逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
. l! O/ V0 U3 i; b0 S         截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
! J# f- u# m+ H3 P         本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
5 k5 D" Z, R# k********************************************************************
主辦單位：經濟部標準檢驗局
. G/ q" i  y& d4 q" r+ z" Z1 }承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
3 D3 a2 W9 w( h2 L2 @1 g% i$ C. a, q97年11月03日 (星期一)
時     間        活 動 內 容
8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
, t! Y- U, d' b1 y; t  m9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
) B5 N& z( F- g" \1 i, s5 \1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
, B* a) i& z' s; C3 n- Noise measurement procedure
" \" ]8 n$ m* c' d6 `3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
- Shielding
, E; j+ y3 L. d3 E- PCB Layout
( c( i9 Y7 ]7 O8 Z: u, \" I4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
3 ?0 }7 V! ]$ E) C2 ]% y- Measurements for Signal Integrity
, x/ R, \; L- f8 Z( w3 c- Multi-Gigabit transmission over backplane systems


97年11月04日 (星期二)

: u% p# ?  g2 G9 V, \" `- {4 m9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
電磁模擬範例分析
. B5 @7 ?, `5 S, ]( k6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
•        WBFC Modeling and Simulation
•        MP Modeling and Simulation
% V( ^  y: j8 w$ d: D( ]" R& v! F- r•        TEM Cell Modeling and Simulation
- General Noise Characteristics
- Power Noise Study
! D- J7 d; r! J: J! O0 ~4 s- Signal Noise and SI Study
# [2 F6 {, ?# V% o# g0 F�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
5 G1 ]; R- z/ s5 Y$ T+ x( b�        Trace near the Card Edge
7. Trend of EMC issues on chip-level
8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
0 M& ?' m# h: }3 r, q1 U- H1 \" C內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
$ I0 r* E# x0 m( Z- s11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
•        New Challenges in Modeling and Measurements
1 f6 L( a6 {9 D& i# x•        Loss Mechanisms and Their Significance
" q5 T6 l8 z5 d( T$ x1 c•        Limitations of Present Methodologies
: S3 u2 ^* k3 `/ T7 z' Y•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
•        Production-level Process Integrity Monitoring
13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
9 X+ j+ G! M* y, K$ z+ L給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
: x. l4 N8 L' m- F$ B0 B
至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

好方法
, u6 s- j7 K/ z
! v: ~7 w  K+ E: \+ C: {( o可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？

1． 上升時間和信號完整性
* M& W) }5 r& r5 J1 ~% K2． 傳輸線的種類
3． 反射產生原因
) [* O5 x1 }+ ]( {( J5 u) a6 F& k4． 如何消除反射
# U5 g: S& L- U4 X. q) p! t5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
7． 電源/地噪音的種類
5 i6 L, a: M+ h5 m8． 電源/地噪音的副作用
9． 如何消除電源/地噪音
10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！