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[問題求助] 加入T18 IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:24 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好. a+ u4 n; p0 X: e% w) w

4 a7 B8 m0 y" ?7 {3 R# b6 @在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護6 f6 J; r7 S5 g1 |% |9 W' T% ]0 p$ A
9 n- T. l4 y" P& d$ \# s! C
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
1 i6 k5 E3 U0 s) r* m* h% r! g8 j9 I7 i" _" R6 Y1 H
造成LVS驗證顯示短路% R9 z" \/ q' E$ l# F4 _+ F

' A6 v) u4 G) V! ~+ o! c  Q0 b) q因為用的是TSRI給的library
0 S2 Z: j  `5 o% b. [
9 @# t4 \! t$ v* v發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的
! A3 M) A' r* y# U' z) C+ J* [9 _& r8 a
而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ! G6 k: Z% k. E! ]) @! K2 s. w1 t: B

9 X+ ^7 I8 E1 {是stream in 的時候就有問題了嗎?
. u) e5 C4 {3 ]. A" @; ~/ X9 v& `: D# F! l; |0 h1 T
請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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