊、提升測試準確度與良率。內建的多功能直流測量單位 (MMUs，Multi-DC Measurement Units) 可免除額外的類比卡 (analog cards) ，直接進行嵌入的類比/數位轉換器 (ADC)測試，達到降低成本的目標。

晶圓測試最佳解決方案
V101是唯一支援直接探針測試 (direct probing) 的最佳晶圓測試系統，無須額外的pogo tower或其他高成本的外加介面，因而能大幅節省成本。V101的設計亦有助於提升晶圓測試的訊號保真度 (signal fidelity) 以及簡化生產設定工作。

易於操作的軟體
V101採用惠瑞捷屢獲獎項肯定、易於學習與操作的StylusTM作業系統軟體。Stylus提供直接的電子設計自動化 (EDA) 連結，可縮短程式開發時程。採用STIL標準的測試程式不僅可簡化其他STIL標準的測試程式轉換作業，當軟體搭配深度向量以及數位擷取儲存器記憶體時，更可大幅縮短程式開發時程。

多元化應用
V101針對兼具高效能與經濟效益的生產測試而設計，測試範圍涵蓋用途廣泛的多種低成本IC元件：

-4/8/16位元MCU
-顯示器驅動控制器
-介面週邊應用
-一般用途的特殊應用積體電路 (ASIC)
-嵌入式記憶體
-嵌入式類比數位轉換器

價格與通路
V101測試系統基本配備512個I/O通道。惠瑞捷依接腳數計價的方式，能讓客戶依據實際所需，以合理的價格調整產品產出量。

[ 本帖最後由 heavy91 於 2009-7-23 05:05 PM 編輯 ]

作者: tk02376 時間: 2009-12-31 07:43 AM
標題: 惠瑞捷榮獲VLSI Research客戶滿意度五顆星最高評價
2009年唯一獲獎的測試設備供應商

【2009年12月28日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷今日宣布首次榮獲VLSI Research的年度客戶滿意度評選五顆星最高評價。同時，惠瑞捷也是本年度13家獲獎企業中唯一入榜的測試設備製造商。

VLSI Research的年度調查是根據企業的擁有成本、商務表現品質、產品性能、客戶服務、技術領導地位及企業承諾等六大面向進行評選。其評選結果是依據超過35,000份來自全球半導體製造設備使用者的問卷調查，這些受訪者同時代表了全球95%的半導體生產量。在VLSI Research 2009年針對晶片製造設備商的客戶滿意度調查中，惠瑞捷在其中五大面向均勇奪五顆星的最高評價。

VLSI Research執行長G. Dan Hutcheson表示：「惠瑞捷不僅被公認為測試領域的頂尖廠商，今年更一舉摘下客戶滿意度獎的五顆星最高評價，成為唯一獲此殊榮的測試設備製造商。惠瑞捷具備出色的產品設計能力，在各類半導體測試設備上均穩居技術領導地位，其售後服務更能協助客戶成功達成目標，他們的獲獎可謂實至名歸。」

惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示：「我們非常榮幸能獲得此項殊榮，肯定惠瑞捷在提供一流設備與客戶服務上的持續努力。這也將成為惠瑞捷持續精進的動力，在來年的表現能更上一層樓。」

作者: tk02376 時間: 2009-12-31 07:43 AM
VLSI Research Inc.簡介

VLSI Research Inc. 是業界盛名針對高科技半導體製造產業的技術、商業和經濟等層面，從事市場研究與經濟分析的公司，素以無可比擬的準確度、市場研究方法創新、以及精準掌握半導體製造產業的快速脈動著稱。VLSI Research有關半導體製造的資料庫廣為業界以及政府部門採用。公司的主要資料庫與報告涵蓋半導體、平面顯示器、太陽能電池與模組等製造產業，以及這些產業與其相關科技產業中，重要次系統與零組件的市場分析。VLSI Research創立於1976年。

關於本評選

VLSI Research每年舉辦的「半導體製造設備商客戶滿意度調查」是半導體製造商公開對供應商表達意見的唯一機會。設備製造商需要一份明確的評量基準以衡量企業表現。由於設備製造商的成功不再全然取決於技術能力或上市時程，企業也並非單靠市佔率來評斷其優劣，因此客戶滿意度已成為評量企業表現的關鍵因素。企業必須充分掌握客戶評價才能精進市場地位。各領域的前十大廠商與最佳廠商排名均旨在表揚最受客戶好評的供應商。

作者: heavy91 時間: 2010-2-9 02:49 PM
標題: 創意電子採用惠瑞捷V101測試系統滿足低成本與高產量的消費性電子產品測試需求
【2010年2月9日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷宣布，系統單晶片 (SOC) 設計代工領導廠商創意電子 (Global Unichip Corp.) 已採用惠瑞捷V101測試系統。V101為惠瑞捷新推出的100 MHz測試系統，擁有低成本與零佔用空間等優勢，可協助創意電子進行更大量的平行測試並提升產出量，其易於操作的特性也將使軟體與測試程式的開發工作更具成本效益。

創意電子副總經理鄒覺倫表示：「身為IC設計代工的領導廠商，創意電子設計的SOC往往極為複雜，有數百萬個閘極以及高速介面，而我們一直倚賴惠瑞捷的V93000機台來完成複雜的SOC測試工作。身為惠瑞捷的長期客戶，我們很高興能採用新推出的V101測試系統，這套系統具備此領域最重視的高效率和易於操作的特性，能讓我們和惠瑞捷一同為顧客創造更高的價值。」

惠瑞捷業務與服務支援副總裁Pascal Ronde表示：「惠瑞捷不斷追求創新的傳統讓我們持續為業界提供最佳的解決方案。根據市場分析數據顯示，有了新推出的V101測試系統，惠瑞捷2010年在SOC的服務市場將可擴增4億美元。我們很高興創意電子肯定V101能創造的整體價值，隨著創意電子在產業下游推動這套測試系統，我們也期待深化彼此的合作關係。」

作者: heavy91 時間: 2010-2-9 02:59 PM
符合成本效益至上的最佳解決方案
V101是一套高效率且高經濟效益的測試系統，用來測試各類應用於低階行動通訊和消費性產品的低成本IC元件。V101測試系統最高可運作達100MHz測試工作頻率與1024個I/O通道，能為極注重成本效益的IC和MCU市場，執行高效率且具經濟效益的測試工作。

V101擁有獨特的Tester-on-BoardTM架構，可藉由內建的數位與直流裝置簡化測試系統硬體及其結構，並能以高產出量及較低成本進行高效率的多元件並行測試。另外，採用標準規格的零組件也讓V101更易於架設與維護，其系統架構更能因應客戶的需求調整，彈性增減產出量。

V101是目前業界唯一支援直接探針測試 (direct probing) 的最佳晶圓測試系統，因而能大幅節省成本、提升晶圓測試的訊號保真度 (signal fidelity)，以及簡化晶圓測試時的生產設定工作。

V101採用惠瑞捷備受肯定且易於學習與操作的StylusTM作業系統軟體。Stylus提供直接的電子設計自動化 (EDA) 連結，可縮短程式開發時程。採用STIL標準的測試程式不僅可簡化其他STIL標準的測試程式轉換作業，當軟體搭配深度向量以及數位擷取儲存器記憶體時，更可大幅縮短程式開發時程。

作者: chip123 時間: 2010-4-19 04:45 PM
惠瑞捷出貨多套V93000 Port Scale射頻系統協助客戶測試無線通訊用半導體

【2010年4月19日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷日前對某長期合作廠商出貨多套 V93000 Port Scale 射頻系統，以協助測試該廠商超低價手機用射頻單晶片 (RF-SOC)。

市場研究機構 iSuppli 指出，全球超低價手機的需求人口數約為16億，其中多數集中在中國與印度等新興國家，這些國家有為數眾多的人口未曾購買過手機。iSuppli並預估，2009至2013年間全球超低價手機市場將成長兩倍，達到2億台的規模。

