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layout中該注意的事情

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1#
發表於 2008-2-13 12:20:04 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
想請問一下 有關 power,LDO...類比方面的各 block 中
& j, o( j0 n3 T" K2 T' _, @( M+ Y- Z, Q2 ~
畫這些線路時你們都注意哪些方面的問題
3 I1 f/ U, R, h  c! N! @4 h3 s# d, B. u- w
可以互相討論一下嗎# B6 T8 i. m1 V6 P9 ^7 b1 z

8 x/ ^* x# d" n0 e; F" x回答時也請說明哪種 block2 e7 H0 N1 }" s- [+ \

( q/ e4 _! `7 X3 l" @7 J0 J- O[ 本帖最後由 cindyc 於 2008-2-13 12:21 PM 編輯 ]
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2#
發表於 2008-2-14 21:53:42 | 只看該作者
布局前的准备:' H, E* q0 P' b; x# {0 j
1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.
4 ]/ U- `! T8 B+ f( l1 [2 Cell名称不能以数字开头.否则无法做DRACULA检查.
. N6 H' G# r1 L7 b3 布局前考虑好出PIN的方向和位置
) @+ f# L) Y8 A6 {8 I$ k' I4 布局前分析电路,完成同一功能的MOS管画在一起1 R/ U4 d7 ]6 o3 R& B1 G
5 对两层金属走向预先订好。一个图中栅的走向尽量一致,不要有横有竖。7 {% }7 `) ~7 l6 ]& z$ Z2 I
6 对pin分类,vdd,vddx注意不要混淆,不同电位(衬底接不同电压)的n井分开.混合信号的电路尤其注意这点.
, q9 w( N0 j* }; C3 w7 在正确的路径下(一般是进到~/opus)打开icfb.
/ M; f3 `+ R6 t; N8 |3 v  y8 更改cell时查看路径,一定要在正确的library下更改,以防copy过来的cell是在其他的library下,被改错.
$ |5 m" N2 R, K9 x' K7 ~; g! j% q9 将不同电位的N井找出来.
: ]9 r, |2 G7 ?6 V6 c- k) a5 e. I布局时注意:/ W; b# U1 O8 z) v/ {
10 更改原理图后一定记得check and save! h9 N& {4 b( ?6 \$ i1 E! t
11 完成每个cell后要归原点
3 u/ B7 ^- ^  E* b12 DEVICE的 个数 是否和原理图一至(有并联的管子时注意);各DEVICE的尺寸是否和原理图一至。一般在拿到原理图之后,会对布局有大概的规划,先画DEVICE,(DIVECE之间不必用最小间距,根据经验考虑连线空间留出空隙)再连线。画DEVICE后从EXTRACTED中看参数检验对错。对每个device器件的各端从什么方向,什么位置与其他物体连线 必须 先有考虑(与经验及floorplan的水平有关).
- ^+ u  K9 V- }( q& w13 如果一个cell调用其它cell,被调用的cell的vssx,vddx,vssb,vddb如果没有和外层cell连起来,要打上PIN,否则通不过diva检查.尽量在布局低层cell时就连起来( C8 }7 e" ]+ v/ F6 r
14 尽量用最上层金属接出PIN。
' n* c# T' Z) W0 R' C. H15 接出去的线拉到cell边缘,布局时记得留出走线空间.
* z7 y+ |3 d# l2 q& I16 金属连线不宜过长;
6 o& \" k: b7 p17 电容一般最后画,在空档处拼凑。, b6 E8 y" ~  K+ Q* g
18 小尺寸的mos管孔可以少打一点.
$ [( S0 \% Q# ~19 LABEL标识元件时不要用y0层,mapfile不认。2 Q4 z: ^3 C1 w+ l5 n. _9 \) w
20 管子的沟道上尽量不要走线;M2的影响比M1小.  p8 ^* Y$ f7 Q7 K5 S6 I
21 电容上下级板的电压注意要均匀分布;电容的长宽不宜相差过大。可以多个电阻并联.3 I9 e; x; V: A* v" I0 ?
