|
寬廣動態範圍能因應更廣泛的應用
8 _/ i; l! e- r2 M9 v+ i- k& D" Q; Z T# t9 j" T
透過TSP-Link並連兩台2651A,可將系統的電流範圍從50A提昇到100A。這比競爭者的最佳方案高出兩倍半到五倍。兩台串聯時,電壓範圍從40V提高到80V。包含於全系列2600A系列儀器中的嵌入式測試腳本處理器(TSP®)讓使用者將多個單元整合作為單台儀器使用,進而簡化測試運作。2651A的內建觸發控制器能夠讓所有連接的通道在500奈秒內同步運作;2651A的這些能力提供業界所需最寬廣的的動態範圍,適合於各種大電流、大功率的測試應用,包括: . R" h' `& h; q7 U; Y: z
7 L9 y: D! ~, L( H2 U! d功率半導體、高亮度LED(HBLED)與光元件特性分析和測試
9 g! w0 k- B W+ r& u8 nGaN、SiC及其它複合材料和元件的特性分析
3 z/ ^, \2 r% \, d6 d' q$ o半導體介面溫度特性分析
' U! @, {5 z8 \- T: Y7 ^3 \4 w8 i可靠度測試 9 x8 U3 h# l2 o8 ^0 b
高速、高精度數位化
# j) E. z# F: z6 p1 V" T2 a4 @5 g電致遷移現象(Electromigration)研究 |
|