惠瑞捷股份有限公司業務支援與服務副總裁Pascal Ronde表示：「這家客戶目前已採用多套V93000 Port Scale射頻測試系統，在生產過程中測試RF-SOC裝置。這套V93000測試系統可在不同階段進行測試，並同時兼顧高速測試、準確度與效能，具彈性的平台架構可測試無線電接收器與其他關鍵元件，幫助使用者增加製造產出量。」

射頻晶片為手機、全球定位系統 (GPS)、調諧器等多項應用中的重要元件。射頻裝置市場不斷要求更快的處理速度與更小的尺寸，促使半導體業界整合更多射頻功能，推出可支援GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE、EDVO等多項通訊協定的單一晶片，而要穩定地量產這些晶片，就要仰賴先進的IC測試性能。

惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統可利用真正四組元件同測能力與高效率的多元平行測試能力，以最小成本測試多達48個射頻測試埠。從低整合度射頻收發器的高產能測試，到先進元件 (內含射頻混合訊號、數位、電源管理、嵌入式或堆疊式記憶體) 的測試，這套系統皆可提供經濟有效的射頻測試應用。

作者: tk02376 時間: 2010-6-7 05:26 PM
標題: 惠瑞捷V93000 Port Scale 射頻測試系統出貨數量達250套
【2010年 6 月 7 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷日前宣布出貨第250套V93000 Port Scale射頻測試系統。此項里程碑證明V93000自2007年6月上市以來備受市場肯定，迅速獲得整合元件製造商 (IDM)、IC設計公司及其封測代工 (OSAT) 夥伴的廣泛採用。業界領導廠商已採用此機台測試多種射頻元件，包括2G、3G與4G行動通訊、藍芽、無線區域網路 (WLAN)、WiMAX以及全球定位系統 (GPS)。

在目前眾多的消費性電子裝置中，射頻元件扮演著關鍵角色，在產品尺寸、外型與製造成本均持續緊縮的趨勢之下，半導體製造商積極地將更多的射頻功能整合至可支援多項通訊協定的單晶片上。因此，為了兼顧成本效益與穩定度，以量產測試埠較多且頻寬較大的射頻IC，半導體製造商皆追求具備低成本特性的先進測試效能。

惠瑞捷V93000 Port Scale射頻系統最多可配置96個射頻測試埠，提供8組元件並行測試，以高效率的多元件並行測試能力，達成高品質且低成本的產出。這套可擴充的測試系統可依據不同的功能與價格定位來配置，滿足每個客戶的特定需求。無論是功率放大器、調諧器、收發器等低整合度裝置，或是整合混合訊號、數位、電源管理以及嵌入式或堆疊式記憶體的高整合度射頻裝置，皆可由V93000進行測試。此外，V93000的多功能測試架構讓客戶能運用單一機台測試所有的射頻與系統單晶片 (SoC) 產品線，無需為不同應用的產品設置多個測試平台。

惠瑞捷SOC測試事業部副總裁Hans-Juergen Wagner表示：「Port Scale 射頻系統可讓客戶依據不同的射頻元件區隔應用進行彈性調整，範圍涵蓋高度整合、低度整合及介於其中的各種元件。這次在出貨量上達成的記錄再次證明V93000機台具備前所未有的強大效能，能為多元化的各類應用提供最具成本效益的解決方案，幫助客戶極大化產能利用率，實現最高的投資報酬率。」

作者: heavy91 時間: 2010-6-10 02:21 PM
標題: 惠瑞捷榮登2010年VLSI Research自動化測試設備供應商客戶滿意度榜首
【2010年 6 月 10 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷今日宣布榮獲VLSI Research 2010年客戶滿意度調查的兩個獎項，分別是「自動化測試設備 (ATE) 供應商第一名」，以及「全球十大最佳半導體製造設備大型供應商」。VLSI Research為專注於半導體產業的市場研究與分析公司。

在自動化測試設備供應商的客戶滿意度調查中，整合設備製造商, 晶圓廠，與測試廠均給了惠瑞捷第一的評分。在最佳半導體製造設備大型供應商的調查中，儘管範圍更廣、市場區隔也不同，惠瑞捷仍在這項調查中勇奪第三。

這使得惠瑞捷締造了連續五年名列VLSI Research十大最佳測試設備供應商；也是連續兩年在此獎項中奪冠的ATE公司。

惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示：「這兩個獎項顯現我們公司整體對提供最佳的晶片測試的支持與承諾。非常榮幸我們的努力持續的受到客戶認同與最高的評價。」

作者: heavy91 時間: 2010-6-10 02:21 PM
VLSI Research執行長G. Dan Hutcheson指出：「惠瑞捷公司在客戶滿意度調查的十三個項目中的十一個名列第一。沒有任何其他ATE公司曾經得到今年惠瑞捷這麼高的分數。我們恭賀惠瑞捷在客戶滿意，以及追求卓越上所做的努力，而得到客戶最高的肯定。」

VLSI Research的年度客戶滿意調查是半導體製造商可以公開對設備供應商表達意見的唯一機會。十大最佳排名是用來獎勵被客戶評分高的供應商。2010年的評比結果是依據2010年初所做的問卷調查，該調查全球總共發出了34,238份問卷。根據VLSI Research公司的資料顯示，所有回覆客戶滿意度調查的公司代表了全球半導體生產量的95%。

VLSI Research Inc.簡介

VLSI Research Inc. 是業界知名針對奈米與相關科技的技術、商業和經濟等層面，從事市場研究與經濟分析的公司。素以無可比擬的準確度、市場研究方法創新、以及精準掌握半導體製造產業的快速脈動著稱。VLSI Research有關半導體製造的資料庫廣為業界以及政府部門採用。公司的主要資料庫與報告涵蓋半導體、平面顯示器、太陽能電池與模組等製造產業，以及這些產業與其相關科技產業中，重要次系統與零組件的市場分析。VLSI Research創立於1976年。VLSI Research網站為：www.vlsiresearch.com。

作者: atitizz 時間: 2010-6-14 03:30 PM
惠瑞捷V101平台新增混合訊號測試功能 V101平台測試範圍可涵蓋混合訊號晶片的終程測試

【2010年6月14日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷宣布，惠瑞捷V101測試平台新增可測試混合訊號半導體元件的功能。V101是一款多功能的測試平台，專為大量測試且注重成本效益的元件而設計，可用於晶圓測試 (Wafer Sort) 與終程測試 (Final Test) 等製程。V101平台新增混合訊號測試功能後，將可用於測試具備聲音與影像訊號的元件。

新增加的混合訊號測試功能僅需透過一套隨插即用的模組，便可簡單快速地安裝至V101測試平台，用於測試汽車、通訊、資料處理以及各種消費性影音產品等裝置中所需的混合裝置。類元件的製程極為繁複，但是體積超小，號稱「零佔用空間」的V101測試平台能夠以符合成本效益的方式，測試微控制器與其他低接腳數、低成本的IC。

惠瑞捷副總裁暨ASTS總經理魏津博士表示：「在目前電子產品對成本效益錙銖必較的要求下，半導體設計與製造業者皆面臨艱鉅的挑戰，除了致力於降低測試成本，還要縮短量產與上市時程。現在惠瑞捷V101測試系統新增混合訊號測試功能，適時解決了混合訊號元件市場上的迫切需求。」

作者: atitizz 時間: 2010-6-14 03:30 PM
惠瑞捷V101測試系統最高可運作達100 MHz測試工作頻率與1024個I/O通道，且能執行影音頻段混合訊號測試。新增加的混合訊號測試功能讓V101測試平台更為彈性，能夠處理多元化的嵌入式零件技術及各類微處理器與IC，執行符合經濟效益的測試工作。

V101測試平台採用惠瑞捷模組化的Tester-on-BoardTM 架構，精簡化的硬體、架構與系統支援讓V101具備更高的成本效益。惠瑞捷的Tester-on-BoardTM 架構已獲得專利，可將數位元件、裝置電源供應與直流裝置內建於測試板，根據數位接腳數進行測試。惠瑞捷V101測試平台採用標準規格的零組件，能確保系統可靠性並易於進行維護和安裝，系統架構則適用於包含混合訊號在內的多種半導體元件，可執行具成本效益的晶圓測試與終程測試。

