DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會 | 通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會 |
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。
$ T6 C; U1 Z( M' I ]5 r | 隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。$ t5 N5 s+ @$ [/ G4 |& Y6 v r& O
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08:30-09:005 x: w1 H E6 ]. q; s0 g" f
| Registration and Welcome
# [1 ~9 M3 g; A/ s/ M6 Z! _* K1 ] | 13:00-13:30
" t) c2 z7 j, S1 w# N3 C | Registration and Welcome7 _0 o1 L. f- }, T- f2 F
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09:00-10:00( d4 C) ]2 f/ F5 x5 E1 B( I
| DDR1/2/3的電氣特性規格要求
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( @$ H+ l: y5 r# p1 i1 E% K4 k8 Q! }) | | 速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰' M" b* e( q4 `% p
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10:00-10:303 D# c3 L( H9 P/ {; B
| DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧4 b: S; O. r7 h: C! F( C8 X2 Q( I* y* E
| 14:30-15:00
X" w; c+ j6 z8 V | USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程
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10:30-10:507 v- L# M3 t' B% F# u
| Break & Product Fair+ O* @7 y" X. p. f2 S: J
| 15:00-15:20
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10:50-12:00
& i/ T* z B; A$ ~2 L3 y1 p | 如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程' m7 ]! G" F& Q) f: ~
| 15:20-16:303 b1 e7 M1 X+ n* V" I
| USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題( x0 \3 A: w$ t- V2 P( t( O+ ^" [2 m
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12:00-13:00
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| 16:30~17:006 J6 O/ o T4 Y. Q5 G8 f5 {! }3 c
| Survey & Lucky Draw
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發表於 2011-9-28 14:29:40
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