站在另ㄧ個觀點與各位討論,cp是用探針,探針所能承受的電流不大,他雖然是鎢鋼製品,但是由於過小,太大的電流會讓他碳化,進而產生阻值,所測出來的function就會不準,同時也因為炭化快,清針次數增加,針的壽命會減點,良率也不會好,而f/t則是因為是contact leadframe腳位,用的是fingers contact,面積大,因此不會有這樣的問題,大部分c/p項目,f/t都有,有些特殊項目會在c/p測,而不會在f/t測,因為wafer上有其他小小的function pad,而f/t所測的的只是將打線部份接出來的 function 加以測試,有些 bug 還需要開蓋去點 function pad才量的到真正所需要的資訊,因此c/p的range是比f/t大,但項目可能會比f/t多,看不同產品會有不同定義!
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發表於 2008-10-22 13:06:36
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