V101測試平台採用惠瑞捷經製程驗證且備受肯定的StylusTM作業系統軟體，其STIL標準測試程式讓使用者易於操作，不僅讓程式開發更快速有效率，還能簡化跨程式的測試轉換作業，大幅縮短開發時程。

作者: tk02376 時間: 2010-6-15 08:22 AM
標題: 惠瑞捷榮登自動化測試設備供應商客戶滿意度榜首
【2010年 6 月 10 日，台北訊】全球首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷今日宣布榮獲VLSI Research 2010年客戶滿意度調查的兩個獎項，分別是「自動化測試設備 (ATE) 供應商第一名」，以及「全球十大最佳半導體製造設備大型供應商」。VLSI Research為專注於半導體產業的市場研究與分析公司。

在自動化測試設備供應商的客戶滿意度調查中，整合設備製造商, 晶圓廠，與測試廠均給了惠瑞捷第一的評分。在最佳半導體製造設備大型供應商的調查中，儘管範圍更廣、市場區隔也不同，惠瑞捷仍在這項調查中勇奪第三。這使得惠瑞捷締造了連續五年名列VLSI Research十大最佳測試設備供應商；也是連續兩年在此獎項中奪冠的ATE公司。

惠瑞捷總裁暨執行長龐恩凱表示：「這兩個獎項顯現我們公司整體對提供最佳的晶片測試的支持與承諾。非常榮幸我們的努力持續的受到客戶認同與最高的評價。」

VLSI Research執行長G. Dan Hutcheson指出：「惠瑞捷公司在客戶滿意度調查的十三個項目中的十一個名列第一。沒有任何其他ATE公司曾經得到今年惠瑞捷這麼高的分數。我們恭賀惠瑞捷在客戶滿意，以及追求卓越上所做的努力，而得到客戶最高的肯定。」

VLSI Research的年度客戶滿意調查是半導體製造商可以公開對設備供應商表達意見的唯一機會。十大最佳排名是用來獎勵被客戶評分高的供應商。2010年的評比結果是依據2010年初所做的問卷調查，該調查全球總共發出了34,238份問卷。根據VLSI Research公司的資料顯示，所有回覆客戶滿意度調查的公司代表了全球半導體生產量的95%。

作者: tk02376 時間: 2010-7-1 10:07 AM
惠瑞捷為其晶圓級晶片尺度封裝(WLCSP)市場的V93000 平台新增 Direct-Probe™ 解決方案新功能在降低成本的同時也縮短了測試週期時間

【2010年6月30日，台北訊】首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy) (納斯達克交易代碼：VRGY) 在其經生產驗證的 V93000 平台中新增了 Direct-Probe™ 解決方案，從而提升了該平台的擴充性。這款針對數位、混合信號和無線通訊積體電路 (Wireless Communication IC) 的高性能針測(probe test)產品在進行量產、多點針測時表現出最高的信號完整性。

新的 Direct-Probe 創新型射頻 (RF) 解決方案降低了射頻設備、高接腳數(high-pin-count)數位設備以及複雜的混合信號設備的測試成本，使全球半導體市場能夠快速向高性能針測和晶圓級晶片尺度封裝 (WLCSP)轉型。惠瑞捷的 V93000 平臺在增加 Direct-Probe 射頻解決方案後消除了晶圓和測試機之間的傳統機構介面，從而減少了訊號路徑(signal-path)連接點的長度和數量，顯著提高了射頻設備測試的信號完整性。

作者: tk02376 時間: 2010-7-1 10:07 AM
具有 Direct-Probe 射頻解決方案的 V93000 在設計時可使用適合晶圓探針和終程測試(final test)的單測試載板 (single-load board)，從而縮短 IC 從開發到生產的時間，使探針和終程測試間的相關工作量降至最低，並實現強大的多點測試能力。惠瑞捷的 Direct-Probe 射頻功能提供應用使用上最大面積的元件區，使一個44000平方毫米的區域保持平滑，平面水平偏差僅為+1毫米。

此外，V93000 Direct-Probe 解決方案使整個平台能夠相容所有規格的測試機，同時 V93000可擴展架構還提供多功能全方位射頻半導體設備的測試。

惠瑞捷SOC測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示：“隨著晶圓級晶片尺度封裝技術的快速發展，目前單一封裝的元件測試與處理的晶圓探針踏入多接點(multi-site)、非單一並行的測試。從本質上說，這意味著元件封裝正逐漸成為晶圓處理製程的最後一步，使得探針可以作封裝完成後之最終測試。為迎合這一趨勢，我們認為，我們新的 Direct-Probe 射頻解決方案提供了業界最高的晶圓測試性能，將測試成本降至最低，同時可以最大限度地提高包括藍芽 (Bluetooth) 產品、全球定位系統(GPS)和無線局域網 (WLAN)無線設備的各種 IC 的測試資源。”

Wagner 接著說：“首批裝有惠瑞捷新 Direct-Probe 射頻解決方案的V93000 系統將於本月開始發貨，預計年底前將在客戶端上線。”

作者: heavy91 時間: 2010-7-23 08:09 AM
惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 推出用於先進DRAM 測試的單次觸壓、全晶圓探針
業界最低壓力的探針卡保護受測元件免受潛在的破壞性壓力

【2010年7月21日，台北訊】領先的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy)（納斯達克代碼：VRGY）旗下全資子公司 Touchdown Technologies 今天推出了其 1Td300 全晶圓探針卡，這是該公司首款用於先進 DRAM 記憶體元件單次觸壓、高容量測試的探針卡。該產品能夠對 300 mm或200 mm 晶圓進行相當高的並行測試(highly parallel testing)。

具備有每探針只需要2g壓力就能夠測試整個300 mm晶圓——堪稱業界最低的探針壓力，所需壓力不到市面上同類產品的一半——1Td300 探針卡提供了雙重優勢，不僅能夠降低待測晶圓和整個測試設備的壓力，同時更高的接腳數拓展了半導體的測試藍圖。《國際半導體技術藍圖》 (ITRS) 預計，到2011年，一般型DRAM 的多晶片並行測試將從2010年測試的512個晶片增加到768個。這相當於目前 DRAM 超過50,000的接腳數，隨著晶片尺寸繼續變小逐漸攀升至100,000。

惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 總裁 Patrick Flynn 表示：“由於像 DDR3 記憶體這樣的先進半導體接腳數逐漸增加，必須藉由不斷提高並行性(parallelism)水準才能降低測試成本。透過我們新推出的 1Td300 探針卡，我們已經開發出具有超低壓力的可靠、單次觸壓測試解決方案，能夠在實現所需的平面度和摩擦性能的同時不損害待測元件。”

Touchdown Technologies 的新探針卡使用獲得專利的全晶圓架構和基於MEMS 的ACCU-TORQ™ 彎曲探針進行非常平滑的單次觸壓測試。Touchdown Technologies 繼去年為 NAND 和 NOR 快閃記憶體推出首款1Td300 單次觸壓探針卡之後推出了該產品。

惠瑞捷子公司 Touchdown Technologies 簡介
創立於2004年，Touchdown Technologies 致力於設計、製造和支援用於測試半導體晶圓和晶片的先進 MEMS 探卡。2009年，Touchdown Technologies 成為領先的半導體測試設備公司惠瑞捷旗下全資子公司。作為惠瑞捷旗下公司，Touchdown Technologies 致力於通過為高平行性探卡提供創新的可升級技術，以降低測試成本。該公司完全有能力滿足所有存儲應用需求，包括 DRAM、NAND、NOR 和 Serial Flash。有關 Touchdown Technologies 更多詳情，可查詢： www.tdtech.com網站。

作者: heavy91 時間: 2010-7-23 08:10 AM
惠瑞捷全新的 HSM3G 高速記憶體測試解決方案為 DDR3、DDR4和更高級的記憶體提供了低廉的測試成本
平價的升級提供了未來三代設備多代發展路徑

