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面對RF的技術難題其實有"預算"都好解決
恩, Chip designer不喜歡Labview是因為好不容易等到test chip回家了, 用上手的通用型儀器比較快4 ?& S$ e$ V" J# ~: |
Labview還要寫寫修修, 等不及了.$ a( T- p% B" V( x- o2 y+ g0 w+ c
3 p. i$ W9 y6 X通常Semiconductor test engineer用的是ATE (Automatic Test Equipment 半導體自動測試機) 的專用( _8 ~5 U% w* j, N( N2 g
控制語言 (一般是以C/C++為基礎, 近來也有Teradyne改用VB, Credence改用Java), 求的是執行效率% }. W# b k( W; X
以降低IC測試成本, 一般ATE內的儀器界面也不是很常見: VXI 或 自訂特殊規格, 求的是data throughtput4 x" j- X# q x' W% q& d
最大化, 以降低test time overhead.3 x# @9 d- N. }- W# i! f
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Labview比較常見的應用經常是系統組裝後的整機測試, 透過GPIB, RS232 or Ethernet (LXI) 控制各通用
( `$ v" @0 Y1 f8 e `- u! r. M$ G2 ~# D儀器的啟動順序, test burst launch, go/ no go display, 因為由不懂電子的作業員操作, 所以會在PC host
! g: R9 z/ H V6 b4 W0 q$ e1 X上寫一個簡單的user interface: 開始start buttom, 結果視窗go/ no go diaply.& E. o: R0 M- [" Z0 L
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而Labview另一個大應用: 工業控制, 因為個人不大熟台灣的整合設備製造商生態, 所以就不便評論了." [( o) c1 ^8 P* z, d
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" I: k& W) f& d9 w! u- S至於樓主說的RF的digital modulation不斷日新月異, system測試工程師的挑戰不在於技術面, 而在於預算
& b7 B+ a2 g2 r# ?8 F6 ]* T- i因為在再新的RF modulation scheme, 到了台灣時也差不多有一段時日了, 各大儀器供應商早已有了
) {+ r4 d& d$ E% g. K g, Usolution, 有的是在舊儀器上加HW or SW option, 有的是直接推整台新的set, 這時只有請vendor demo後,8 w9 u6 G- [' L) K4 J3 [$ c
向老闆提預算買solution的事要做了.
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% N, g8 J3 y" M- @4 A" y" {而IC test engineer要做的也不多, 反正把chip切割成digital, mixed-signal, RF三大塊後, 各把各sub system
/ k7 s& ]. R0 R- T! c; k0 ?測試完畢就了事了, 沒人教你硬要用RF in/ RF out抓data測system prformance, semicondutor testing的$ l" D. ]# J0 X0 u* W0 k8 f
真義是把fault chip screen掉, 不是照datasheet item by item verify IC, 反正抓大學教授是否酒駕, 不用叫他
* F( u) p r+ b& v `/ S! \2 _2 H解一段傅立葉級數, 叫他順著直線走一段路就知道了. |
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