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新思科技設計平台獲台積公司高效能7奈米FinFET Plus製程技術的認證 ...

2018-6-12 03:36 PM| 發佈者: SophieWeng@G| 查看: 158| 評論: 0|來自: 新思科技

摘要: 新思科技設計平台獲台積公司7奈米FinFET Plus製程技術認證,目前已客戶採用於多種設計當中。針對EUV微影感知(lithography-aware)的7奈米FinFET Plus製程,已經過優化的IC Compiler II能減少晶片面積。全平台支援使 ...
新思科技近日宣布,新思科技設計平台(Design Platform)已通過台積公司7奈米FinFET Plus製程技術最新設計規則手冊(Design Rule Manual,DRM)的認證。台積公司的該項認證已經過多次測試晶片投片,及多家客戶正進行生產設計(production design)開發的採用,協助加速實現使用新思設計平台的晶片設計,其中包含各種高效能運算、高密度到低功耗的行動應用(mobile applications)。

這項認證對台積公司極紫外光微影(extreme ultraviolet lithography ,EUV)製程來說是一大里程碑,與非EUV製程節點相較,除了能大幅縮小晶片面積外,還能維持高效能。

新思科技設計平台以Design Compiler® Graphical synthesis以及 IC Compiler™ II 佈局繞線工具為主軸,經優化後能充分利用台積公司7奈米FinFET Plus製程的優勢,實現高效能設計。Design Compiler Graphical syntheis能自動插入通路銅柱(via pillar)結構,以強化效能、避免違反訊號電子遷移(signal electromigration,EM)規則,還能將訊息傳至IC Compiler II,以便進行更進一步的優化。此外,在合成(synthesis)的過程中還能自動運用非預設規則(non-default rules ,NDR),以及執行層級感知(layer-aware)的優化,強化設計的效能。這些優化,包括IC Compiler II 匯流排繞線(bus routing),會在整個佈局繞線的過程中持續進行,以滿足高速網路對延遲匹配(delay-matching)的嚴格要求。

PrimeTime® 時序分析(timing analysis)先進波形傳播(advanced waveform propagation,AWP)與參數晶片內變異(parametric on-chip variation,POCV)技術已經過優化,能因應高效能低電壓運作所面臨的波形失真(waveform distortion)和非高斯分布的變異影響(non-Gaussian variation effect)。此外,PrimeTime的物理感知(physically-aware)簽核經擴充後可支援通路銅柱。

新思科技強化設計平台用以執行實體實作(physical implementation)、寄生元件參數擷取(parasitic extraction)、實體驗證(physical verification)與時序分析,可支援台積公司WoW技術。從最初的裸晶(die)平面圖準備、凸塊(bump)的佈局與配置到晶粒繞線的執行,實體實作流程搭配IC Compiler II能為晶圓堆疊(wafer staking)設計提供全面的支援。IC Validator 會進行DRC/LVS檢查,完成驗證程序,而新思科技的StarRC™工具則會執行寄生元件參數擷取。

台積公司設計基礎架構行銷事業部資深協理Suk Lee表示:「我們與新思科技的持續合作,在7奈米FinFET Plus製程技術的初期便有客戶一同參與,因此得以開發出具差異性的平台解決方案,協助雙方客戶將創新產品快速推向市場。新思科技設計平台通過認證,讓雙方客戶的設計產品得以在我們第一次量產的EUV製程技術中實現。」

新思科技設計事業群行銷暨業務開發副總裁Michael Jackson則表示,我們與台積公司在7奈米FinFET Plus製程的晶圓量產緊密合作,讓客戶能使用具備高度差異化的新思科技設計平台,著手進行日益增大的SoC和多裸晶晶片(multi-die chip)的設計,而通過台積公司7奈米FinFET Plus製程的認證,讓我們的客戶能受惠於先進EUV製程在功耗、效能及面積的精進表現,同時加速差異化商品的上市時程。

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