【2010年7月21日，台北訊】惠瑞捷 (Verigy)（納斯達克代碼：VRGY）推出了全新的 HSM3G 高速記憶體測試解決方案，進一步拓展V93000 HSM 平台在以DDR3世代為主的記憶體 IC 和未來更高級記憶體的測試能力。V93000 HSM3G 獨特的優勢在於其未來的可升級性，能夠為未来的三代 DDR 記憶體提供資料傳輸速度高達6.8 Gbps且價格低廉的測試服務，從而前所未有地長期節約測試成本。

惠瑞捷 SOC 測試副總裁 Hans-Juergen Wagner 表示：“記憶體製造商一直在尋找一種既能滿足其生產和功能需求又能提供比一個世代產品壽命更長、投資價值更高的經濟型 ATE 解決方案。我們可升級的V93000 HSM 測試平台提供前所未有的使用壽命，能夠為從 DDR3 到 DDR4 再到將來更高級的主流 DRAM 至少三代產品提供卓越的投資報酬。這些測試的經濟效益，在業界其它產品均不可及。”

V93000 HSM3G 已俱備未來的速度和功能性，提供了高速記憶體測試市場上最完整的特性。其可程式設計的、全速的每引腳 APG 能力加上能夠產生針對資料匯流排倒置 (DBI) 和循環冗餘檢查碼 (CRC)所需的相關測試資料，對於進階的 DDR4 記憶體技術特性能夠提供足夠的測試需求，以確保較高的測試品質和產量。

得益於其每引腳的記憶體自動測試設備處理能力，V93000 HSM3G 可以節約高達20%的測試時間。它可以提供全並行模式的功能測試 (parallel pattern execution)、全並行的DC特性檢測以及眼圖的測量(eye-width measurements)，從而提供了相當高的多工效率。

V93000 HSM3G 可以提供實質 2.9 Gbps 的資料傳輸速度以及完善的256-site DDR3並行測試(parallel testing)，在整個所需的測試速度範圍內不會增加任何不必要的測試時間，也不會影響準確性、功能性、測試範圍以及產量。歸功於可提供充裕的實質速度(native speed headroom)，HSM3G 可以滿足所有主流DDR3 各種速度分級需求以及高級遊戲機DDR3 和前兩個 DDR4 量產的速度等級。V93000 平台架構對於未來更高速的產品測試需求，確保將來能夠升級的能力。

作者: heavy91 時間: 2010-7-23 08:11 AM
惠瑞捷在韓國客戶的生產線上安裝首款具有每接腳8 Gbps高速記憶體測試卡V93000測試機

【2010年7月21日，台北訊】首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy) (納斯達克交易代碼：VRGY) 在韓國一家不具名客戶的生產設備內安裝並驗證其首款可生產的V93000 HSM6800系統。這套新系統是唯一的一款為當今運行速度超過每接腳4 Gbps GDDR5超快記憶體積體電路 (IC)的全速高良率測試解決方案。與當今市場上的其它超高速記憶體測試系統相比，它具有重大的產能優勢。

市場研究公司 iSuppli Corp. 表示，約有90%的 GDDR5產品均產自韓國。藉由以實際速度測試這些高速記憶體，並結合功能齊全的特性，惠瑞捷的 V93000 HSM6800 讓客戶能應對高速發展的半導體市場，例如能生成更逼真、更高解析度圖像的高級顯示卡。

惠瑞捷新的測試機已安裝用於客戶最新設計晶片的工程和生產測試。該系統上市後還將能用於生產廠的 IC 樣品和大批量產測試。

作者: heavy91 時間: 2010-7-23 08:13 AM
惠瑞捷系統級晶片 (SOC) 測試解決方案副總裁 Hans-Juergen Wagner 說：“我們的 V93000 HSM6800系統每接腳具有8 Gbps 的能力，使用壽命更長，適用於多世代記憶體元件(multi-generation memory devices)，使其具有最佳良率。在驗證時，這款測試機的良率和產出均高於與之相競爭的系統，從而能為客戶提供更好的投資回報 (ROI)。”

惠瑞捷 V93000 HSM6800 系統的一系列豐富特性支援針對 GDDR5 眾多先進功能的測試，包括位址匯流排倒置 (ABI)、資料匯流排倒置 (DBI) 和循環冗餘碼檢查 (CRC)。這些應用預計也將適用於 DDR4。此外，該測試機的靈活 APG 架構能測試一般8-bit資料框(frame)的記憶體，還能擴展測試未來具10-bit資料框的記憶體世代。憑藉其可擴充設計，惠瑞捷 V93000 HSM 系列成為能滿足所有上市高速記憶體存儲技術測試所需的性能、功能和經濟要求的唯一平臺。

除了這款新測試機，該客戶也安裝了惠瑞捷上一代 V93000 HSM3600 系統。這系統4年來一直用於測試高速記憶體 IC。

作者: tk02376 時間: 2010-9-5 09:59 AM
惠瑞捷於京元電子安裝多台 V93000 SOC 測試機台
台灣客戶選擇惠瑞捷作為進入 RF SOC 市場的首選設備廠商

【2010年9月2日，台北訊】–領先的半導體測試公司惠瑞捷 (NASDAQ: VRGY)的長期客戶，全球最大的半導體測試代工廠之一的京元電子股份有限公司 (以下簡稱京元電子)，已選擇惠瑞捷作為其進入 RF SOC (射頻系統單晶片) 元件市場的首選測試設備合作廠商。

京元電子已訂購並安裝多台裝有 Pin-Scale數位信號量測模組(digital cards)的惠瑞捷 V93000 SOC 測試機台，用於測試針對射頻式行動運算應用 (包括消費性電子) 的高容量半導體。惠瑞捷的 V93000 Port Scale 射頻系統有高效率的多測試埠(Multi-site) 平行測試能力，此外，產出率為同級最佳，且測試成本低。除了支援京元電子對於射頻半導體測試的初期需求外，這些系統彈性空間大，也能加以調整以測試繪圖元件與混合訊號 IC。

訂單上的每個射頻測試機台均配備惠瑞捷的 Pin-Scale 數位與類比卡，這些晶片卡能夠讓每個針腳都有因應測試需求改變而調整的彈性，並能快速設定，因此讓惠瑞捷的測試台有最佳的速度與精準度。另外每個針腳都提供單端與差動 I/O 測試功能，適合測試各種介面，並能夠在測試中逐一針腳的將設備與元件進行比對，因此可獲得最佳的設備使用率與最低的測試成本。測試機台能夠隨著元件需求的改變，以符合經濟效益的方式額外新增高速的針腳。

惠瑞捷的 V93000 平台現已安裝完成，是在京元電子裡唯一具有完整使用率的測試設備。每部測試機台皆使用惠瑞捷的 Pin-Scale 卡，可針對特定類型的 IC 進行微調，讓京元電子能夠針對各式各樣的半導體進行多樣性的測試，可測試的半導體範圍從低整合度的元件，如功率放大器、微調器、收發器，到高整合度的射頻元件，像是整合了混合訊號、數位、電源管理與嵌入式或堆疊式記憶體的射頻元件。

作者: tk02376 時間: 2010-9-5 10:00 AM
京元電子營運長張高薰表示：「我們的選擇標準著重在投資報酬率。我們之所以選擇惠瑞捷作為我們首選的設備合作夥伴，是因為它的測試機台有很大的運用彈性與效能，以及惠瑞捷有非常優秀的工程支援團隊，且對持續不斷提升產品功能的承諾。」

惠瑞捷全球銷售、服務與支援副總裁 Pascal Ronde 表示：「我們與京元電子的合作是設備使用者與供應商之間互惠合作的成功典範。而京元電子的重複下單也證明了對我們 V93000 系統生產力的肯定。經過這一次最新的系統安裝後，對京元電子的台灣新竹和竹北廠，在IDM（整合元件製造商）和無晶圓廠半導體設計公司的RF SOC 測試業務將能夠得到很大的提升。」

