安捷倫光學調變分析儀新增誤碼率分析功能5 V- f9 Z( O* r9 K# [
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8 ]( F E J% J2 R# m可更清楚洞察40/100G發射器和系統之BER資訊
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! D6 y5 F8 W- ~2 [+ g. q安捷倫科技 (AgilentTechnologies Inc) 日前推出在光學調變分析儀中加入誤碼率 (BER) 功能。% {2 e7 ]& Z! z' M& X L
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在數位傳輸領域中,工程師須深入分析發射器或鏈路之誤碼率 (BER),以確保40/100G系統之最佳傳輸品質。然而,目前用於開關鍵控 (on-off keying) 調變的測試儀器,因缺乏合適的接收器來偵測這類信號,故無法量測先進調變格式的誤碼率。
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相較之下,安捷倫的光學調變分析儀整合了必要的接收器,可計數錯誤,並可即時透過偵測資料計算BER,或是在大量樣本擷取樣式 (large sample number capture modus) 中進行計算。可用假性隨機位元序列 (PRBS),或是使用者自訂模式,當作測試信號。
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如果工程師僅只量測從發射器輸入端到接收器輸出端,這一段光纖鏈路的電子BER,一旦出現BER問題而導致測試失敗時,便無法確定到底是發射器、鏈路本身,或是接收器出了問題。
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[4 U/ n! }( J7 Q0 k x( i5 W3 S當發射器與系統之設計工程師及品質工程師能夠確實量測實體層信號之BER,便可深入洞察是傳輸系統的那一部份導致了BER問題。
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- @7 U. _6 V7 i. X( u' c) ~ 台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「我們的光學調變分析儀提供一個高度彈性的統包 (turn-key) 測試解決方案,可作為根據先進調變模式來開發並描述 40G/100G傳輸系統特性的參考系統。在加入了BER測試功能後,可進一步滿足傳輸系統與元件供應商的科學家、開發工程師和品質工程師的需求,並且彌補了光學調變測試的另一缺口。」! x1 @2 n6 L" q$ T2 C8 X$ e/ Y3 d v
$ `# J% C; ~; b5 T; g: |& v% {BER 測試解決方案的功能包括:& }0 Q0 ?- s' B3 I
- X' N' r8 V+ k% t- W+ jο即時計算 BER,而非推估BER;
+ H( D' \9 W6 I6 |' R3 o# eο支援極化多工 (Polarization Multiplexing) 信號;% H d$ ^" \- [) v n
ο支援偽隨機位元序列 (PRBS) 或使用者自訂模式;6 y C$ w) P3 t7 K, U/ Y
ο可詳細分析0與1的錯誤;以及
: b' z; r, F' l7 @& d ο能夠將 BER 與差錯向量幅度(Error Vector Magnitude, EVM)進行比較。- W0 I, \+ Z d
! s% R6 q W) Y7 w: h2 L% j 全新的BER 測試功能與安捷倫各種調變格式相容,並可搭配使用安捷倫獨特的極化比對演算法 (polarizationalignment algorithm),以支援極化多工信號量測。
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5 U4 a! Z0 _7 I$ y; ~9 Y 有關Agilent N4391A光學調變分析儀的詳細資訊,請上網查詢www.agilent.com/find/oma。欲查看產品的高解析圖片,請至 www.agilent.com/find/oma_images網站。) k' i" N$ e' W5 L% k2 Y2 r
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欲觀看J-BERTN4903B的線上短片,以了解真實信號在增加和減少BER情況下的變化,請上網至www.agilent.com/find/oma_video。+ I7 B6 Q4 t5 H6 i
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