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活動網頁 - ni.com/taiwan/sts2010
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半導體晶片設計愈趨複雜,不論是對於 IC 設計公司或封測廠,甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言,都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案,便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。3 B9 z7 l% B0 ~: F; N
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本論壇由美商國家儀器主辦,集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等),針對半導體產業的驗證與測試做深入探討,從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等,提供了各面向的探討與剖析,也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。) p) W2 m" l X3 H2 j* z( X2 M
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活動焦點:
3 E+ O6 ^0 Q' S& _' @" U4 N- [#剖析半導體驗證與測試所面臨的挑戰與未來趨勢
2 ?- L3 Y" W' g! A7 U#學習最新的類比、數位、混合或高頻訊號等測試技術
) l( N+ R M- b#從相容性測試、IC 驗證與特性描述、量產測試到場測,提供完整的講題內容
( \+ C; W7 l4 ^) p! A g8 m#了解最新半導體測試系統展示與業界解決方案
9 x1 W0 h% C& D邀請對象:5 r7 Z: Y# t3 C) Z7 G J
# 有半導體驗證 / 測試 / 訊號量測等相關需求的工程師、主管或經理, C6 j$ g, X y6 ~. {
#IC 設計公司驗證 / 測試工程師
$ s8 U, D8 S& k4 a5 P! [8 p u#IC 測試廠測試研發工程師
- O5 ?1 p+ c. h; E) `#半導體測試系統設計 / 開發工程師( z8 _$ E* G% s; A* k% ^
#ATE 設計 / 開發工程師
8 P$ v- J0 u( w9 n( a* Y- }#模組 / 系統測試研發工程師" W% L+ Z7 ]- _8 |+ E0 G
#RF 測試工程師; w1 F. q' q1 ~% X8 P
#半導體元件 / 晶片 / SOC / SIP 測試工程師
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# y7 N! _' k! l; f( L詳細內容請看活動網頁,共有超過10個session,10家公司以上,超新的主題(RF, mixed-signal, 3D video, USB3.0...)2 Z9 }8 l4 n0 j E+ J U
免費還抽大獎喔!!!!
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- n: i& O& D& ]- t) e有需要半導體訊號量測.驗證.測試.RF平台建立的工程師千萬不能錯過!!!!! |
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