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20萬元RMB尋求 大型積體電路老煉測試插座開發等
技術需求一:
% u: t- w( V$ e$ O1、需求名稱:大型積體電路老煉測試插座開發
# ?7 y' B0 z3 C2、技術指標:8 `9 ?6 o) h0 Y m* c- V/ ^
(1)解決≤0.5mm節距的產品設計、模具設計與製造難題;
- G# w( Q- Y0 L( T, o(2)解決≤0.5mm解決的成型工藝問題;
; U) A2 l4 b) ?$ `+ o(3)測試老煉條件:-55℃~175℃;
: i, E9 `# l% R7 }(4)測試耐電壓500V DC;. c* T8 |- j6 Q; V8 D m
(5)測試電流:1A~50A。4 k* t, T' P, y5 H5 l: I P2 \
技術需求二:, j+ D# ?$ M' K% E* N6 j
1、需求名稱:超高頻測試夾具開發
5 ?- @& H* H; v5 o2、技術指標:≥20 GHz,100V DC,常溫測試。
X9 G- v5 ]9 Y; J1 B/ e6 D: B: m3 x技術需求三:6 P* T) T. u: z" c
1、需求名稱:鈹青銅熱處理技術5 k i0 Y2 n& P$ F! k6 J
2、 技術指標:
* I1 b/ s4 g0 Z) A, T# J(1)批次處理結果無差異;% `# P1 S3 a3 e, @& }
(2)10000次機械壽命後接觸件不變形,無裂紋產生,壽命後接觸電阻不超過初始值10mΩ。" D2 r/ d# m' O5 D+ |) H7 M( q3 L
5 l9 S' ?8 @% \
合作面議。能者與意者請email研發簡歷與chip123聯絡。 |
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