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NI發布2009測試與量測領域的重要趨勢
由於全球金融海嘯再次緊縮各企業的預算,因此測試工程師必須找出更高效率的測試裝置。美商國家儀器(NI)認為軟體定義的儀器控制、平行處理技術,還有無線與半導體測試的新方法,這三大趨勢將會於2009年大幅提升測試與量測系統效率。
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0 r0 o' d2 C: [軟體定義的儀器控制,將是測試與量測作業於2009年最為顯著的趨勢。使用軟體定義儀控的工程師,將達到更高量測效能,並透過如多核心處理與FPGA最新技術,降低整體測試成本,並達到如無線與協定知覺(Protocol-aware)測試的新應用需要。亦由於採用軟體定義儀控,其相關優點更反應於迅速回收投資成本上。 . z) a- W3 G* V* q k! i4 w& [( S
( E( U, p* X2 L& G- |9 S多核心技術已成為自動化測試系統的標準功能,亦為電子裝置處理繁多資料時所必備。軟體定義儀控則利用最新多核心處理器與高速匯流排技術,以產生、擷取、分析,並處理數個Gigabyte資料,用來正確設計並測試電子裝置。測試工程師可透過如LabVIEW的現有平行程式設計環境,跨多個計算核心自動分配多執行緒的應用,以達到最高效能與傳輸率,迅速享有多核心技術優勢。
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/ |3 J1 e1 w- Y7 h8 }除不斷提升技術優勢外,軟體定義的儀器控制,更適用於迅速發展的無線與知覺協定測試領域。透過軟體定義儀器,工程師不需等待新無線標準成熟,即可使用一般模組化硬體元件測試多種標準,並於測試系統中客制所需的無線協定與運算式。
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- K5 A1 X. T% Y) A, `2 R3 J9 b5 c* G這三大趨勢將協助工程師開發更快、更具彈性的自動化測試系統,並降低整體測試成本,更將使全球相關業界了解這些方法與技術的絕對優勢。 |
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