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8900 缺陷檢測系統已於近期安裝在彩色濾鏡業領導廠商 - Toppan Printing Company, Ltd. - 的第一個 300mm 先進CFA廠內。“先進的缺陷控制攸關我們是否能可靠地提供先進的彩色濾鏡,8900 已大幅改良了缺陷控制功能並變更了我們的策略。”Toppan Electronics Products Co., Ltd. 熊本廠單OCF部門総経理Keiichi Hara 如此表示,“因為 8900 對於各種缺陷類型相當靈敏,而且可大幅提高產能,所以可在 CFA 流程中執行所有的缺陷檢測。之前,完成此操作需使用多種檢測工具。8900 也可以自動化執行缺陷監控工作(之前需要手動進行檢測),因此有助於縮短生產週期和預測上市時間。”8 }0 a* s; i5 G1 d" u1 K
/ Q$ G: E# n+ S2 e“影像感應器晶圓廠已經混合使用各種缺陷檢測系統(包含手動檢測),以涵蓋 CFA 流程開發、生產線監控和進廠及出廠之品質控制”,KLA-Tencor SWIFT 部門副總裁暨總經理 Oreste Donzella 說道,“此項策略會導致錯誤發生和效率不彰。例如,手動檢測結果變數極大。即便是使用自動化系統,也可能會遺漏掉關鍵的缺陷偏移問題,因為很難針對不同系統之間的結果進行比較。在開發 8900 時,我們利用了 KLA-Tencor 在明場和暗區微觀及巨觀檢測的豐富經驗,進而為影像感應器晶圓廠提供單一且有彈性的系統,以盡力滿足他們在 CFA 檢測方面的需求。我們相信 8900 可幫助晶圓廠改良資源配置、提升目前產品之良率並縮短其最新影像感應器的上市時間。”' P$ C" z* J7 T8 Y* r: B
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8900 缺陷檢測系統的主要功能包含:! ]% f" D7 K5 ~( z; c. P
+ d- ^; m3 i8 ?, E( x8 L6 n# ~• 同步的明場及暗區光學設計,單一檢測即可檢驗出各種缺陷類型,例如微透鏡變形、阻抗及落面缺陷、色彩沾汙、大型汙點及條痕;' R/ [1 T+ i$ @5 x: N
• 可選取波長的LED光來源可匹配作CIS 彩色濾鏡檢測;4 T0 G* D& U7 h+ ?! i! j4 |
• 符合先進 CIS 發展藍圖要求的靈敏度;
2 D7 y( [6 K1 J& W/ q3 ~• 生產速度每小時 (300mm 半導體晶圓)能達到 110 片以上;' g( t( i/ S4 K$ B# N2 i
• 自動缺陷分類功能;
- M X( j# ]2 r' r f4 \• 自動執行晶圓量測結果通過或未通過;
; E5 Y9 C4 k0 l/ q* b2 P* g2 p• 自動拍攝高解析照片以驗證缺陷。 |
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