關於京元電子股份有限公司
京元電子股份有限公司為世界級半導體後段服務的領導廠商，該公司所提供的測試方案，可支援所有生產應用的最新測試平台。該公司提供晶圓針測、終程測試、晶圓研磨、切割、挑揀，預燒 (Burn-In) 到代客出貨 (Drop Ship) 等整合性半導體產業系列服務，成為全世界晶圓代工廠、IDM廠和無晶圓半導體廠等尋找「一次購足」(One Stop Shop) IC 測試合作夥伴時的最佳選擇。京元電子股份有限公司成立於 1987 年，是全球最大的測試廠之一，具備四個最先進的設備，員工人數超過 4,200 人，區域辦事處遍佈全球，在美國、日本、歐洲與新加坡皆設有辦事處。

作者: atitizz 時間: 2010-10-29 07:46 AM
標題: 惠瑞捷推HSM3G高速記憶體測試解決方案
半導體測試廠商惠瑞捷（Verigy）推出HSM3G高速記憶體測試解決方案，可為DDR3、DDR4 和更高級的記憶體，提供低廉的測試成本。這項革新的解決方案，應用於DDR3世代主流記憶體IC及更高級存放裝置測試能力的V93000 HSM平台。

惠瑞捷表示，V93000 HSM3G最大的優勢在於未來的升級性，特別是為資料傳輸速度高達6.8 Gbps的三代DDR記憶體提供價格低廉的測試服務，以及長期節約的經濟成本。

惠瑞捷SOC測試事業部副總Hans-Juergen Wagner指出，記憶體製造商一直在尋找一種既能滿足生產和功能需求，又能提供比上一代設備壽命更長、投資價值更高的節約型ATE解決方案。V93000 HSM測試平台的壽命，讓客戶跨越DDR3到DDR4，甚至於未來的主流DRAM規格，提供至少三代卓越的投資回報。

V93000 HSM3G的速度和功能將來都可以升級，提供高速存儲卡測試市場上最完整的功能；其可程式設計、快速的每引腳APG能力，得到了資料匯流排倒置（DBI）和迴圈冗餘校驗碼（CRC）資料的支援，能夠對高級的DDR4記憶體技術功能進行測試，確保較高的測試品質和產量。

惠瑞捷表示，V93000 HSM3G在整個速度範圍內實現了2.9Gbps的原生資料傳輸率以及256-site DDR3實際並行測試（parallel testing），無需任何測試時間與管理費用，也不會影響準確性、功能性、測試範圍以及產量。拜系統的原生速度餘量（native speed headroom）的優勢，HSM3G可以滿足所有主流DDR3總線速度需求，以及高端遊戲DDR3以及前兩個DDR4大規模速度等級。

惠瑞捷是全球指標性半導體測試大廠，提供設計驗證、特性量測、以及大量生產需求的半導體測試系統和解決方案；涵蓋各種系統級晶片（SOC）、快閃記憶體和DRAM（包括高速記憶體）存儲系統，以及多晶片封裝（MCP）測試解決方案。

作者: atitizz 時間: 2010-10-29 07:46 AM
標題: 智慧型裝置領軍 2010年ATE市場大躍進
現代人生活在一個3C無所不在的世界，包括智慧手機、平板電腦（tablet PC）、電子書閱讀器（eReader）、筆記型電腦，各種智慧型裝置充斥於我們的周遭。由於複合式功能不斷革新，相對也提升了混合訊號晶片測試的需求，進一步成為拉抬自動化測試設備（Automatic Test Equipment；ATE）市場的最大驅動力量。

根據Gartner的市調報告指出，2010年全球半導體整體資本設備支出約369億美元，相較209年的166億美元大幅成長了122.1%，至於2011年，則預估將微幅增加4.9%。

從Gartner的報告，不難看出今年ATE市場的火紅程度，Gartner預估2010年全球自動測試設備市場將成長144%，甚至比晶圓廠設備部門的119.9%，及封裝設備部門的123%都來得高。

對於市場的發展現況，惠瑞捷則表示，目前推動ATE市場成長的主力主要來自於行動裝置、高階繪圖應用、數位消費性產品（如HDTV、3D TV、STB、藍光播放機）等，此外，也包括因應寬頻需求的網際網路基礎設施相關裝置（如交換器、路由器），以及微控制器（M U）和記憶體。

作者: atitizz 時間: 2010-12-13 10:50 AM
惠瑞捷宣布收到愛德萬的併購提案重申與LTX-Credence 交易承諾宣布將與愛德萬展開討論

【2010年12月09日，台北訊】–惠瑞捷(NASDAQ: VRGY) 本日宣布，已經收到愛德萬測試 (NYSE: ATE) 的併購提案，欲以每股 12.15 美元的現金價，收購所有待收的惠瑞捷普通股。

惠瑞捷董事會審閱愛德萬提案後認為，該併購提案並未優於惠瑞捷與 LTX-Credence (NASDAQ: LTXC) 尚未底定的交易。不過，惠瑞捷董事會認為，可能因愛德萬併購提案而出現更好的交易，因此決定與愛德萬展開討論。愛德萬的提案或雙方的洽談，並不保證確定產生最終協議或交易。

惠瑞捷董事會依舊認為，與 LTX-Credence 的提議交易，策略與財務利益都具競爭力，並且繼續向股東推薦與 LTX-Credence 的交易。惠瑞捷董事會不會撤回，也不會提議撤回， LTX-Credence 交易方面的建議，並且不會就愛德萬提案做出任何建議。

愛德萬交給惠瑞捷的提案將會向證券與交易管理委員會呈報。惠瑞捷的財務顧問為摩根士丹利 (Morgan Stanley)，美國法務顧問為 Wilson Sonsini Goodrich & Rosati，而惠瑞捷的新加坡顧問則為 Allen & Gledhill。

作者: globe0968 時間: 2010-12-28 03:52 PM
惠瑞捷宣佈收到愛德萬的修訂後併購提案呈交與 LTX-Credence 交易相關的S-4表格形式聲明

【2010年12月27日，台北訊】-- 惠瑞捷有限公司 (Verigy Ltd.)（納斯達克股票代碼：VRGY）今天宣佈，已收到來自愛德萬公司（紐約證券交易所代碼：ATE）的修訂後併購提案，以每股15美元的現金價格收購惠瑞捷的所有上市普通股。

關於修訂後的愛德萬提案，惠瑞捷董事會此時並不作任何推薦，此外惠瑞捷預計將繼續與愛德萬就修訂後的提案展開洽談，包括與潛在交易相關的監管部門方面的事務。愛德萬的修訂後提案或雙方的洽談，並不保證確定產生最終交易。

惠瑞捷董事會繼續向股東推薦與 LTX-Credence 的合併協議，並且此時不會向惠瑞捷股東建議或撤回惠瑞捷和 LTX-Credence（納斯達克股票代碼：LTXC）進行中合併交易的推薦。

根據與 LTX-Credence 之間的合併協議，惠瑞捷還宣佈，該公司預計將于12月23日向美國證券交易委員會呈交S-4表格形式的登記聲明以及聯合代理聲明。

愛德萬向惠瑞捷提交的修訂後提案副本將呈送給美國證券交易委員會備案。

摩根士丹利擔任惠瑞捷的財務顧問。Wilson Sonsini Goodrich & Rosati 公司是惠瑞捷的美國法律顧問，Allen & Gledhill 是惠瑞捷的新加坡法律顧問。

作者: tk02376 時間: 2011-2-15 11:16 AM
惠瑞捷獲VLSIresearch 2010年客戶滿意度調查評為在韓國最佳半導體測試設備供應商 13類評比中惠瑞捷有11項榮獲最高評價

【2011年2月15日，台北訊】– 半導體測試公司惠瑞捷(Verigy) (納斯達克交易代碼：VRGY)，近日獲評為韓國當地最佳測試設備供應商(THE BEST Test Equipment Supplier)，此項客戶滿意度調查的評比是由半導體市場調查機構VLSIresearch所主導而公佈的結果。

在獲選入圍的所有自動化測試設備供應商中，惠瑞捷在13類評比中有11項獲得了最高的評價，分別是：系統運轉時間、產品品質、測試結果、零件提供、售後服務、技術領先、以及承諾。

