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ADC envelope test
有此一說:
+ j' ~- G8 O9 }/ M* [3 }當Fin接近於Fs/2時, ADC sample的電壓slew at full scale, 此時奇數點之間的壓差其實很小 (偶數點亦同), 但是相鄰兩點間的壓差卻很大, 測試上又稱為ADC envelope test, 而在此測試中被引進來的 "beat frequency" 會被視為noise, 使SNR下降.
# S' H( g: U4 a0 ?) T- D, p- \) X" a
也就是說, 若ADC內front end的PGA or buffer Amp slew rate不足, 此缺陷便很容易在此測試中被突顯出來.
# Y5 d' G8 C; m% p' T" x# m$ Y6 K4 e! S! `0 G; }# H" h
就系統面而言, 拉高ADC的AVDD看看有沒有救, (ADC PAD_VDD反而要調低, 除了降EMI外也可拉低系統noise floor).* D: ^$ r8 [9 s3 H. O
# D" ?1 Y. ^" M! i8 q$ |! ?( s[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-12 10:29 PM 編輯 ] |
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