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Tektronix 創新論壇推動數位時代中的創新2 ^/ f1 W) d \) |- R3 ^
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• 新竹場次 • April 29 (週四) — 新竹喜來登大飯店 3F 宴會廳 I / II
: w: b6 H8 y4 h+ V% } m6 o/ [6 Z• 台北場次 • April 30 (週五) — 維多利亞酒店 1 F 大宴會廳 4 L2 K- K; Q) Y
時間與城市: - 2010 年 4 月 20 日,中國上海
- 2010 年 4 月 22 日,中國深圳
- 2010 年 4 月 29 日,台灣新竹
- 2010 年 4 月 30 日,台灣台北
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今年, Tektronix 針對您的需求,將在新竹,台北各舉辦一場關於高速傳輸技術驗證與量測的創新論壇,讓您克服前所未有的量測挑戰, 充實您的知識, 縮短設計週期,提高團隊的生產力,以更快的速度將新產品推向市場。 立即報名參加
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# m, G( Q( x4 L時間 | Track A | Track B | 13:00 ~ 13:30 | 報到 | 13:30 ~ 14:40 | A1. 簡化 USB 3.0 設計驗證與除錯主講人: Jacky Huang | B1. PCIe 2.0 & 3.0 驗證、除錯與相容性解決方案 . {) K" b: ?4 ]( H) ^" N. L
主講人: David Yang | 14:40 ~ 15:00 | 展示與休息時間 | 15:00 ~ 15:50 |
. R3 s6 J& X* K6 WA2. SATA/SAS 6G 驗證、除錯與相容性解決方案8 S+ Q& J; @2 \ t w Y+ |: }& w c
主講人: John Calvin |
6 a- v B0 B! O7 G1 p; h2 N9 mB2. 乙太網路光電的特性分析和相容性測試之自動化解決方案 & j- S5 m4 N7 i. D3 _
主講人: Pavel Zinvy | 15:50 ~ 16:10 | 展示與休息時間 | | 16:10 ~ 17:00 | A3. HDMI 1.4 相容性量測挑戰的快速有效解決方案
. M: T' Y: J6 K! F2 x/ |主講人: Andy Lin | B3. DDR 驗證和除錯的先進方法 ! o- w4 I6 u2 k7 L
主講人: David Yang |
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