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。
0 q- ?. t; C, Z- q" v# M0 l0 O23 栅上的孔最好打在栅的中间位置.) S( C9 b8 f6 R; U5 d
24 U形的mos管用整片方形的栅覆盖diff层,不要用layer generation的方法生成U形栅.
) ]+ e8 C7 |( c& u4 f; ?4 o3 u+ H. n25 一般打孔最少打两个
7 q& N: o6 k' R: G7 d0 Q26 Contact面积允许的情况下,能打越多越好,尤其是input/output部分,因为电流较大.但如果contact阻值远大于diffusion则不适用.传导线越宽越好,因为可以减少电阻值,但也增加了电容值.
1 P& [: G  M7 F. U( [: n27 薄氧化层是否有对应的植入层
; w) A. k5 P1 n( U* Z& q5 U28 金属连接孔可以嵌在diffusion的孔中间.
* e0 X, W+ U- Q6 L5 W7 W29 两段金属连接处重叠的地方注意金属线最小宽度
" i  u  i6 k4 t. A$ e2 _30 连线接头处一定要重叠,画的时候将该区域放大可避免此错误。% [; j  L& b% U% N5 c# Z: _
31 摆放各个小CELL时注意不要挤得太近,没有留出走线空间。最后线只能从DEVICE上跨过去。( T- M% q# [% @% ^! s( Y
32 Text2,y0层只是用来做检查或标志用,不用于光刻制造." u9 O; h, n( d: }. a4 d7 l
33 芯片内部的电源线/地线和ESD上的电源线/地线分开接;数模信号的电源线/地线分开。5 L$ S7 [) L- P4 g
34 Pad的pass窗口的尺寸画成整数90um.4 @3 h, D  u5 g' q& t
35 连接Esd电路的线不能断,如果改变走向不要换金属层' W) m0 g! c9 T7 J  L
36 Esd电路中无VDDX,VSSX,是VDDB,VSSB.
6 N# ~  o  }, ?, k37 PAD和ESD最好使用M1连接,宽度不小于20um;使用M2连接时,pad上不用打VIA孔,在ESD电路上打。
$ q2 N9 s) k# i# Z4 u3 E' S& c6 x38 PAD与芯片内部cell的连线要从ESD电路上接过去。
0 {9 ?1 `9 N* D( X9 b3 \39 Esd电路的SOURCE放两边,DRAIN放中间。
% K8 }8 D; q$ ]7 z$ n1 l8 B! D/ P40 ESD的D端的孔到poly的间距为4,S端到poly的间距为^+0.2.防止大电流从D端进来时影响poly.
/ C9 R# }. n$ E' Y. X* }41 ESD的pmos管与其他ESD或POWER的nmos管至少相距70um以上。6 o; b" T. R% D/ |
42 大尺寸的pmos/nmos与其他nmos/pmos(非powermos和ESD)的间距不够70um时,但最好不要小于50um,中间加NWELL,打上NTAP.
6 i8 q5 S, r1 v" s/ v% E  ]) k43 NWELL和PTAP的隔离效果有什么不同?NWELL较深,效果较好.
( N3 D1 x3 ~. b1 H, s+ h, r5 z/ Z44 只有esd电路中的管子才可以用2*2um的孔.怎么判断ESD电路?上拉P管的D/G均接VDD,S接PAD;下拉N管的G/S接VSS,D接PAD.P/N管起二极管的作用.
0 ^2 |, [4 {! {. k/ G45 摆放ESD时nmos摆在最外缘,pmos在内.& f' z# r$ t' a" G, X8 s
46 关于匹配电路,放大电路不需要和下面的电流源匹配。什么是匹配?使需要匹配的管子所处的光刻环境一样。 匹配分为横向,纵向,和中心匹配。1221为纵向匹配,12为中心匹配(把上方1转到下方1时,上方2也达到下方2位置)21中心匹配最佳。
4 j% {0 ]2 C5 c0 R47 尺寸非常小的匹配管子对匹配画法要求不严格.4个以上的匹配管子,局部和整体都匹配的匹配方式最佳.% S' e8 q, V( ?) x  O6 X
48 在匹配电路的mos管左右画上dummy,用poly,poly的尺寸与管子尺寸一样,dummy与相邻的第一个poly gate的间距等于poly gate之间的间距.' N: W3 s9 w- I9 m2 E: n
49 电阻的匹配,例如1,2两电阻需要匹配,仍是1221等方法。电阻dummy两头接地vssx。  n% |9 a0 g' L  V! U# {7 o& \! ^
50 Via不要打在电阻体,电容(poly)边缘上面.$ P& t4 }- {4 s: q' n
51 05工艺中resistor层只是做检查用
3 W7 `; n. y) K9 M! `* s52 电阻连线处孔越多,各个VIA孔的电阻是并联关系,孔形成的电阻变小.
5 o+ h! k7 s9 B% A8 {& U5 U1 k53 电阻的dummy是保证处于边缘的电阻与其他电阻蚀刻环境一样.
