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[經驗交流] 新思與思源合併

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發表於 2014-6-11 12:01:31 | 顯示全部樓層
新思科技數位與客製化解決方案獲台積電N16製程認證
0 {* e& J& o/ M: B設計人員得以在FinFET製程技術上實現功耗、效能及面積的優勢
9 N3 \8 W5 @, G" F6 G
) N) Z0 Y2 t  _重點摘要:
# X8 o$ F2 C+ x- }& X' }·這項認證可協助實現客戶所佈署的客製化和以元件為基礎(cell-based)的設計。& J1 s4 Q  }4 E- }6 c% z' G4 k
·以元件為基礎的解決方案包括Design Compiler®合成(synthesis)、IC Compiler™實體實作、IC Validator實體驗證、StarRC™擷取(extraction)和PrimeTime®時序分析等。4 x2 e7 ]  Z5 p% X  q
·客製化解決方案包括HSPICE®電路模擬、搭配CustomSim™和FineSim®工具的FastSPICE模擬、NanoTime的靜態時序分析,以及利用Laker®解決方案達成客製化實作的需求(custom implementation)。
1 ^% d- H' j: R- k* a% h! U6 n
; j) ^* a4 w: ]& U(台北訊) 全球晶片設計及電子系統軟體暨IP領導廠商新思科技(Synopsys)今日宣布針對台積電N16 FinFET製程(process),推出以元件(cell-based)為基礎和客製化實作(custom implementation)的V1.0認證解決方案,能藉由已可量產(production-ready) 的FinFET設計自動化工具,達成可預期的設計收斂(design closure),該解決方案能協助半導體設計人員設計出更快速、更具功耗效率且密度更高的晶片。關於新思科技FinFET解決方案的詳細資訊,請參考www.synopsys.com/finfet.
2#
發表於 2014-6-11 12:01:50 | 顯示全部樓層
台積電設計建構行銷處資深處長Suk Lee 表示:「藉由創新來實現最佳的新製程技術,一直是台積電與新思科技長期合作的重點。而為了因應3D電晶體的複雜性(complexity),我們提前布局並擴大與新思科技的合作,以發揮FinFET技術的價值。有了通過台積電認證設計自動化工具,雙方的客戶便可充分利用FinFET技術。」  8 r/ ^3 Q# z8 o& q2 R

5 V  n, a; e. a5 j6 F新思科技設計事業群產品行銷副總裁Bijan Kiani表示:「針對N16 FinFET製程開發的Galaxy設計平台V1.0認證是台積電與新思科技在創新技術上合作的成果。我們與台積電以及許多共同客戶一起合作,開發出完整、有效率以及經過驗證的流程(flow),讓設計人員能充分利用FinFET技術,開發出最先進的設計。」 - d4 X$ V2 l6 o; I; z

8 ?% _' ?5 r: j$ h- I關於台積電N16 V1.0認證解決方案9 C: W, c% |! T/ k" g+ P

% F, |8 l7 ]/ K' s3 o  Z新思科技Galaxy™設計平台提供支援台積電16奈米FinFET製程的工具與方法論,包括: / j) d1 w/ a+ z
  E5 x- I2 U" h% J) |4 h( N
·         IC Compiler:先進技術支援16奈米FinFET量化規則(quantized rule)、FinFET格線置放規則(grid rule)以及先進的優化方法論,包括PBA與 GBA時序關聯及低電壓保持時間(hold time)校正,以達最佳效能、功耗及面積。
7 j; @/ z& Y' E0 W: w5 `# T2 V' {8 T1 t) g' s: D
·         IC Validator:利用DRC及DPT規則檢查(rule compliance check),檢驗FinFET參數,包括邊界(fin boundary)規則和expanding dummy cells。
4 [" ?' D2 @4 y# Z0 e
; p# e8 |$ p) _8 b/ I" \3 C! f7 f7 V·         PrimeTime:先進波形傳播(waveform-propagation)的延遲計算(delay calculation),提供FinFET製程所需的絕佳STA簽核(signoff)正確性。/ `, D# e- e" q) G. m1 r

# m& D- L7 K( X* e·         StarRC:首創使用FinFET「實際剖繪資訊(real profile)」,為正確的電晶體層級(transistor-level)分析,提供最準確的MEOL(middle-end-of-line) 寄生元件參數擷取(parasitic extraction)。
- y2 r( a  ]6 S* ]7 S/ S3 ?# K/ L6 H( a, M6 E; g
·         HSPICE、 CustomSim 和FineSim:針對最新FinFET設計進行的FinFET裝置建模(device modeling)及精確電路模擬。此外,CustomSim具備新的電子遷移效應(electromigration)和IR電壓降(IR-drop)分析。
) Q2 W% c, _( z4 @+ B! k8 L8 F, ~% n9 S7 n5 ^
·         Laker:支援複雜的FinFET鄰接規則(abutment rules)、雙重曝光(double-patterning)、MEOL中段層和其他先進節點的設計要求。
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