VLSIresearch的年度晶片製造設備客戶滿意度調查(Customer Satisfaction Survey on Chip Making Equipment)，針對韓國的半導體製造業共發出超過 34,000份的問卷，涵蓋95%的市場範圍。

VLSIresearch執行長G. Dan Hutcheson說：「在如此數量龐大且類別繁多的調查中，能被評為最佳自動測試設備供應商是一個了不起的成就，也由此可知，惠瑞捷在韓國仍將會是一家受到極大讚揚的廠商。」

作者: tk02376 時間: 2011-2-15 11:16 AM
惠瑞捷的總裁兼執行長Jorge Titinger則說：「我們非常榮幸能獲得這樣的好評，這也代表著我們對客戶的承諾獲得了業界夥伴們的認同。未來，惠瑞捷仍將致力於為自動化測試設備用戶提供最優質的服務，不論是在韓國或者是世界各地的客戶。」

關於 VLSIresearch
創立於1976年的VLSIresearch是業界知名針對奈米與相關科技的技術、商業和經濟等進行市場研究與經濟分析的公司。該公司以其卓越的準確度、創新的市場研究方法、以及精準觀察並掌握產業的快速脈動著稱，其與製造業有關的資料庫廣為業界以及政府部門所採用。該公司的主要資料庫與報告涵蓋半導體、平面顯示器、太陽能電池與模組等製造產業，以及與該製造業相關的高科技產業之關鍵子系統和零組件市場。

關於問卷調查
自1988年以來，VLSIresearch的年度晶片製造設備客戶滿意度調查(Customer Satisfaction Survey on Chip Making Equipment)已成為晶片製造商對其設備供應商提出意見的唯一公開管道，設備製造廠商需要在一個精準且公平的基礎上對其各項表現進行評估，而設備製造廠商的成功與否，其決定因素也不再僅由技術實力和市場時機，亦或是取決於廠商的市佔率，顧客滿意度儼然已成為一項重要的衡量指標，廠商需要知道客戶對他們的感受為何，並藉此來不斷提升自家的市場地位。因此「十大最佳(10 BEST)」和「最佳(THE BEST)」的廠商排名，特別根據市場區隔而細分出各領域之供應商，再由來自客戶的回饋資料，評比出獲得最高評價的廠商名單。

作者: globe0968 時間: 2011-2-18 11:33 AM
惠瑞捷VOICE 2011大會針對半導體測試提出多項技術論文簡報與現場實作教學
4月19~21日在北加州的會議已開放報名登記

【2011年2月18日，台北訊】– 由半導體測試公司惠瑞捷(Verigy) (納斯達克交易代碼：VRGY)所主辦的使用者社群會議暨合作夥伴研討會「VOICE 2011」即將於4月19~21日在加州聖塔克魯斯(Santa Cruz)市舉行，此一國際性的論壇中將針對惠瑞捷系統提出廣泛的IC測試技術，並有眾多來自晶片廠商與創新測試技術有關的方案與論文也將在會中發表，與會者將能在現場分享與交流技術觀點外，更能了解最新的半導體測試技術和最佳實作。

惠瑞捷負責主辦今年研討會的會議主席Rich Lathrop表示：「今年，我們有全球各地的半導體製造商提供總計60份技術簡報內容，其中包括來自11個國家、25家公司的論文，也因此讓此會議既具有國際參與性更符合測試相關主題的原始宗旨，而今年各方所提出的優質論文更讓會議生色不少。」

除了由惠瑞捷的客戶、合作夥伴和技術專家們所提供的60場簡報外，該會議還有八場技術應用研討會(technical track)，針對平日客戶所需要的硬體設計、測試技術和方法、工程效益、以及量產測試等主題，提供最實用的產品教學。另外，會場上並安排了惠瑞捷的研發人員、產業專家和供應商的技術人員設置攤位，讓與會者可以在供應商博覽會(Suppliers’ Expo)中，參觀並了解更多相關產品和完整的惠瑞捷解決方案。

作者: globe0968 時間: 2011-2-18 11:33 AM
有鑑於去年活動的成功，今年VOICE 2011大會亦納入了為期一天的產品實作展示區，提供八個單元來教導測試工程師如何在V93000測試平台上發展出高效率的測試方案和提高檢驗速率，並且能與測試開發和IP再使用結合運用、學習最新的V93000功能、以及採用目前的通訊系統就RF調變格式進行除錯改善動作。

Rich Lathrop補充說明：「今年的大會預計將吸引來自世界各地、超過50家公司、300位以上的測試工程和管理專業人士參與盛會，其中包括晶圓廠、無晶圓廠半導體公司、整合元件製造商(IDM)、以及惠瑞捷的戰略合作夥伴。」

關於VOICE 2011

由惠瑞捷及其客戶代表所共同管理與組織而成的指導委員會，針對惠瑞捷在全球不斷增長的客戶和合作夥伴，籌辦了VOICE此一重要會議，以提供用戶一個了解如何提高半導體測試運作效率的機會，與會者可在現場獲得並分享寶貴的意見，並能與其他夥伴建立更緊密的長期合作關係，甚至了解惠瑞捷最新的產品資訊和應用方案。即日起開放線上報名，2月25日前報名優惠價400美元，現場報名則為450美元。欲報名參加VOICE 2011者請於www.verigy.com/go/VOICE2011網頁上註冊。

作者: globe0968 時間: 2011-6-23 03:08 PM
惠瑞捷 V93000 HSM GDDR5 解決方案獲韓國大型客戶青睞

加州CUPERTINO，2011 年 6月22日－首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷 (Verigy)（那斯達克指數代碼：VRGY）今日宣佈其V93000 高速記憶體(HSM)平台已贏得龐大且領先市場的韓國客戶之新款GDDR5 量產測試業務。

惠瑞捷 V93000 HSM6800是一款為當今運行速度超過每接腳4 Gbps GDDR5超快圖像記憶體元件提供服務的全速高產能記憶體自動測試設備。客戶選擇 V93000 HSM6800是因為其領先業界高達8Gbps之速度餘量 (speed headroom)的高速終端測試性能、已獲證實的較高產能，以及超越其他市場上高速記憶體測試系統的良率。

惠瑞捷 SOC 測試執行副總裁 Hans-Juergen Wagner表示：「我們很榮幸此重要的記憶體客戶選用我們的 V93000 高速記憶體(HSM)平台來滿足其高速 GDDR5 生產測試需求，讓我們得以促進此一領先的圖形記憶體技術之高效生產能力。我們已獲認可的高速性能與量產時的產能優勢，及V93000 高速記憶體 (HSM)平台的先進功能，證實了我們在高速記憶體測試市場上的領導地位。」

GDDR5 為最先進的高性能圖形動態隨機存取記憶體標準，專為頻寬大的圖形應用程式所設計，例如：圖形卡、遊戲機以及頂級消費應用程式（例如：數位電視、機上盒）。GDDR5 提供的記憶體頻寬為先前 GDDR3 的兩到三倍。為了使資料傳輸速率高達8Gbps， GDDR5 引進了各種新功能。這些功能包括資料匯流排倒置（DBI）與匯流排倒置（ABI），在降低耗電量的同時，也改善了訊號完整性，以及透過可在高速訊號線上偵測出資料傳輸的錯誤，並確保系統能穩定作業的迴圈冗餘校驗碼（CRC）演算法的錯誤偵測與修正機制。惠瑞捷 V93000 高速記憶體是今日唯一可支援 GDDR5 所有先進記憶體技術功能的記憶體自動測試設備。

作者: atitizz 時間: 2011-7-5 04:07 PM
惠瑞捷達成重大里程碑，V93000 Direct-Probe 解決方案成功用於200 多個數位、SOC 和 RF 生產案例

加州CUPERTINO，2011 年 7月05日——首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷（納斯達克上市代碼：VRGY）今日宣佈與MicroProbe、NVIDIA（納斯達克上市代碼：NVDA）、Tokyo Electron (8035 TSE) 和Rudolph Technologies（納斯達克上市代碼：RTEC）合作開創使用惠瑞捷 V93000 Direct-ProbeTM 解決方案生產數位、SOC 和 RF 設備的統包解決方案 (turnkey solution)。該合作開發項目成功支持了 V93000 Direct-Probe 解決方案在全球范圍內的安裝基數超過 200，這個數字仍在增長。

