Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 4369|回復: 2
打印 上一主題 下一主題

[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

[複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心
6 Y" G. R1 Y+ W  m●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天 6 K3 p2 l+ ^; B3 `
●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) : m3 `* s  \8 t- Q
●課程費用:5,000(含稅)   F9 L( x) }3 K1 T2 a$ V8 ]$ w% {
●報名截止日期:100/12/01(四)
3 z" p4 i% O' p7 o. F7 G: P●開班人數:10人以上 (最低開班人數) ( A# g0 U' U* ~
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。
8 x! B5 _) M# f  M" t7 _●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
4 x% Y& Z4 g* n, P* L8 `7 j9 J; s2 w) e- [4 A
■課程目標
! C& u3 Y( }3 _( d. Z" A) l, m, r) U1 F" |) b5 g6 t! |7 h- ?# A! K( p
本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。8 [8 m- j' b) o6 f. ~

, k6 o/ a; y& i& v9 H& g■課程大綱6 E9 M; w" u7 M1 D0 w' }
第一天:12/08(四)9:00~16:00 8 d: L4 ]* n$ f8 L+ l
專利檢索入門與檢索規畫
) j( x, H# `. K+ b( T  H1 N3 |免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
# p+ G$ U; U1 j專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 , R/ M8 T! T0 u9 U
# q, ]& v' j: D
第二天:12/09(五) 9:00~16:00   Z9 ?+ V( j( l& H) N. `  E1 [
專利分析可提供之情報 " r+ {4 v0 S$ I! P* V! q: U- L; l2 |
專利地圖試做範例 3 d6 c* ]( j3 f( n! L( e0 {+ J4 a
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
$ B' a& K( H' C# y+ o*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂 踩 分享分享
2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹" F  i1 G  n' k0 W2 w
吳俊逸 博士
7 G6 x" [8 A" g  z2 i+ O( R5 ~在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
  R* V/ ^* S6 N& w現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 ' G& ?" N9 p# A: ~& E2 K
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 * A, |' Q0 B/ A
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
: F5 D6 Y0 ]' [/ V
% e! }9 S7 h% }9 v& C專長與經驗: " z- h1 W: Y% N  q! Q
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
' p6 z4 Z: }, I 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). # `1 }4 Z5 U( y! _# N' N' M
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010). + U4 m. q6 I. v% D( {
 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). ( s. d/ r. Q$ j1 h

$ A; j3 D: Z( {7 {; |經歷: 9 x. b. w5 U& J/ h

5 A& m; o: Y- \) I6 p工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 4 U* A7 e9 r$ B. @
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
8 D. i2 h1 I2 k- \1 L) O國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
0 i/ f5 R" e- \2 k. `$ ~$ L7 e" \+ n8 J
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
+ ~& O9 Y' I3 C. R4 d% O- s) c$ W/ m5 K+ T( P5 F
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。, d* i" I2 d0 K5 h/ i

* u+ T; c/ n) F) H0 @9 o訊息來源:財團法人資訊工業策進會
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-8 06:52 PM , Processed in 0.104006 second(s), 17 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表