6/18 低劑量3D錐形束X光斷層掃描儀技術成果發表會

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主辦單位:工研院電光所
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謹訂於2012年6月18日（星期一）假工研院78館舉辦 「低劑量3D錐形束X光斷層掃描儀(Low Dose 3D Cone Beam CT)技術成果發表會」，誠摯邀請您蒞臨指導。
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本次發表會將展示由工業技術研究院電子與光電研究所與普一科技合作設計之3D錐形束X光斷層掃描儀，這是第一部完全由國人所設計之醫用3D X光斷層掃描儀，其基礎技術包括：X光投射控制技術、數位X光感測取像技術、伺服機構控制技術、3D影像重建與互動播放技術；其特點是使用幅射劑量只有一般全口CT之30%，可廣泛運用於牙科、腦科等各種疾病之掃描、診斷。

, n' o! L2 t" N2 \*當天的發表會流程如下:
09:30 ~10:00_來賓報到_78館209會議室
1 K& ?: N) H5 k/ ?" g, u/ b10:00 ~10:05_主持人致詞_78館209會議室
10:05 ~10:10_普一貴賓致詞_78館209會議室
! q/ k: q8 P, y* S- V6 C8 }10:10 ~10:15_技術處貴賓致詞_78館209會議室
# H% V3 k5 |* s! z1 G8 @- |10:15 ~10:35_技術成果說明_78館209會議室
7 o/ t' e  }8 \9 q& ?10:35 ~11:30_技術成果展示_78館113展示室

: C- a9 r4 }8 W+ d/ w工業技術研究院 電子與光電研究所 所長 詹益仁 敬邀
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*參加辦法:請於6月14日(星期四)前線上報名