CP 與FT 在作比較要注意什麼

Feng0730

小弟目前再IC廠做測試 因沒什麼CP經驗,事後發現CP與FT差異很大,和小弟所想有些差異,想請教有經驗的人要注意什麼?
6 n, x$ F: u9 Q, x, y' e- l目前CP與FT同一個程式 只差負載不一樣?
+ J' C( I$ }* M6 v) b3 i( N請問各位有經驗的大大指導一下!!^^

Feng0730

謝謝樓上的大大!!
& Z9 p  k( a' ~# k3 a你可能誤會我的意思!!
你所說的CP yield spec會比較鬆這是一定的
: _( [7 B) g. g3 {& X* s我所謂CP 和 FT 程式一樣是指測試方式 , 當然SPEC有變動過 ,考慮到探針所能承受的電流而改變負載也有只是不知為何差異還是很大?
9 v' H5 j* t2 i4 `! y9 i, [不知有無相關網站可參考 ?請好心的大大指導一下