10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom · 發表於 2011-9-28 14:29:40

活動日期

2011-10-13

報名截止日

2011-10-07

人數限制

120人

活動場次

台北

活動地點

維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。 , W. A1 s5 {: a3 S! A		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。 - ~' F5 z0 v P6 Y( k
08:30-09:00, O. }, G' n9 _+ _1 a	Registration and Welcome1 `8 m; c* s& X) o. j; w& T4 }	13:00-13:30 1 r! z1 d) e) g) p9 M+ Q. Q	Registration and Welcome, [( c) S7 V2 f0 w# Y& Q
09:00-10:009 F% t1 P; F7 t	DDR1/2/3的電氣特性規格要求$ [9 A6 y9 n0 `8 u9 g( I# M* K	13:30-14:30 ! Z4 g' o4 T9 o; ~3 f, c2 @( I	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰5 J5 N) z" u* k/ a
10:00-10:30$ l2 R- z. ~) v5 T( C3 x	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧( [: J4 N6 e, V2 y E	14:30-15:00 3 _6 q7 \0 u" q% S	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程 % i* l3 s$ A4 s( l& Y
10:30-10:50- A2 z- @* v1 l2 f5 l" y	Break & Product Fair, q, Q$ Y7 Y; F	15:00-15:20 . T3 f6 h: Y! ^. r0 @	Break & Product Fair5 w/ ]1 g! x v2 ` }% j
10:50-12:002 ]) J& ]. X9 C	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程2 `2 `! Z; V3 t& _2 a	15:20-16:306 b3 [1 D, l' \8 r	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 : c; y, q1 {1 J: o4 s
12:00-13:00 ! I( ?5 ~: \|% T' Q9 b- E2 A: g+ Y	Lunch% I ^5 j1 Q# g8 B	16:30~17:002 [ p: H, j2 [3 Q, m; v$ G	Survey & Lucky Draw( Z/ ]0 u( q/ E' i, x

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