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成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,- v/ P4 `# }9 r+ H0 k
愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能' z9 J/ H" r+ m' J4 v7 h* `- w3 @
力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,2 o: e7 M; A0 j; T* M* Q
乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
" V* T, n8 i% ~. y9 K0 H1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.7 U, c7 p4 i( A+ B, |$ l# n l
2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.2 a4 W7 v/ @6 R
3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.
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7 N f+ D& Z) U. A6 r7 C換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,8 K/ A. s+ z, n+ J' v
但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及! d1 |5 \3 M! j/ }3 ^
高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.8 w* x u# v4 `0 A
# ^' z6 a4 y* E" ~$ s, d, ?0 U另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG
, B* z" V/ b* Y& D3 q1 \及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數2 Y8 j z. X- ?( k8 F; p2 [2 T7 q* b
也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
6 ]8 c4 i# J( ]: {3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".
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愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
! j3 h+ b& J d* ^5 Z6 r彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
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