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layout中該注意的事情

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1#
發表於 2008-2-13 12:20:04 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
想請問一下 有關 power,LDO...類比方面的各 block 中
. B, p" u% E6 g- j
* Q- `( I0 C$ k. @+ R4 K7 D0 ~! c* }畫這些線路時你們都注意哪些方面的問題
) ]' S0 ]5 A# c; K7 i6 Z( n6 Y5 V% t4 h$ w; x
可以互相討論一下嗎1 d1 ~0 R0 ^- n- _

% `! G7 X, r! u2 w6 F; N回答時也請說明哪種 block% |' H3 N* \2 d8 k2 N! O" H
* L6 L8 G6 B& @
[ 本帖最後由 cindyc 於 2008-2-13 12:21 PM 編輯 ]
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7#
發表於 2009-8-9 22:00:16 | 只看該作者
剛好要瞭解這方面的資訊,正好做來參考...# o9 T: v  L) P: R& q" v* I# Q4 j
5 \  h0 r; R! U5 L- q/ w( `
謝謝分享...
6#
發表於 2009-7-28 20:05:53 | 只看該作者
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属
( D# z; s% k5 `0 c+ K, T同问!!! 不明白原因
5#
發表於 2008-10-23 16:20:50 | 只看該作者
"22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。" 不会吧,我就是这么做的???有问题吗
4#
發表於 2008-2-26 11:43:43 | 只看該作者
22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。
) y$ L4 `1 b, U* c* @; N做了会有什么影响?
3#
發表於 2008-2-26 10:33:12 | 只看該作者
1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.
+ T6 ^6 s- l8 G- }+ R4 G请教二楼,是否一定要这样设置?倘若我按照规则上的最小尺寸来设置,可以吗?
2#
發表於 2008-2-14 21:53:42 | 只看該作者
布局前的准备:
# u' }4 x! p  w1 查看捕捉点设置是否正确.08工艺为0.1,06工艺为0.05,05工艺为0.025.8 n! y* ~2 Y0 q1 n1 A5 b. s
2 Cell名称不能以数字开头.否则无法做DRACULA检查.9 f% ?& I; w& S
3 布局前考虑好出PIN的方向和位置
3 d4 U4 G( t5 W+ v- C. {9 j4 布局前分析电路,完成同一功能的MOS管画在一起
2 ?, Q- U4 Q, q1 o* H3 U6 T5 对两层金属走向预先订好。一个图中栅的走向尽量一致,不要有横有竖。
8 q# m7 A( L; s6 C9 X2 l6 对pin分类,vdd,vddx注意不要混淆,不同电位(衬底接不同电压)的n井分开.混合信号的电路尤其注意这点.
$ \6 |# L7 |0 M7 在正确的路径下(一般是进到~/opus)打开icfb.  E6 V; s& u5 N# {3 B: f4 C
8 更改cell时查看路径,一定要在正确的library下更改,以防copy过来的cell是在其他的library下,被改错.
5 o1 G/ l7 Y' P7 `9 将不同电位的N井找出来.
: g0 \3 V  M. Z  U  \) ^) a8 [' O5 k布局时注意:
& ~8 e! I, n& r4 Y4 p10 更改原理图后一定记得check and save
1 X- g0 w! U: f, |/ [% w; b+ E11 完成每个cell后要归原点$ a  k6 R. i/ I+ b) u
12 DEVICE的 个数 是否和原理图一至(有并联的管子时注意);各DEVICE的尺寸是否和原理图一至。一般在拿到原理图之后,会对布局有大概的规划,先画DEVICE,(DIVECE之间不必用最小间距,根据经验考虑连线空间留出空隙)再连线。画DEVICE后从EXTRACTED中看参数检验对错。对每个device器件的各端从什么方向,什么位置与其他物体连线 必须 先有考虑(与经验及floorplan的水平有关).. a& r1 U8 d" O5 y
13 如果一个cell调用其它cell,被调用的cell的vssx,vddx,vssb,vddb如果没有和外层cell连起来,要打上PIN,否则通不过diva检查.尽量在布局低层cell时就连起来
7 Y! `# ?1 s/ N6 B2 B6 Q2 Z% w( a14 尽量用最上层金属接出PIN。" J( w- ~& \2 `! Y
15 接出去的线拉到cell边缘,布局时记得留出走线空间.8 G$ o# M' ]' ]- c: s
16 金属连线不宜过长;& {7 h0 O* p# n0 y9 [* {/ x7 n
17 电容一般最后画,在空档处拼凑。9 T2 J8 R/ J: X* ]
18 小尺寸的mos管孔可以少打一点.5 F7 D$ e3 d: f
19 LABEL标识元件时不要用y0层,mapfile不认。' n. q. ^6 w7 |$ D! e
20 管子的沟道上尽量不要走线;M2的影响比M1小.1 y  F+ n5 D8 w! B+ E3 h$ l/ H
21 电容上下级板的电压注意要均匀分布;电容的长宽不宜相差过大。可以多个电阻并联.
