|
ADC envelope test
有此一說:: C4 D M( F" N$ Y
當Fin接近於Fs/2時, ADC sample的電壓slew at full scale, 此時奇數點之間的壓差其實很小 (偶數點亦同), 但是相鄰兩點間的壓差卻很大, 測試上又稱為ADC envelope test, 而在此測試中被引進來的 "beat frequency" 會被視為noise, 使SNR下降.+ y4 l9 y2 a& P `
$ X( z% N4 O9 u5 Z5 L; q也就是說, 若ADC內front end的PGA or buffer Amp slew rate不足, 此缺陷便很容易在此測試中被突顯出來.; V5 B: z- ?) o
: @5 u4 d7 b, _9 \) f. Z8 I) J. T就系統面而言, 拉高ADC的AVDD看看有沒有救, (ADC PAD_VDD反而要調低, 除了降EMI外也可拉低系統noise floor).
% d: @" B/ k( F% W) m
: p% J4 O2 y& e+ k1 E3 W! ]4 Q3 u[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-12 10:29 PM 編輯 ] |
評分
-
查看全部評分
|