惠瑞捷 V93000 Direct-Probe 解決方案具備了幾項主要優點，包括頻寬更高、高速訊號的訊號完整性更好。此外，V93000 Direct-Probe 解決方案提供更多的組件應用空間於板上本地環回接口(on-board loopback)，和一個使用兼容探針測試與成品測試的印刷電路接口板的全整合晶圓探針介面。V93000 Direct-Probe 的客戶有探針供應商、探針卡分析設備供應商和微距探針技術供應商。

「MicroProbe與惠瑞捷的長期合作關係讓我們的開發團隊決定在高探針數應用程式的 ApolloTM 和 MEMS 產品系列中使用惠瑞捷 Direct-Probe 解決方案，」MicroProbe總裁兼首席執行長 Mike Slessor 表示。「另外，我們在Rudolph Technologies Vx4 探針卡計量系統等基礎架構方面的投資使我們能夠在高效能 Direct-Probe 解決方案方面為重要客戶的快速生產提供支持。」

作者: atitizz 時間: 2011-7-5 04:07 PM
「NVIDIA選擇惠瑞捷 V93000 Direct-Probe 解決方案，因為它的測試成本較低。」NVIDIA營運執行副總裁 Deb Shoquist 說。「另外，我們對探針更高的電效能需求也影響了我們與惠瑞捷及其戰略合作夥伴進行合作的決定。」

「所有參與Direct-Probe夥伴共同合作開發了一個挑戰性的創新項目，這促使我們對 PrecisionWoRx® VX4 探針卡測試和分析系統的開發，」Rudolph檢測業務部 (Inspection Business Unit) 的執行副總裁兼總經理 Nathan Little 說。「探針卡供應商可利用我們的 VX4 系統建立并修復惠瑞捷 Direct-Probe 已有的高效能探針解決方案。」

「因為我們在 V93000 Direct-Probe 解決方案設計階段就已開始工作，所以我們可以針對惠瑞捷高效能探針的要求提供一個高級平台，」Tokyo Electron測試系統部總經理 Yuichi Abe 說。「我們的 Precio 系列全自動晶圓探針的穩定性和精確性實現了在 Direct-Probe 之前高引腳數生產晶圓測試無法實現的電效能。」

「惠瑞捷很榮幸 V93000 Direct-Probe 解決方案獲得領先地位，」惠瑞捷SOC 測試執行副總裁 Hans-Juergen Wagner 說。「我們針對測試 CPU、圖形處理器、數位基帶設備和 WLCSP 消費類設備的全套統包解決方案實現了具有成本效益的高效能探針能力。」

作者: atitizz 時間: 2011-7-7 04:28 PM
惠瑞捷達成重大里程碑，V93000 Direct-Probe 解決方案成功用於200 多個數位、SOC 和 RF 生產案例

加州CUPERTINO，2011 年 7月05日——首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷（納斯達克上市代碼：VRGY）今日宣佈與MicroProbe、NVIDIA（納斯達克上市代碼：NVDA）、Tokyo Electron (8035 TSE) 和Rudolph Technologies（納斯達克上市代碼：RTEC）合作開創使用惠瑞捷 V93000 Direct-ProbeTM 解決方案生產數位、SOC 和 RF 設備的統包解決方案 (turnkey solution)。該合作開發項目成功支持了 V93000 Direct-Probe 解決方案在全球范圍內的安裝基數超過 200，這個數字仍在增長。

惠瑞捷 V93000 Direct-Probe 解決方案具備了幾項主要優點，包括頻寬更高、高速訊號的訊號完整性更好。此外，V93000 Direct-Probe 解決方案提供更多的組件應用空間於板上本地環回接口(on-board loopback)，和一個使用兼容探針測試與成品測試的印刷電路接口板的全整合晶圓探針介面。V93000 Direct-Probe 的客戶有探針供應商、探針卡分析設備供應商和微距探針技術供應商。

「MicroProbe與惠瑞捷的長期合作關係讓我們的開發團隊決定在高探針數應用程式的 ApolloTM 和 MEMS 產品系列中使用惠瑞捷 Direct-Probe 解決方案，」MicroProbe總裁兼首席執行長 Mike Slessor 表示。「另外，我們在Rudolph Technologies Vx4 探針卡計量系統等基礎架構方面的投資使我們能夠在高效能 Direct-Probe 解決方案方面為重要客戶的快速生產提供支持。」

作者: atitizz 時間: 2011-7-7 04:28 PM
「NVIDIA選擇惠瑞捷 V93000 Direct-Probe 解決方案，因為它的測試成本較低。」NVIDIA營運執行副總裁 Deb Shoquist 說。「另外，我們對探針更高的電效能需求也影響了我們與惠瑞捷及其戰略合作夥伴進行合作的決定。」

「所有參與Direct-Probe夥伴共同合作開發了一個挑戰性的創新項目，這促使我們對 PrecisionWoRx® VX4 探針卡測試和分析系統的開發，」Rudolph檢測業務部 (Inspection Business Unit) 的執行副總裁兼總經理 Nathan Little 說。「探針卡供應商可利用我們的 VX4 系統建立并修復惠瑞捷 Direct-Probe 已有的高效能探針解決方案。」

「因為我們在 V93000 Direct-Probe 解決方案設計階段就已開始工作，所以我們可以針對惠瑞捷高效能探針的要求提供一個高級平台，」Tokyo Electron測試系統部總經理 Yuichi Abe 說。「我們的 Precio 系列全自動晶圓探針的穩定性和精確性實現了在 Direct-Probe 之前高引腳數生產晶圓測試無法實現的電效能。」

「惠瑞捷很榮幸 V93000 Direct-Probe 解決方案獲得領先地位，」惠瑞捷SOC 測試執行副總裁 Hans-Juergen Wagner 說。「我們針對測試 CPU、圖形處理器、數位基帶設備和 WLCSP 消費類設備的全套統包解決方案實現了具有成本效益的高效能探針能力。」

作者: amatom 時間: 2011-9-6 05:42 PM
惠瑞捷推出半導體產業首創可擴充等級測試機– V93000 Smart Scale – 降低新一代積體電路測試成本
專為高階 28 奈米設備及 3D 架構設計的新一代「智慧型」測試系統與數位信號量測模組

加州庫比提諾﹣2011 年 9 月 2 日– Advantest Group (東京證交所: 6857, 紐約證交所: ATE) 子公司惠瑞捷發佈半導體產業首見可擴充、具成本效益的測試機種，專為如 3D 設備架構及 28 奈米以上積體電路設計的高階半導體量身打造。

Smart Scale 系列為創新「智慧型」測試機，採用 per-pin 架構設計，與惠瑞捷生產驗證 V93000 平台完全相容。智慧測試主要特色為每個針腳皆可依其時脈域測試，透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊；模擬系統壓力測試( System-Like Stress Test) 可達自動化測試設備 (ATE) 等級，增進故障覆蓋率。

惠瑞捷測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示：「惠瑞捷以創新 V93000 Smart Scale Generation 測試系統與針腳量測模組展現引領智慧測試方式科技領域的能力，提供客制化方案，降低客戶的測試成本。」

作者: amatom 時間: 2011-9-6 05:42 PM
四種 Smart Scale 測試機等級分別為 ﹣ A 、 C 、 S 與 L ，各有不同尺寸的測試頭，惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。

Wagner 更指出：「因測試機等級彼此相容，當積體電路生產數量因設備壽命有所調整，用戶可簡捷快速地自任一 Smart Scale 等級調整至另一等級；目前尚無其他自動測試設備廠商能夠做到這點。」
惠瑞捷的獨特設計技術表現於並行測試與產業首見的全能晶圓測試方案 ﹣測試高階晶片內建系統 (SOC) 設備、系統封裝 (SiP) 設備與晶圓級晶片封裝 (WLCSPs) 的嚴格產能需求。