. p6 ^0 e( r5 y; O22 多晶硅栅不能两端都打孔连接金属。
+ b+ ?$ h1 ]" L# G+ a23 栅上的孔最好打在栅的中间位置., H8 Y6 F& B- t  ^; ^" ]' ?; }: y
24 U形的mos管用整片方形的栅覆盖diff层,不要用layer generation的方法生成U形栅.# k$ U4 k" q7 Y% S  @3 N. j  I
25 一般打孔最少打两个
5 b  r* r0 N8 }; X26 Contact面积允许的情况下,能打越多越好,尤其是input/output部分,因为电流较大.但如果contact阻值远大于diffusion则不适用.传导线越宽越好,因为可以减少电阻值,但也增加了电容值.4 o. [+ Y7 _1 d# \2 }& K5 Z
27 薄氧化层是否有对应的植入层2 b3 x8 j) c; M) z3 B! H- d
28 金属连接孔可以嵌在diffusion的孔中间.* e$ v& v7 `0 H9 l; Z: m
29 两段金属连接处重叠的地方注意金属线最小宽度
8 @! P5 }- K3 m+ W30 连线接头处一定要重叠,画的时候将该区域放大可避免此错误。
" N& F3 I0 V3 l; E31 摆放各个小CELL时注意不要挤得太近,没有留出走线空间。最后线只能从DEVICE上跨过去。
" C. d1 h8 `) B' G32 Text2,y0层只是用来做检查或标志用,不用于光刻制造.
7 D' E6 ?7 ]" s' o33 芯片内部的电源线/地线和ESD上的电源线/地线分开接;数模信号的电源线/地线分开。
2 L1 E% b+ E! w3 u34 Pad的pass窗口的尺寸画成整数90um.
4 Z) N* ~6 w% _3 W35 连接Esd电路的线不能断,如果改变走向不要换金属层
! p0 E3 g) K1 S' W" P36 Esd电路中无VDDX,VSSX,是VDDB,VSSB.
- r" U4 t0 `; f! Y4 v9 W37 PAD和ESD最好使用M1连接,宽度不小于20um;使用M2连接时,pad上不用打VIA孔,在ESD电路上打。
( D6 j% K+ n( M0 E1 L# m# x38 PAD与芯片内部cell的连线要从ESD电路上接过去。
4 T# |% ^& `3 n+ p# O39 Esd电路的SOURCE放两边,DRAIN放中间。
+ @# h3 n  A/ n$ v" I40 ESD的D端的孔到poly的间距为4,S端到poly的间距为^+0.2.防止大电流从D端进来时影响poly.% n: L1 p! h* R5 H
41 ESD的pmos管与其他ESD或POWER的nmos管至少相距70um以上。
8 q# T# z2 G2 b& j0 F* b3 R5 Z42 大尺寸的pmos/nmos与其他nmos/pmos(非powermos和ESD)的间距不够70um时,但最好不要小于50um,中间加NWELL,打上NTAP.: D& y- p, k+ m$ h1 }$ n
43 NWELL和PTAP的隔离效果有什么不同?NWELL较深,效果较好.
$ N/ s- B: W6 R5 ~# @1 |6 u44 只有esd电路中的管子才可以用2*2um的孔.怎么判断ESD电路?上拉P管的D/G均接VDD,S接PAD;下拉N管的G/S接VSS,D接PAD.P/N管起二极管的作用.( r; F+ N( o. y2 Q1 c
45 摆放ESD时nmos摆在最外缘,pmos在内.
