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ADC envelope test
有此一說:
k4 W! m4 q- z4 J# O8 L# U當Fin接近於Fs/2時, ADC sample的電壓slew at full scale, 此時奇數點之間的壓差其實很小 (偶數點亦同), 但是相鄰兩點間的壓差卻很大, 測試上又稱為ADC envelope test, 而在此測試中被引進來的 "beat frequency" 會被視為noise, 使SNR下降.
+ y) P; J' I6 u$ B0 {7 b' u+ d
" }0 |2 E' L5 v0 {: D$ n% \也就是說, 若ADC內front end的PGA or buffer Amp slew rate不足, 此缺陷便很容易在此測試中被突顯出來.$ V, Q: i& y; B3 E7 A6 z$ K
: J1 l% j7 e% Z, N* h3 U9 w
就系統面而言, 拉高ADC的AVDD看看有沒有救, (ADC PAD_VDD反而要調低, 除了降EMI外也可拉低系統noise floor).
! |" @3 N: f, a# q& k: \6 o8 {) `5 v* W
[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-12 10:29 PM 編輯 ] |
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