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[問題求助] supply clamp and I/O clamp ESD

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1#
發表於 2007-8-1 14:36:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
Supply clamp ESD need to  consider both holding and trigger voltage% m  g2 @: D5 @! \
I/O device clamp ESD need to consider only tyigger voltage
+ p2 a: [$ X! H" ?9 Z3 D& C/ J+ i" v- d% n9 u& g. }) O
請問這是為什麼?有誰願意解釋一下- P+ O  E0 K& X5 Z) W3 C. W; W
感激不盡
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2#
發表於 2007-8-1 21:10:40 | 只看該作者
I/O is trigger signal,Vdd node is constact voltage,so consider holding voltage
3#
 樓主| 發表於 2007-8-13 15:26:50 | 只看該作者
謝謝你的解答 總算瞭解囉∼∼; R2 g/ c5 z7 ~7 _- T- ^$ N
再請教一下
0 i9 q9 u1 w. l( x4 p' `假如已經有對VSS與VDD的ESD 保護電路' ^# M' Z  l" N' n
還要需power clamp電路嗎???
4#
發表於 2007-8-22 21:16:59 | 只看該作者
您的意思是否是指,  power pad 已經有保護電路, 是否還需要在一般 I/O Pad7 \& [+ `: @! M2 d! J7 D9 h( i6 N
裡做這個 device??
( I/ m, t/ Y+ H/ |+ X2 `: ?) Q  p# t2 U3 ^& R$ a1 B
曾經問過 foundry 的人, 基本上是能放就放, 不然在這個 mode 發生 ESD 時要' D+ |* s- a3 d. T+ E* r; b0 n' S
全部靠 power pad 的 power clamp 線路來釋放 ESD 效果可能不佳...' F2 k- s3 E3 J% Q4 Q; P0 {
可以看一下 design rule 有沒有提到這段, 有些會規定 chip 單邊每一定的長度
* L& U6 n  D, ~: Rpower clamp device 的 width 累積要有多長...所以一般是除了 power pad 以外,' _- [0 h6 \; `5 C/ Y" M- ^- g+ O
一般 I/O pad 能放都會放, 另外因為 floor plan 產生的縫隙也會儘可能塞這種 device..
) g- a# l: R2 O! b% [4 G1 y7 {; Y0 O6 ~1 Q7 E8 {6 ~* ^2 U8 X
寫了一堆, 不知道是不是您要問的問題...

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參與人數 1 +3 收起 理由
cuban487 + 3 Good answer!

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5#
 樓主| 發表於 2007-8-28 12:08:28 | 只看該作者
foundry 提供的design rule  是有規定power line 多長需搭配一個power clamp device
2 q# {0 o, u* L" h% E( m% P經過你的解釋總算比較清楚~~2 d$ ?% V: Q, o& t* L
感恩~~
6#
發表於 2008-3-13 18:08:06 | 只看該作者
原帖由 ywliaob 於 2007-8-28 12:08 PM 發表
+ h6 C5 d# x$ x' @foundry 提供的design rule  是有規定power line 多長需搭配一個power clamp device
9 G! X% y. U6 y* B& y經過你的解釋總算比較清楚~~
* o2 b. |9 L1 }9 U感恩~~
5 k) |9 l  b4 N9 B8 \+ |9 v# `

8 K# G+ O5 k& z7 Y" a6 c6 S+ j! I8 p/ i6 l1 \
如果fab没有相关的designrule,经验值是多少?
7#
發表於 2008-3-20 21:56:52 | 只看該作者
foundry的guideline基本上是1000um放一個,+ }+ O4 ~% X1 g  r* d
實際上的概念是任何IO對power clamp的metal 阻值小於3 Ohm,
' r& C& u8 c9 n( Z8 |1 J  W/ C而更先進的製程進一步規定需小於1 Ohm.
8#
發表於 2008-4-12 01:10:49 | 只看該作者
請問你們使用哪一種類型的I/O cell設計?
; O1 E9 [+ I2 x" ?+ v# ^/ \5 ^- |
" w: ^2 e+ s/ l1) Local cell (PDIO + NDIO) + RC trigger clamp
( R+ |* N, e- I' R- h) _6 s4 b+ _2) Local cell (GDPMOS + GGNMOS) + RC trigger clamp+ O5 [1 s2 `1 O# V$ p+ C
3) Purely GGNMOS
/ r2 V5 e$ Y- n+ y. \% N4 u
# ~( `& j$ P* w6 F) y7 dFor RC trigger clamp, how much RC do you design? My company needs 4KV HBM.
9#
發表於 2008-9-8 23:15:28 | 只看該作者

回復 8# 的帖子

看是哪一家製程
- Z& `. `. z% A7 B  x: {RC設計大於 100ns 小於 1us 即可
5 J! C. Y6 M, P; p% H  }4 N4kV 的話  NMOS 要化大一些
10#
發表於 2008-10-23 09:54:54 | 只看該作者
原帖由 odim 於 2008-3-20 09:56 PM 發表   H4 @% B3 {  J: `
foundry的guideline基本上是1000um放一個,8 _1 n; |. m% K5 H! |0 g
實際上的概念是任何IO對power clamp的metal 阻值小於3 Ohm,
5 z% |% ?) d; L* Q' ~% Y+ [" O0 k而更先進的製程進一步規定需小於1 Ohm.
" u7 P' {% r( _
  f2 t$ m1 M" }
这个我也听说过,应该是比较好的经验值!不过power clamp的metal 阻值小於3 Ohm,比较难实现!
11#
發表於 2008-10-23 10:00:51 | 只看該作者
原帖由 cthsu1 於 2008-9-8 11:15 PM 發表
9 `8 Y* D% S' B( e3 |  V/ b看是哪一家製程
, B/ |: }$ ~, ~; mRC設計大於 100ns 小於 1us 即可% v2 k% j7 @. ~- j. T  f% @
4kV 的話  NMOS 要化大一些

8 [3 \6 J, }4 g  o( G0.5um process的话,到5KV没问题,0。35um以下4kv可能也可以!……………………
12#
發表於 2008-10-23 12:20:20 | 只看該作者
我現在做的是0.13um,要4kV,而且是multi-power domain,有點困難..." w# v: j" f; u9 g& `1 b3 l
Layout 的要求非常高! 但是永遠實際上是做不到~~~trade-off~~
13#
發表於 2008-10-30 14:55:57 | 只看該作者
0.13um,要4kV?呵呵,有点难,不过论文上说可以到5K∼6K,可以查查看!
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