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[市場探討] 愛德萬提供最佳SoC測試解決方案

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發表於 2008-6-6 07:26:48 | 顯示全部樓層

因應超高速DDR3 - SDRAM記憶體 愛德萬推出新T5503測試機台方案


1 B# b) W" _  D* lT5503是專門設計來解決下一代超高速的DDR3-SDRAM記憶體的測試挑戰,滿足DDR3-SDRAM需要的低成本測試解決方案。
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半導體測試設備龍頭愛德萬測試於近日宣布推出其新的T5503記憶體測試系統,其擁有業界最高的並行同測能力高達128 devices,提供超高產能的測試技術支援。T5503是專門設計來解決下一代超高速的DDR3-SDRAM記憶體的測試挑戰,為DDR3-SDRAM需要的低成本測試解決方案。T5503機台已在6月3日至5日於日本東京國際論壇舉辦的“愛德萬測試2008年展覽會”中陳列。3 j0 e7 k  ^2 x! ]; Y! t: M1 O+ e
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由於電腦所使用的主要記憶體正持續在新一代產品中演進,記憶體容量與效能不斷因市場需求增加,消費者要求更快的處理速度與更多功能,使得新產品如個人電腦、數位電視、遊戲機不斷的升級,可做出逼真華麗的視覺效果。因此超高速記憶體裝置DDR3-SDRAM被運用在次世代產品的需求將大量的增加,以提高記憶體容量、提升效能。 ! b- Q/ \* e. X8 h. R- W

( k( d/ S: C6 S2 G9 c0 J3 }% [新一代的DDR3-SDRAM擁有低功耗,DDR3的記憶體電壓由DDR2時代的1.8伏特降低到DDR3的1.5伏特,亦有較高的速度和較高的數據處理量。由於擁有這些優勢,預料DDR3-SDRAM在桌上型電腦、筆記型電腦和數位消費性電子產品等廣泛的各種領域的應用上將造成趨勢。因此,在IC製造商之間的價格競爭將更為激烈,使提供更低的測試成本解決方案更為必要。
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新推出的T5503提高了愛德萬測試在的半導體測試設立市場的領導地位,提供先進的技術解決方案,滿足其全球客戶的下一代測試的需求。T5503擁有高達128的DDR3-SDRAM器件同時進行測試的能力。這是舊機型的兩倍產能,可大量減少測試成本。此外,與最高測試速度為3.2Gbps和數據傳輸速度超過1Gbps,這是目前市場上速度最快的,不但可以成為DDR3-SDRAM,理想的解決方案,更可支援GDDR3 and GDDR4高量產測試。$ s2 S: G9 U# u6 v# @* G6 s( R: l
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T5503所使用的半導體電路,充分利用了最新的CMOS製程技術,以達成更大的封裝密度,比以前的型號減少使用面積約40%,在高容量的生產線中最能節省空間。電力消耗也減少了大約45%,更環保省電。
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7 F5 g6 t. X& ~$ g: hT5503也搭配了愛德萬測試獨特的multi-strobe技術,並在功能上更進一步加強。該系統可使用multi-strobe技術支援同源同步測試,在每一個時序週期量測從設備輸出的數據和參考時序信號之間的相位差,提供高速、高精確度的測試。
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發表於 2008-9-17 11:33:11 | 顯示全部樓層
愛德萬測試購併Credence System Europe 產品線含 記憶體、LCD Driver IC、SoC到類比IC 9 m$ A0 s, B+ I
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【新竹訊】愛德萬測試公司近日完成購併設備商Credence System (Europe), Credence主要產品為SZ System,應用於車用IC及Power IC量測,客戶涵蓋ST、Bosch、TI Maxim、Toyota、Renesas、NEC、Toshiba等知名廠商。愛德萬擴大產品線,由記憶體、LCD Driver IC、SoC到更利基性的類比IC市場。* S- i- }# _7 {( G1 {' }9 d" E% @: }

* {( M& p3 E1 }' g2 ^2 A7 H. v" {為因應下一代超高速的DDR3-SDRAM記憶體的測試挑戰,愛德萬推出T5503記憶體測試系統,T5503不但擁有業界最高的並行同測能力高達128 devices,其超高產能的測試技術支援,為DDR3-SDRAM 提供低成本的測試解決方案。
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" J3 M1 l' D1 u3 Y" vT5503搭配了愛德萬測試獨特的multi-strobe技術,功能上進一步加強,可使用multi-strobe技術支援同源同步測試,在每一個時序週期量測從設備輸出的數據和參考時序信號之間的相位差,提供高速、高精確度的測試。' t2 {5 ?8 u+ |" o" w

: d! x0 n9 G/ h2 l" }* R# c另外,愛德萬新T6373 LCD驅動IC測試系統,已接獲訂單並出貨給主要IC設計客戶。T6373有多達512 channels的I/O數位信號輸入/輸出,和3072 channels LCD pin,提供並列同測的功能可一次多達32個devices ,在可同時進行4個device測試下,以大型液晶電視中常用的684-pin和720-pin驅動IC為例,可增加兩倍測試產能。
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愛德萬近年積極投入SoC ATE市場,以高彈性、模組化設計的T2000系列為代表機種,全力滿足客戶在3C應用產品上的測試需求。目標是提供模組化的ATE,涵蓋高、中、低階的IC測試需求,開放式的設計,可解決客戶設備投資ROI與機台壽命問題。近期,又發表新架構的混頻測試模組,與業界最先進的RF測試模組,使類比測試表現更上一層樓,陸續獲得國際IDM大廠、IC設計和國內Foundry測試廠採用。
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發表於 2008-12-22 14:36:24 | 顯示全部樓層

愛德萬連續4年榮獲VLSI最高5顆星評等

愛德萬測試(Advantest)於2008年市場調查機構VLSI的客戶滿意度調查中,榮獲最高5顆星評等,今年總共有80家公司參與調查,愛德萬是11家獲得該評等公司的其中之一,至於連續4年獲得該評等的公司僅有3家,而愛德萬亦為其中之一。
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& }  w# q0 H6 R1 ZVLSI市場調查機構之調查結果,對於客戶在半導體設備供應商的評比上,其意見具有世界性領導地位,而其客戶滿意度調查對象擴及全球,參與率達95%,6大評比類別涵括測試結果品質、產品性能與客戶服務。連同5顆星評等之殊榮,愛德萬今年在測試結果品質、產品性能、技術領先及需求達成項目上亦擁有5顆之評價。愛德萬表示,該公司仍將持續致力於達成高規格的客戶滿意度,亦將繼續提供高品質且超乎客戶期望之測試解決方案。' M4 Q% U$ r) B$ q; J: F+ s( X' X
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愛德萬測試是世界著名的半導體自動測試設備供應商,產品線遍及SoC、 Memory、mixed signal devices和 LCD Driver等IC測試機台及Handler,提供最先進的測試技術及完整解決方案。愛德萬測試於1954年在東京成立,致力於發展全球半導體產業最尖端的測試科技,並在歐美成立分公司;台灣分公司則成立於1989年,目前為台灣最大之IC產品測試設備供應商,在北、中、南各設服務據點,為客戶提供迅捷的技術支援。
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