. B/ r" m0 U6 [54 电容的匹配,值,接线,位置的匹配。3 w4 S0 a+ T4 K9 C' r! x: ]7 o
55 电阻连接fuse的pad的连线要稍宽,因为通过的电流较大.fuse的容丝用最上层金属.
: Z. N9 \' \0 r' V& f3 |: c! Z; Q' O* w! s
  l. E* n: Y, L3 u/ q2 t% O! ^* G56 关于powermos8 h7 t) c( [: [" b
① powermos一般接pin,要用足够宽的金属线接,# H6 W, |( @( \0 z5 c
② 几种缩小面积的画法。
5 b( q" I5 B1 E& r/ [, i# v③ 栅的间距?无要求。栅的长度不能超过100um
9 j2 t! ?2 M, Z  w57 Power mos要考虑瞬时大电流通过的情况,保证电流到达各处的路径的电阻相差不大.(适应所有存在大电流通过的情况).
" m0 X; Q- c+ L* H1 h+ d- X58 金属层dummy要和金属走向一致,即如果M2横走,M2的dummy也是横走向
7 Z5 `4 c8 Z* ?; i59 低层cell的pin,label等要整齐,and不要删掉以备后用.
. }2 \4 }7 d' B% {60 匹配电路的栅如果横走,之间连接用的金属线会是竖走,用金属一层,和规定的金属走向一致。
% ]6 J+ P" ?! ?6 d% T. U* l, X61 不同宽度金属连接的影响?整个layout面积较大时影响可忽略.2 Y) R8 d3 v5 N4 c' P6 g
62 输出端节电容要小.多个管子并联,有一端是输出时注意做到这点.
" H# B- u$ ~/ @' Y; W5 ^63 做DRACULA检查时,如果先运行drc,drc检查没有完毕时做了lvs检查,那么drc检查的每一步会比lvs检查的每一步快;反之,lvs会比drc快./ q; b! z' @0 }! }, j5 Y% J3 F
64 最终DRACULA通过之后在layout图中空隙处加上ptap,先用thin-oxid将空隙处填满,再打上孔,金属宽度不要超过10,即一行最多8个孔(06工艺)( \- ~6 G/ A: d2 t9 ?
65 为防止信号串扰,在两电路间加上PTAP,此PTAP单独连接VSS PAD.
) `' j0 m5 @2 K* T2 W0 Q66 金属上走过的电压很大时,为避免尖角放电,拐角处用斜角,不能走90度度的直角.* {  D* c" c8 M
67 如果w=20,可画成两个w=10mos管并联
, {: j0 m7 n5 i2 p+ N5 N68 并联的管子共用端为S端,或D端;串联的管子共用端为s/d端.
, s" A8 k& q6 ]0 b" n& u出错检查:
; n+ G7 o2 a3 \2 a/ C8 G* L69 DEVICE的各端是否都有连线;连线是否正确;
% @( k0 w% |5 f8 `) z70 完成布局检查时要查看每个接线的地方是否都有连线,特别注意VSSX,VDDX& b) F8 w; ^- C) e
71 查线时用SHOTS将线高亮显示,便于找出可以合并或是缩短距离的金属线。
: k( Z+ u  ?1 A  l6 b8 K72 多个电阻(大于两根)打上DUMMY。保证每根电阻在光刻时所处的环境一样,最外面的电阻的NPIM层要超出EPOLY2 0.55 um,即两根电阻间距的一半。! P+ i/ S) F3 X: B+ N2 a0 X/ p
