請教兩個關于ESD的問題

hvpower

第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？
- Q! C& U* w" z: K第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試

andyjackcao

原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表
第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？
第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...

3 t9 M( ?6 X" A
我是这样理解的：
- g6 Z' j" |4 E; \  C" Z" u第一個：输出PAD也要做ESD保护，否则这个NMOS管也容易损坏
+ z$ e. \' _& x0 _$ Z第二個：这是根据ESD测试标准来测试的，引脚由我们提供，测试公司只负责测试；
        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了，不需要每个都测试；

alai

进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电，测试时，任意两个引脚之间都应该进行放电测试，每次放电检测都有正负两种极性，所以对I╱O引脚会进行以下六种测试：
7 `' d% @% o& `! E& H' C; W4 k- {1) PS模式：VSS接地，引脚施加正的ESD电压，对VSS放电，其余引脚悬空；
7 y' f8 }8 r. R+ |# T  @5 E+ b2) NS模式：VSS接地，引脚施加负的ESD电压，对VSS放电，其余引脚悬空；
3) PD模式：VDD接地，引脚施加正的ESD电压，对VDD放电，其余引脚悬空；
6 p: g" H  }2 E6 q* T1 `4) ND模式：VDD接地，引脚施加负的ESD电压，对VDD放电，其余引脚悬空；
4 i# A+ N6 h* W8 i$ `% ]+ H% t5) 引脚对引脚正向模式：引脚施加正的ESD电压，其余所有I╱O引脚一起接地，VDD和VSS引脚悬空；
2 q6 n5 R% e! y6) 引脚对引脚反向模式：引脚施加负的：ESD电压，其余所有I╱O引脚一起接地，VDD和VSS引脚悬空。
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试
+ h; x- o) _7 s* q! h+ b
应该是one by one 的测试，管脚多的话，排列组合就多，很费时的。

winter_dm

第二个：ESD测试都是有参考引脚的，也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的，而是相对于某个引脚的ESD电压，通常是对电源和地。因此，ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型，如HBM,CDM等

hvpower

THANK YOU  ABOVE  

csleea

It must be tested one by one.  Or you may miss something?

wesleysung

1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路
" T  T1 B6 f- J: }2.每隻針腳都要測試　一根一根來你可以看JEDEC standard　

xiangxianga396

回復 7# wesleysung

0 `% C* t" Y' U/ k' P2 v% M第一個： 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊？
! i) _" g/ }9 f4 R
每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护，无论是input,output,power pad.

第二個：工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。

只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。
每一个power pad VS. 每一个power pad;
每一个I/O pad VS. 每一个power pad;
* W6 w4 D2 D. z' `5 C0 u每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad

tacopippen

看了這些文章
, P: u: {/ C1 h) B對esd protection又有進一步的認識了

wangdali163

每测一次，都要换新的IC吗？