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[問題求助] 關於I/O pad

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1#
發表於 2007-11-6 17:23:09 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問以前受限於ESD I/O PAD: E  j0 g+ l$ q( U) Y2 q
量高速PLL輸出常需要除頻後量測~
: p5 n. Y0 {7 v不太懂現在TX打出來的data rate都是數Gbps以上" ]( @8 x7 p: i2 k% v1 w
那該如何量測呢?4 z; }9 K3 I5 c9 N
還是現在的封裝都很進步了 @@
7 k2 y- {! W8 B9 ~能請前輩解惑嗎?% S7 t) O' {8 t: G
謝謝^^
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2#
發表於 2007-11-6 22:20:26 | 只看該作者
是有可以上3.65Gbps or 6.4Gbps的serial I/F專用測試儀器或ATE (Semicon tester).
; b3 D, y- c' G7 L3 g/ m8 V; o只是暴力上的代價不菲罷了.
1 s) r6 u% B, }& k! ?: k& J* q! l7 j0 _6 n
200MHz以下的儀器或ATE都很便宜, 這也是大家能除則除的原因.9 p$ r8 @, X& \# H
高速Tx or Rx很多公司都是用loop back test在量產, 板子上搞個relay灌回去就好了,
' H2 J0 G6 `* Q* X, A1小時5000塊台幣 跟 1小時1000塊台幣的量產測試成本差很多的..." x- A- q" ?9 @$ _) @  O8 E- g
一個月出貨1 million 就差台幣5百多萬了.# ]- e% [, Q: v/ f

! y) d- D; F) ]6 L8 a% c[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-6 10:21 PM 編輯 ]
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