* j& b7 z: G0 o8 x: k* m46 关于匹配电路,放大电路不需要和下面的电流源匹配。什么是匹配?使需要匹配的管子所处的光刻环境一样。 匹配分为横向,纵向,和中心匹配。1221为纵向匹配,12为中心匹配(把上方1转到下方1时,上方2也达到下方2位置)21中心匹配最佳。) h0 M/ X2 N% I
47 尺寸非常小的匹配管子对匹配画法要求不严格.4个以上的匹配管子,局部和整体都匹配的匹配方式最佳.
6 R9 y4 m! [7 }- b6 r48 在匹配电路的mos管左右画上dummy,用poly,poly的尺寸与管子尺寸一样,dummy与相邻的第一个poly gate的间距等于poly gate之间的间距.5 j" Q& S: l% d: d  p1 P
49 电阻的匹配,例如1,2两电阻需要匹配,仍是1221等方法。电阻dummy两头接地vssx。
# V+ g6 H/ e6 ]5 f/ g# M! ]50 Via不要打在电阻体,电容(poly)边缘上面.0 S$ \0 L7 @: E) V) y" {, k  y' A
51 05工艺中resistor层只是做检查用
" U) g- k. H/ u5 M# E. g+ m& j52 电阻连线处孔越多,各个VIA孔的电阻是并联关系,孔形成的电阻变小.$ ?! b' @7 T9 ~' \, e
53 电阻的dummy是保证处于边缘的电阻与其他电阻蚀刻环境一样.
8 c9 W5 B$ X6 P) z" A54 电容的匹配,值,接线,位置的匹配。6 K- \3 K& y7 S2 Z) Y2 d
55 电阻连接fuse的pad的连线要稍宽,因为通过的电流较大.fuse的容丝用最上层金属.
( Q$ {  f0 O" N3 I, Z1 W
$ c( G/ ?9 L" p56 关于powermos
: K! D$ r- T7 f3 P2 Z/ }/ A① powermos一般接pin,要用足够宽的金属线接,4 F, `2 j6 W  A
② 几种缩小面积的画法。+ b$ ^, p2 D3 I2 i  p4 Q; t
③ 栅的间距?无要求。栅的长度不能超过100um: F6 k; Q" [0 B9 ^+ v! ?
57 Power mos要考虑瞬时大电流通过的情况,保证电流到达各处的路径的电阻相差不大.(适应所有存在大电流通过的情况).7 C$ g1 x+ m# ?3 V6 x& p* D
58 金属层dummy要和金属走向一致,即如果M2横走,M2的dummy也是横走向# d& f( @% E, N; L$ }
59 低层cell的pin,label等要整齐,and不要删掉以备后用.
( w/ T1 R; G: E5 A* @60 匹配电路的栅如果横走,之间连接用的金属线会是竖走,用金属一层,和规定的金属走向一致。7 H3 q8 }* L& S& H' W+ L6 h
61 不同宽度金属连接的影响?整个layout面积较大时影响可忽略.
8 q) I& \) u( u! {9 M$ K) I62 输出端节电容要小.多个管子并联,有一端是输出时注意做到这点., |( l* J+ g0 W, Z* I4 N
63 做DRACULA检查时,如果先运行drc,drc检查没有完毕时做了lvs检查,那么drc检查的每一步会比lvs检查的每一步快;反之,lvs会比drc快.0 ~( e, Y  _# K1 W
64 最终DRACULA通过之后在layout图中空隙处加上ptap,先用thin-oxid将空隙处填满,再打上孔,金属宽度不要超过10,即一行最多8个孔(06工艺)1 {) Y, {4 w) i4 R4 H
65 为防止信号串扰,在两电路间加上PTAP,此PTAP单独连接VSS PAD.
) ~* M/ p; X, e66 金属上走过的电压很大时,为避免尖角放电,拐角处用斜角,不能走90度度的直角.