隨 V93000 智慧型可擴充等級測試機上市，惠瑞捷同時推出三款數位信號量測模組。

全新 Pin Scale 1600 數位模組與 Pin Scale 1600-ME （模擬記憶）模組，提供產業間每個數位信號最廣泛的效能。除此之外，數據率涵蓋 DC 至 1.6 Gbps ﹣比上一代的機台快兩倍 ﹣新機台的針腳密度也較前一代多達兩到四倍。全新高度集成、尺寸小的模組具備惠瑞捷 clock-domain-per-pin™、protocol-engine-per-pin™ 、PRBS per pin 與 SmartLoop™ 等對稱高速介面專用測試功能。同時提供精準 DC 效能、多元件高效率非同步測試及同步測試。

惠瑞捷全新 Pin Scale 9G 模組使原速測試的花費不再高不可攀，結合與 Pin Scale 1600 相同的多樣性 per-pin 可達 8 Gbps 數據率。此模組以最大限度使用針腳，並將閒置資源降到最低。 Pin Scale 9G 模組支援所有雙端與單端針腳及運作時的差分模式。可進行模式與無模式測試以處理主流測試需求，涵蓋確認設計的並行 I/O 測試，到大量生產所需的互連實體串列 (PHY)測試。

作者: globe0968 時間: 2012-2-2 03:40 PM
愛德萬集團旗下惠瑞捷公司連續第三年榮膺 VLSI Research客戶滿意度五顆星最高評價

加利福尼亞州庫比蒂諾——2012 年2月 2 日——愛德萬集團（東京證券交易所：6857，紐約證券交易所：ATE）旗下公司惠瑞捷在 VLSIresearch（英國半導體行業研究機構）的 2011 年晶片製造設備客戶滿意度調查中連續第三年獲得五顆星最高評價。在今年榮獲五顆星最高評價的 14 家半導體設備公司中，惠瑞捷再次成為唯一的系統級晶片 (SOC) 和記憶體測試設備製造商。

自 1988 年起，VLSIresearch 每年舉辦的「晶片製造設備商客戶滿意度調查」是晶片製造商向供應商提供意見回饋的唯一公開機會。在今年的調查中，VLSIresearch 收到了來自世界各地的 550 多家公司的意見回饋。獲得五顆星的供應商不僅由客戶評選為最高分，並且在所有評級類別的六個方面表現突出，即擁有成本、品質、產品性能、客戶服務、技術領先性和企業承諾。自從 2005 年設立星級評級系統，愛德萬及其集團旗下的公司已八次獲得五顆星最高評價。

“五顆星評級旨在公開肯定於關鍵客戶滿意度評選裡最優秀的公司，”VLSIresearch 的執行長 G. Dan Hutcheson 說道。“過去三年，惠瑞捷始終在我們的調查中獲得系統級晶片和記憶體測試供應商類別的優秀評級。這一佳績體現了客戶認可惠瑞捷對客戶滿意度作出的承諾。”

“這項殊榮證明了惠瑞捷不斷向客戶提供行業內最高品質的產品和服務，”惠瑞捷總裁兼執行長 Hans-Juergen Wagner 說道。“我們十分感謝客戶對我們的支持和愛戴，我們將不斷實現對客戶的所有承諾。在我們整合至愛德萬集團的過程中，我們將保持對產品創新度的高度關注，從而為客戶提供行業內最好的產品和技術。”

作者: amatom 時間: 2012-3-27 08:29 AM
半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy) V93000 測試平台獲 ISE Labs 矽谷及德州奧斯汀廠採用
惠瑞捷 (Verigy) 憑藉領先業界的測試服務，將多功能測試系統應用於先進設計方法開發以及產量測試

2012 年 3 月 27 日加州庫比蒂諾報導－半導體測試設備供應商惠瑞捷 (Verigy)（Advantest Group 愛德萬集團（東京證交所：6857，紐約證交所：ATE）子公司）今天宣布ISE Labs 在加州費利蒙、德州奧斯汀的測試封裝廠引進 V93000 Smart Scale™ 數位量測模組以及 Pin Scale測試機種之測試設備，進一步擴展雙方對於測試開發服務的合作關係。

雙方長遠結盟關係的最新計畫即為 ISE Labs 奧斯汀廠將開始採用惠瑞捷的 Pin Scale 技術開發先進的測試方法，針對最新一代低功耗安謀（ARM）架構伺服器處理器，搭配高速DDR3記憶模組、PCI Express 介面、消費性 IC 如智慧媒體晶片內建系統 (SOC) 設備，應用於下一代的媒體閘道器與機上盒。為達成上述目標， ISE Labs 奧斯汀廠安裝 L 級測試頭的 V93000 Pin Scale 測試機台，在惠瑞捷的Pin Scale 400 以及 800 數位量測模組下，具備超過 900 個數位信號腳位供測試。

此外，矽谷最大的半導體測試實驗室— ISE Labs 費利蒙廠，亦引進了兩台配備 Pin Scale 1600數位量測模組的 V93000 Smart Scale 測試機，用以測試客戶量產的IC。其中一套系統使用 Pin Scale 1600 以及 9G 數位量測模組，有超過1,000 個腳位的 C 級測試頭；另一個系統則配備惠瑞捷最小的 A 級測試頭，配有 512 個數位量測腳位以及 MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組。兩套系統均可擴充升級，提供增加數位量測腳數，或新增測量資源，如惠瑞捷的 Port Scale 射頻解決方案。ISE Labs 所採用的惠瑞捷 Smart Scale 技術，是矽谷測試服務供應商中的首創之舉。

作者: amatom 時間: 2012-3-27 08:29 AM
ISE Labs工程與測試服務副總裁 Rabbi-ul Islam 表示：「我們對於與惠瑞捷的長期合作關係，一直感到相當滿意，也很高興能夠在奧斯汀技術中心開始實施其經認證的 Pin Scale 技術。」

惠瑞捷北美銷售暨支援部門副總裁 Sanjeev Mohan 強調：「能獲得 ISE Labs 青睞，將新一代 Smart Scale 系統運用於技術開發以及商業測試服務，對我們來說是一件令人振奮的消息。V93000 per-pin的彈性建置讓我們在各項測試應用都能達到業界領先的水準。」

惠瑞捷的可擴展 Smart Scale 測試系統以及數位信號量測模組，展現最具經濟效益的先進半導體設計測試，包括 28nm 技術節點及以下的 3D 堆疊與IC設計。

Pin Scale 1600 數位量測模組在測試靈活性方面開拓一個嶄新領域。此模組的萬用 per-pin 架構，讓每個通道在測試下都能夠發揮各種裝置所需的功能，帶來最大的靈活性。Per-pin功能包括獨立時脈網域、高精準度的直流電與業界領先的數位效能，都可以透過 Pin Scale 1600 進行強化。

惠瑞捷的 Pin Scale 9G 針腳量測模組是唯一完全整合、高速、數位化且能夠涵蓋自直流到超過每秒 8Gb，符合成本的高速測試製具。高度多樣化的 Pin Scale 9G 針腳量測模組可測試包括平行或序列式、單點或多點、單向或雙向的介面。
MB-AV8 PLUS 類比信號量測模組擴展即時類比頻寬以涵蓋持續衍生的應用，如長程演進技術進階版(LTE Advanced) 以及 4G 無線傳輸，在提供高效處理的同時，亦保有 MB-AV8 設備的相容性。

關於ISE Labs
ISE Labs, Inc. 為日月光半導體公司完全持有的子公司，也是全球最大的半導體封裝測試服務獨立供應商。ISE Labs 的統包作業方案具有廣泛的產品組合，提供多樣的服務，包括封裝設計與挑選、積體電路組裝、前端工程測試、晶圓針測、後端測試、設備驗證、可靠度測試、損壞分析、以及專案與物流管理。總公司位於加州費利蒙，是矽谷最大的半導體測試工程服務供應商，德州奧斯汀亦有營運廠房。如需了解更多資訊，請上www.iselabs.com

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