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愛德萬測試購併Credence System Europe 產品線含 記憶體、LCD Driver IC、SoC到類比IC 9 m$ A0 s, B+ I
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【新竹訊】愛德萬測試公司近日完成購併設備商Credence System (Europe), Credence主要產品為SZ System,應用於車用IC及Power IC量測,客戶涵蓋ST、Bosch、TI Maxim、Toyota、Renesas、NEC、Toshiba等知名廠商。愛德萬擴大產品線,由記憶體、LCD Driver IC、SoC到更利基性的類比IC市場。* S- i- }# _7 {( G1 {' }9 d" E% @: }
* {( M& p3 E1 }' g2 ^2 A7 H. v" {為因應下一代超高速的DDR3-SDRAM記憶體的測試挑戰,愛德萬推出T5503記憶體測試系統,T5503不但擁有業界最高的並行同測能力高達128 devices,其超高產能的測試技術支援,為DDR3-SDRAM 提供低成本的測試解決方案。
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" J3 M1 l' D1 u3 Y" vT5503搭配了愛德萬測試獨特的multi-strobe技術,功能上進一步加強,可使用multi-strobe技術支援同源同步測試,在每一個時序週期量測從設備輸出的數據和參考時序信號之間的相位差,提供高速、高精確度的測試。' t2 {5 ?8 u+ |" o" w
: d! x0 n9 G/ h2 l" }* R# c另外,愛德萬新T6373 LCD驅動IC測試系統,已接獲訂單並出貨給主要IC設計客戶。T6373有多達512 channels的I/O數位信號輸入/輸出,和3072 channels LCD pin,提供並列同測的功能可一次多達32個devices ,在可同時進行4個device測試下,以大型液晶電視中常用的684-pin和720-pin驅動IC為例,可增加兩倍測試產能。
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愛德萬近年積極投入SoC ATE市場,以高彈性、模組化設計的T2000系列為代表機種,全力滿足客戶在3C應用產品上的測試需求。目標是提供模組化的ATE,涵蓋高、中、低階的IC測試需求,開放式的設計,可解決客戶設備投資ROI與機台壽命問題。近期,又發表新架構的混頻測試模組,與業界最先進的RF測試模組,使類比測試表現更上一層樓,陸續獲得國際IDM大廠、IC設計和國內Foundry測試廠採用。 |
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