73 无关的MOS管的THIN要断开,不要连在一起
& ?' ~, `$ e) l/ r- \1 ^& L# Y74 并联的管子注意漏源合并,不要连错线。一个管子的源端也是另一个管子的源端
2 D# Q# u% Q: H% C/ }& T# t75 做DRAC检查时最上层的pin的名称用text2标识。Text2的名称要和该pin的名称一样.
, W* f/ \0 f9 v! r, F76 大CELL不要做DIVA检查,用DRACULE. + N; C  Q* l# M5 C1 }* U% i- l% E
77 Text2层要打在最顶层cell里.如果打在pad上,于最顶层调用此PAD,Dracula无法认出此pin.
' {: _- s+ o- X5 f. M: }2 q7 B: m1 l78 消除电阻dummy的lvs报错,把nimp和RPdummy层移出最边缘的电阻,不要覆盖dummy# \6 ~: d: G( m
79 06工艺中M1最小宽度0.8,如果用0.8的M1拐线,虽然diva的drc不报错,但DRACULE的drc会在拐角处报错.要在拐角处加宽金属线./ I( u2 a' J) E' _2 R, {* n+ K
80 最后DRACULA的lvs通过,但是drc没有过,每次改正drc错误前可把layout图存成layout1,再改正.以免改错影响lvs不通过,旧版图也被保存下来了.
( x5 t, t- S0 H9 F81 Cell中间的连线尽量在低层cell中连完,不要放在高层cell中连,特别不要在最高层cell中连,因为最高层cell的布局经常会改动,走线容易因为cell的移动变得混乱.
) s* W! C6 @* n1 r8 m+ M3 c82 DRACULA的drc无法检查出pad必须满足pad到与pad无关的物体间距为10这一规则.: M: ]+ h: @+ U& l; u" x6 [
83 做DRACULA检查时开两个窗口,一个用于lvs,一个用于drc.可同时进行,节省时间.
0 f7 a+ ^6 _3 ]( C0 K容易犯的错误! }  D6 v7 r4 M' w1 P: T
84 电阻忘记加dummy
- c/ y& o& N+ n- m, Y85 使用NS功能后没有复原(选取AS),之后又进行整图移动操作,结果被NS的元件没有移动,图形被破坏.  ]9 E5 p9 v+ w9 M7 t/ t
86 使用strech功能时错选.每次操作时注意看图左下角提示.9 d/ S4 h) h7 U" Y
87 Op电路中输入放大端的管子的衬底不接vddb/vddx.
4 @4 U; X2 e: e88 是否按下capslock键后没有还原就操作) }7 z4 O) g- W/ k: x4 ~
节省面积的途径
$ I# s1 y( M( x# K* \$ ^! ~2 ~89 电源线下面可以画有器件.节省面积., \; M, g& b. Q) Y: b) M; @
90 电阻上面可以走线,画电阻的区域可以充分利用。
7 C' J- |) A" I5 z91 电阻的长度画越长越省面积。% {: F& P( t9 a6 h9 }; r9 t) m& @
92 走线时金属线宽走最小可以节省面积.并不需要走孔的宽度.
! N$ Q, o" V9 E93 做新版本的layout图时,旧图保存,不要改动或删除。减小面积时如果低层CELL的线有与外层CELL相连,可以从更改连线入手,减小走线面积。
+ l$ W2 e" s5 L4 I6 l" J94 版图中面积被device,device的间隔和走线空间分割。减小面积一般从走线空间入手,更改FLOORPLAN
3#
發表於 2008-2-26 10:33:12 | 只看該作者
1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.
, q# M, d2 C( ?) B4 q请教二楼,是否一定要这样设置?倘若我按照规则上的最小尺寸来设置,可以吗?
4#
發表於 2008-2-26 11:43:43 | 只看該作者
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。
1 @% e% |$ V' s! S! b# z% z做了会有什么影响?
5#
發表於 2008-10-23 16:20:50 | 只看該作者
"22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。" 不会吧,我就是这么做的???有问题吗
6#
發表於 2009-7-28 20:05:53 | 只看該作者
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属
6 B. r) K; g: w" G同问!!! 不明白原因
7#
發表於 2009-8-9 22:00:16 | 只看該作者
剛好要瞭解這方面的資訊,正好做來參考...
! c9 U& d" F1 _; f( o1 N* f. _2 x. N' x6 m& d
謝謝分享...
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