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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心
+ @  `; T5 X, w) y4 W●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
" J; L  m: H- {" I1 u* _' @2 |" w●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) . t( t8 X- q/ p+ j  M0 B3 `' [" w
●課程費用:5,000(含稅)
1 b7 W" K4 y) ^3 z6 J0 D●報名截止日期:100/12/01(四)
2 u# j7 B5 R6 I7 U●開班人數:10人以上 (最低開班人數)
, L3 r+ K+ X/ h& P●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。
% t& j3 S5 g* z4 Q4 v  |●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
% F6 A$ F* G% g5 q7 c
  G, f: [# l* v2 M■課程目標  h: t. {( q3 l& w8 t& E+ @

* P! M5 o! J: A  {! q0 F本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。! F" t* ^' l. T) D1 M" c
  Y- [) Q( x: ~/ k, Z
■課程大綱& t: Y& T: w! B$ w! k
第一天:12/08(四)9:00~16:00
9 i+ g2 X& y5 S2 b& z- f專利檢索入門與檢索規畫
$ i  z( W* e" y9 J7 U免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
" D( q, l( C4 n: A7 m" q專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則   x3 S/ l( b( G" r7 n' i

* z' Z! L. X2 g, u第二天:12/09(五) 9:00~16:00
3 @$ @$ J" m- T& t3 q* |專利分析可提供之情報 ! |+ v' u# y# m
專利地圖試做範例 ' D, C6 [, ?: E1 e& n# D
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定6 t. t2 W+ E. b+ P) B2 U
*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹7 K- i+ g; B( F/ H; \
吳俊逸 博士" E4 ^3 o% }6 p0 \# W. S: B1 Y/ _
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。 6 b4 m7 p5 ^& z6 X/ ~" f* c( b
現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
% |: @1 u+ a! B3 E% Y: @" m學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 - W' U, z0 T( W8 \) \: A: f
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
4 s- E) t) ~, |: G) ^) J4 x/ s5 [. B5 W: d2 k: L
專長與經驗: ) B( k, J2 q  a
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
# t: [8 e) a* x, l- @9 h 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). 8 ]( Q' ]" \6 h' {, S. `3 K4 N
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
  \" ]4 b* u: b. a( U" i 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). . H; C9 D4 `, b6 H7 w

2 R/ a9 l7 |6 s/ L% [( l  l經歷:
: V, L7 L. N3 T. v6 n  J+ ?2 p& q' _* A) j( o" H8 |3 ?
工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 * M3 d. u5 W9 l( H, K
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理 : A; P) `1 f: u1 N, t3 y
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
7 @/ Z' I3 t2 t2 l2 I; e3 b+ L! I% h) D4 b1 C3 D) ]0 t5 G( o& D( Y
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
; w9 w  Z8 d6 g+ ~" O8 o9 a, D0 l) @& q1 T& u" p" J0 |
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。4 E' }9 y+ E' C+ A

3 R  u6 w6 h1 x0 H4 I訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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