10/19, 21 LitePoint「創新-智慧型手機及嵌入式無線通訊系統測試」

tk02376

0 z) ?+ _( G6 ]/ k* T- u
5 [) |' U/ Y: ^; Y產業研究機構Gartner預估，全球手機2010年銷售約13.3億支，智慧型手機約占19％，2010-2014年，智慧型手機的年複成長率可達34.2%將成為主流！另外SiP的相關產品在行動裝置中多有所見，發展潛力已不容忽視。
2 g# Y/ w& A5 J3 ^) E4 L7 o
本研討會有兩大測試系統，首次在台亮相的多功能單機手機測試系統-IQxstream™，專為2G、3G及LTE等最先進4G手機標準測試設計而成，結合多重核心處理技術，執行平行分析功能，讓一部測試機台能同時測試四個產品，並大幅降低測試所耗費的時間與成本。

6 N! Q7 O& W3 N* ]0 s" A另外多重通訊單機測試系統-IQ2010，可充分解決客戶在無線通訊產品所面臨的測試挑戰，包含WiFi、BT3.0、GPS、FM，可擴充WiMAX、NFC測試功能。在多組 DUT的並行測試(Parallel Test )可大幅縮短測試時間，並維持多重通訊裝置的測試精準度，降低產線成本及缺工的壓力。
/ r$ i2 M9 R2 c9 T0 p. f
& B0 l, M# W1 X本研討會邀請LitePoint CTO - Dr. Christian Olgaard及多位技術專家分享經驗，歡迎對智慧型手機、無線通訊產品的品質提升、縮短測試時間、改善測試良率，及應用於Mobile、BT、GPS、MiMo、PC、Tablet PC、RFIC、WLAN、WiMAX等相關產品的RD/PL/PE/PM業界先進報名參加。

tk02376

Time	Agenda	Speaker
12:30-13:00	Registration 來賓報到	8 N& O1 @# w8 Z6 g. `8 L9 Y6 @
13:00-13:05	Welcome and Opening 歡迎與開幕致詞	Steve Hsu President, ACE Solution
13:05-13:15	Efficient MFG RF test in Embedded System 最佳化-嵌入式無線通訊產品測試	Vernon Rogers Director of Worldwide Sales, LitePoint
13:15-14:15	Advanced Embedded Testing for Connectivity 多重通訊嵌入式測試	Justin Lin /Senior Application Engineer, LitePoint Christian Olgaard /CTO, LitePoint
14:15-14:45	Advantage of Multi-DUT Testing in Production 多埠平行量產測試的優點	John Lukez /Director of Product Marketing, LitePoint Dr. Christian Olgaard /CTO, LitePoint
14:15-15:15	Next Generation Cellular Testing	John Lukez Director of Product Marketing, LitePoint
15:15-16:15	LitePoint Demo Auditorium -Improved WiFi test performance in production -Connectivity test in an embedded system -Multi-DUT connectivity test -Multi-DUT cellular test
16:15-16:45	LTE (MiMo) Technology and Application LTE技術發展與應用前景	國立交通大學資工系 許騰尹教授 Dr. Terng-Yin Hsu, Department of Computer Science; NCTU
16:45-17:15	Future of Wireless Connectivity 多功能無線產品量產測試的挑戰	Dr. Christian Olgaard CTO, LitePoint
17:15-17:30	Q&A / Wrap up

　 報名方式

主辦單位
日期地點	10/19 (二) 台北-維多麗亞酒店3F (美麗華百貨旁)10/21 (四) 新竹-竹北台元科技園區會議中心2F
報名方式	TEL: 03-5525633 ext. 237         0800-525633 蔡小姐	線上報名