6 D" g: j0 |/ I' A! `( b) W( N5 i( S& Z67 如果w=20,可画成两个w=10mos管并联& ?5 N7 P' `4 e' ~3 k( o' W; I
68 并联的管子共用端为S端,或D端;串联的管子共用端为s/d端.6 E$ T* ~' h2 R0 U1 L: [  d, j; _
出错检查:
9 `8 F' O( ~1 o6 a) E9 P$ @69 DEVICE的各端是否都有连线;连线是否正确;
$ |& _" g* o. n: Y9 m1 j" x" D70 完成布局检查时要查看每个接线的地方是否都有连线,特别注意VSSX,VDDX
2 T. G/ I, o* d  a/ Z71 查线时用SHOTS将线高亮显示,便于找出可以合并或是缩短距离的金属线。0 Y- s: J; N4 L4 m) M2 T: U
72 多个电阻(大于两根)打上DUMMY。保证每根电阻在光刻时所处的环境一样,最外面的电阻的NPIM层要超出EPOLY2 0.55 um,即两根电阻间距的一半。+ K( h7 k6 j6 }+ r: h& S
73 无关的MOS管的THIN要断开,不要连在一起0 ]3 w. C7 S! ^2 o
74 并联的管子注意漏源合并,不要连错线。一个管子的源端也是另一个管子的源端! L8 Y/ T3 Q$ l
75 做DRAC检查时最上层的pin的名称用text2标识。Text2的名称要和该pin的名称一样.
! V: a# r9 |1 B- e. z9 N6 e76 大CELL不要做DIVA检查,用DRACULE.
9 P8 x$ N% r* u% ?( w8 p77 Text2层要打在最顶层cell里.如果打在pad上,于最顶层调用此PAD,Dracula无法认出此pin.7 R2 @  d5 y, W1 j# }
78 消除电阻dummy的lvs报错,把nimp和RPdummy层移出最边缘的电阻,不要覆盖dummy
- C7 h/ z0 i0 G79 06工艺中M1最小宽度0.8,如果用0.8的M1拐线,虽然diva的drc不报错,但DRACULE的drc会在拐角处报错.要在拐角处加宽金属线.- W$ T; s7 R. ^% |3 D. _
80 最后DRACULA的lvs通过,但是drc没有过,每次改正drc错误前可把layout图存成layout1,再改正.以免改错影响lvs不通过,旧版图也被保存下来了.
- }) u- A* h8 P' _" j- B81 Cell中间的连线尽量在低层cell中连完,不要放在高层cell中连,特别不要在最高层cell中连,因为最高层cell的布局经常会改动,走线容易因为cell的移动变得混乱./ ?% n/ X5 B! d# {3 a. ^$ O( B! D
82 DRACULA的drc无法检查出pad必须满足pad到与pad无关的物体间距为10这一规则.; J4 t, ]  S% D" S
83 做DRACULA检查时开两个窗口,一个用于lvs,一个用于drc.可同时进行,节省时间.
; I7 q' ^3 h; Q. u+ o  W容易犯的错误
1 j* U% {4 f6 n2 R& |( ]+ X84 电阻忘记加dummy8 v  S: ?: d9 ~$ F6 i9 I
85 使用NS功能后没有复原(选取AS),之后又进行整图移动操作,结果被NS的元件没有移动,图形被破坏.
# I) J# _. g' N7 |86 使用strech功能时错选.每次操作时注意看图左下角提示.2 [; j+ A% v3 k. Z* c
87 Op电路中输入放大端的管子的衬底不接vddb/vddx.' u4 K6 q. ^# p+ j# p
88 是否按下capslock键后没有还原就操作2 }3 U( H$ ^8 o
节省面积的途径) t8 N! E1 g& i6 S) y; ~/ u! E1 f
89 电源线下面可以画有器件.节省面积." t$ _2 e" X0 l2 [
90 电阻上面可以走线,画电阻的区域可以充分利用。' Z3 M4 r- ?" L+ b  Q* k6 Z
91 电阻的长度画越长越省面积。& k& K7 A- c7 v0 R2 m( _
92 走线时金属线宽走最小可以节省面积.并不需要走孔的宽度.& u6 J0 Z' X8 ]* O
93 做新版本的layout图时,旧图保存,不要改动或删除。减小面积时如果低层CELL的线有与外层CELL相连,可以从更改连线入手,减小走线面积。6 t0 ^( h  z. `, G/ j  a% C* o
94 版图中面积被device,device的间隔和走线空间分割。减小面积一般从走线空间入手,更改FLOORPLAN
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