Tektronix 亞太區創新論壇本週開跑

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Tektronix 和高速串列技術的領導廠商，

與首爾、台北、上海及深圳的工程師分享專業知識

2008 年 8 月 25 日，台北訊
. `( {* d0 O. C* ?– 全球測試、量測與監控儀器的領導廠商 Tektronix, Inc.宣布，自 2008 年 8 月份起，將於每季在亞太地區的幾個城市舉辦一系列的創新論壇。首次登場的論壇主題，著重於 HDMI 和 DisplayPort 串列資料技術。Tektronix 創新論壇為 Tektronix 和領先業界的夥伴，針對新數位世界的最新設計和測試技術及應用，提供了一個分享深入見解的園地。

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成立創新論壇的目的，在於促使更有效和更有意義的對話，讓與會的電子工程師和管理人員，有機會和業界領導者及同儕切磋琢磨，以瞭解最新的技術發展趨勢，並觀摩因應其設計與測試挑戰的尖端解決方案示範。

課程時間 課程內容 講 師 13:00 ~13:30 報 到 13:30 ~13:35 致歡迎辭 Davis Chen 13:35 ~ 14:35 HDMI Market, Technology Standard Trend Update Jeff Park- HDMI LLC 14:35 ~ 14:50 休息時間 14:50 ~ 15:50 Tektronix HDMI CTS1.3c Compliance Test Updat U N Vasudev- Tektronix 15:50 ~ 16:05 休息時間 16:05~ 17:00 DisplayPort Compliance Test Update Sarah Boen- Tektronix

課程簡介 HDMI Licensing 將於課程內發表最新市場更新及包括影響 HDMI 製造業社群的主題 HDMI 應用解決方案 DisplayPort 應用解決方案

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行業領先解決方案支持高速串行、嵌入式系統、RF和視頻領域新興技術的設計創新
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8 D1 J) n5 u" ^, f  H【2010 年 10 月 18 日 台 北 訊】– 全球領導示波器製造商 Tektronix 今日宣布，Tektronix 2010年秋季創新論壇將於10月19日至11月初，在大中華區八個城市舉行。這些城市包括：洛陽、北京、西安、成都、武漢、南京、台北和新竹。在本次半年一度的技術盛會期間，Tektronix公司專家將全面介紹在高速串行、嵌入式系統、RF和視頻等領域的最新技術和市場狀況，同時展示Tektronix公司最新的測試解決方案。各城市論壇詳細日程和註冊方式可參考：www.tek.com.tw/TIF。

9 m; G& n8 y3 G5 H: D2 rTektronix 2010年秋季創新論壇為設計工程師和專業技術人員提供了難得的機會，使工程師們能與專家面對面諮詢，並深入了解數位量測、數位射頻、信號完整性、系統除錯等測試技術及最近的市場挑戰。論壇將在北京、台北與新竹安排一整天活動，其他城市則是安排半天的課程。Tektronix技術專家將發表主題演講，並由當地工程師現場展示測試方法。與會者將參與探討用於設計、開發和部署下一代應用的最新測試測量解決方案，並參觀現場的攤位展示。

  {' G, Z. l# }* r. [5 h1 `在本次盛會上，Tektronix還將向工程師和客戶介紹最新推出的新款系列產品，包括：TLA6000系列邏輯分析儀，這款產品具有嵌入式系統設計人員所需的高階測試和分析的性能功能，且價位更具吸引力；此外，業內用途最為廣泛的信號產生解決方案AWG7000/5000 C系列任意波形發生器，其波形產生時間比舊款的測試儀器縮短45%。同時，本次秋季論壇也是Tektronix在4月收購SyntheSys Research之後，首次於中國二級城市展示其強大的BERTScope解決方案。獲獎的BERTScope顯著提升了Tektronix在計算、量測和通訊業的高速信號完整性測試能力。
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“我們已步入日新月異的數字時代。作為測試測量行業領先的供應商，Tektronix致力於提供尖端解決方案，幫助客戶在這一充滿挑戰的新興技術市場中保持領先成功”， Tektronix公司大中區市場總監王中元先生指出，“對於那些正迫切尋找既經濟又高效的測試解決方案以應對設計挑戰、加快產品開發速度的工程師，Tektronix創新論壇為其提供了一個最佳平台。”

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2010年Tektronix秋季創新論壇將在大中華區以下城市舉行：

10月19日–洛陽、台北

10月20日–新竹

10月22日–北京

10月26日–西安

10月28日–成都

11月02日–武漢

11月04日–南京

課程安排

台北站將提供全天課程（包含午餐）：

Time	Topic	Speaker
9:00 - 9:50	New Requirements for Moving from PCI Express 2.0 to 3.0	Sarah Boen + Allen Wang
9:50 - 10:10	Break
10:10 - 11:00	USB 3.0 Test Methods beyond Compliance	Sarah Boen + Allen Wang
11:00 - 11:20	Break
11:20 - 12:10	Server Class Storage: Mainstream 6G testing needs and preparing for the 12G transition	Sarah Boen
12:10 - 13:30	Lunch Break
13:30 - 14:20	SDLA and Fastest Standards	Pavel Zivny
14:20 - 14:40	Break
14:40 - 15:30	Power, Embedded and Logic Analyzer	Stephen Wu
15:30 - 15:50	Break
15:50 - 16:40	Technology and Tools for Loudness Measurement	William Wu

歡迎您參加Tektronix 2010年秋季創新論壇，與工程師們一起共襄盛舉，活動詳情請參考www.tek.com.tw/TIF。