10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom

活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

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DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。   p4 E6 {2 n3 F& {7 d		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。
08:30-09:00	Registration and Welcome ; m+ T' x+ X7 d4 q	13:00-13:30 8 ], ^7 h; ~; x" Q& x( J	Registration and Welcome   `; \9 C4 I! B: Y4 `0 D4 i7 T
09:00-10:00	DDR1/2/3的電氣特性規格要求 ; q  X, ~3 l/ J# X2 O3 Q	13:30-14:30 6 k1 h9 E+ V- @- ^8 ]0 j4 D	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰
10:00-10:30 / m5 X1 j2 y+ k6 w) w. Q) H	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧	14:30-15:00 : u1 \- Q4 H- N& }$ M	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程 % X1 E& f3 W* x( |5 ^- Z
10:30-10:50	Break & Product Fair * q' y) m: p. N4 t	15:00-15:20	Break & Product Fair 4 B# Y! E% W% L
10:50-12:00 4 W' j4 P& p4 X! x2 E# Z	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程	15:20-16:30 2 x3 G1 J& Y* |9 ~	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題
12:00-13:00 ( D# D! S, \  t" y% H% A	Lunch	16:30~17:00 . D/ o8 p$ t9 y* L7 h	Survey & Lucky Draw

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