KEITHLEY最新SOURCEMETER®儀器平台
1 m$ ^. O- s: W+ Y- q9 Z" V0 [提供業界最快最簡易的I-V特性分析0 |* [! {+ \1 ]4 Y( m
1 q4 D: ]6 _9 J. C台北訊 – 2008年10月6日 – 新興量測方案領導廠商美商吉時利儀器公司(Keithley Instruments; NYSE:KEI)發表2600A System SourceMeter® 系列產品。新產品操作簡單,且具備卓越的量測效能及彈性,能協助使用者加快上市時程、減低測試成本、並簡化高品質量測的作業流程。欲進一步了解2600A系列System SourceMeter的詳細資訊,請瀏覽:
https://admin.acrobat.com/_a16893448/p81871518/。
& l I7 Z1 {0 s `+ `
0 X5 I& y$ V1 Y7 p7 s( u0 m5 ~2600A系列是Keithley備受肯定SourceMeter平台的最新版本。這款經驗證的平台將精確電源供應器、純電流源、數位電表、任意波型產生器、具量測能力的電壓或電流脈衝產生器、電子負載、以及觸發控制─全部整合在單一儀器中。
* X; ^& m2 C5 ?6 D U2600A系列在硬體和軟體上都有了改善,不僅支援桌上型的單通道測試;也支援多通道的測試系統:
: Y8 V/ c8 o4 ]1 T) A% t
.領先業界的最快測試速度以及採樣速率
9 k7 j* H+ Q+ H2 Q8 S+ H! y.幾乎無上限的通道擴充能力
5 P" B# k3 Q( ], _, _0 z6 W.先進的平行測試能力
: Y- Y- q3 _$ J3 Z
.獨特的A/D 轉換技術,提供快速而精確的量測;系統處理不同作業時不需輪流使用同一個A/D轉換器,大大提升量測效率。
7 O' W0 i1 @, J1 i+ c) _
.簡便的操作方式─使用者透過內建的免費TSP® Express軟體,能夠快速且輕易地執行一般I-V測試,而不需事先撰寫程式或安裝軟體。
6 o+ b) x( L# g9 M.符合LXI Class C標準,能夠快速且具成本效益地連結網路與儀器本身。
' B: }: G# \% w- g" _
; d+ Y/ B5 u% z, c8 M% q2 l* WKeithley提供的解決方案涵蓋各種可能需求:從桌上型的I-V測試/特性分析系統、快速生產環境中的I-V測試系統、一直到多通道半導體特性分析系統。
% r. h' x7 i" f
& H: E. R \) _& ^7 V( t' H- b7 DKeithley 2600A系列產品具備測試腳本處理器(TSP®)以及TSP-Link® 技術。藉由測試腳本處理器,儀器本身將能包辦完整的測試程序,包括複雜的決策制定,不須把數據傳回PC。因此,能消除因GPIB傳輸壅塞所產生的延遲,整體測試時間也大幅縮短,為使用者帶來真正「智慧型儀器」的優勢。
, w5 G0 K, I& D2 r M
5 y3 h# I4 F3 F5 xTSP-Link是Keithley的擴充匯流排,讓使用者藉著連結多部SourceMeter儀器,為測試系統擴增通道,並緊密整合為一多通道系統。由此可見,使用者具備足夠的彈性擴充系統,即能降低測試成本、同時滿足通道數量的需求。
( |# L2 a' R* [$ q7 M m1 K+ G- T* L& Q! L3 G+ X3 Q$ S4 ?
超快的測試速度及測試彈性 0 U" e/ A) ]9 e9 f/ Y$ a
雙通道2600A系列提供極精巧的半機架2U尺寸規格。為支援各種自動化測試應用,更提供業界最高的SMU機架密度。其動力來源是一個新型數位量測引擎,協助大幅提升量測效能:
8 r- w F- ^* L: i) z) c: n6 Y
.每秒讀取速度高達20,000讀值,能測出許多速度較慢儀器無法測得的元件效能參數。
) q2 i1 C* N. j$ y* [2 d+ a.電子隔離通道(Electrically isolated channel),協助使用者結合多個通道以擴充I-V範圍,進而超越單通道儀器提供測試的範圍。
7 v) `1 a( a/ q1 X2 T; o.較先前推出的SourceMeter儀器,時間精確性提高400倍, 0.5微秒μs內即可完成通道間同步化,同時更緊密掌握測試條件。
5 _; ]8 D6 L3 E$ M8 m# Q8 L6 A5 x.支援高達50微法拉μF的電容的元件測試。
( e2 Z+ M& v" F
.提供平行測試功能,能同時執行32項測試(最高達64通道);所有SMU通道都能同步,或非同步地在系統中對任何通道數量,執行相同或不同的測試。
: R c7 A+ g& C; N6 W: x1 V4 F
. 改良後的雜訊輸出性能,避免敏感元件受損
4 w2 Z' i- ~, z
2600系列SourceMeter的使用者將對新型產品的測試速度和儀器能力刮目相看。在不必變更程式的前提下,一個典型的BJT測試項目,搭配新型2600A系列將能提高測試速度約24%。
0 H+ L8 Q* p) _3 K! y9 P! I; J# u% X8 D
簡化桌上型應用的操作程序
/ y! B* E9 r6 Y2 l從各種角度評估,2600A系列皆能稱職地扮演測試工程師的「個人參數測試器(personal parametric tester)」。除了2600A系列成功改良的硬體效能外,Keithley在軟體工具方面也有類似的提升,使其同樣能在實驗室裡,單獨拿來進行各種桌上型測試應用。
: \. w. j8 W7 z3 H! D搭配2600A系列的新款TSP Express軟體,Keithley為其強大的測試腳本處理技術增值─TSP Express嵌入式軟體加快使用者從開始量測到獲得實際數據的過程。就執行一般I-V測試而言,使用者僅須透過一系列的下拉式選單設定各項測試參數,TSP Express 就會立即產生數十或數百個程式碼以執行測試。結合速度及簡易使用的雙重優勢,協助工程師更輕易的進行測試工作。
. p! i+ S. i! k) o- J4 Y. ^2600A系列甚至配備一個USB介面,協助使用者更輕易地在不同儀器與PC間分享測試腳本與數據資料。
$ o0 _) Q/ x5 q5 Q+ Q
詳細資訊
, J, o; |8 i9 z1 s ^
有關Keithley各款射頻測試產品的資訊,請瀏覽:
http://www.keithley.com/rf